[发明专利]发光器件测试转换夹具

说明书

技术领域

本发明属于宇航用元器件技术领域，特别涉及一种用于发光器件测试转换夹具的设计。

背景技术

电性能测试是宇航用元器件升级筛选试验和可靠性试验必不可少的重要试验内容，而光电类器件的测试有其特殊性，除了电领域的测试还增加了光领域的测试，在测试手段上多采用专用的光电类测试设备。光电类器件在传统上多是采用有引线封装，专用测试设备也是针对有引线封装来设计。

随着我国宇航技术水平的提高，对元器件的轻量化、微小型化和可靠性方面的要求也越来越高。出现了类似NSSL100DT的微小型发光器件，该器件采用表面贴装式封装，器件尺寸只有3X2X1.2mm，体积只是传统同类器件的1/10。

在测试该类微小器件过程中有3大难点：(1)原有专用测试设备的适配器上设计有插孔结构，只适用于有引线封装的发光器件，不适用于表面贴装式发光器件的测试。(2)器件尺寸微小，电极尺寸更小，已超出徒手操作和目测的极限。(3)电极尺寸微小，测试时若采用直接接线的方法容易造成器件电极与测试适配器连接不稳定，从而导致测试数据不准确。

针对以上问题，通过试验验证发明了发光器件测试转换夹具，将表面贴装式封装的发光器件转换为有引线封装，解决了无引线封装发光器件的测试所需，大大提高了效率。

发明内容

本发明的技术解决问题：克服现有技术的不足，提供一种简洁高效的发光器件封装转换的方法。

本发明的技术解决方案是：发光器件测试转换夹具，包括由上至下的旋盖、压紧板、限位板、电气连接板和底座；旋盖与底座螺纹配合，旋紧后带来一定的压紧力，压紧力使发光器件与电极接触更加紧密，减少接触电阻；旋盖上设计有上透光孔以便于光强测试；压紧板用于压紧发光器件，同时避免旋盖在旋转时对发光器件造成摩擦损伤；压紧板上设计有下透光孔；限位板用于放置被测试器件，限位板开有限位槽用于固定器件与接触电极的位置；电气连接板上设计有两个电极接触片，与被测发光器件的电极在压力下形成电气导通，在两个电极接触片上分别引出管脚引线，从而转换为有引线封装形式；在电气连接板上设计有两个定位柱，用于压紧板、限位板与电气连接板三个板的定位。

所述底座内侧设有台阶，台阶高度为被测试发光器件的发光点到光线接收器之间的固定距离。

所述接触电极和定位柱在电气连接板上对称设计。

所述旋盖上设计有防滑滚花，便于徒手旋紧。

本发明与现有技术相比的有益效果是：

1、适用范围广：本发明通过由上至下的旋盖、压紧板、限位板、电气连接板和底座设计，可以根据器件的不同尺寸任意更换限位板，解决表面贴装式封装不同尺寸的发光器件测试所需，可以覆盖宇航型号选用的所有尺寸规格。

2、加工周期短，成本低：本发明的限位板是可以根据器件不同尺寸进行更换的，材料选用PCB板材，加工类型属于平面加工，不需要表面处理，加工成本低，周期仅为3～5天，而通常的机械加工周期则需2个月，无法满足航天用器件多批次、任务周期短的要求。旋盖和底座是通用的，不必再加工。达到了周期短，成本低的目的。

3、本发明电气连接板的设计，解决了表面贴装式封装向有引线封装的转换，使得现有专用测试设备可以继续使用，节省了大量的成本。

附图说明

附图1为发光器件测试转换夹具的示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明做进一步说明。

如图1所示，本发明的发光器件测试转换夹具，包括由上至下的旋盖1、压紧板2、限位板3、电气连接板4和底座5；旋盖1与底座5螺纹配合，旋紧后带来一定的压紧力，压紧力使发光器件与电极接触更加紧密，减少接触电阻；旋盖1上设计有上透光孔6以便于光强测试；压紧板2用于压紧发光器件，同时避免旋盖1在旋转时对发光器件造成摩擦损伤；压紧板2上设计有下透光孔8；限位板3用于放置被测试器件，限位板3开有限位槽9用于固定器件的位置；电气连接板4上设计有两个电极接触片10，与被测发光器件的电极在压力下形成电气导通，在两个电极接触片10上分别引出管脚引线12，从而转换为有引线封装形式；在电气连接板4上设计有两个定位柱11，用于压紧板2、限位板3与电气连接板4三个板的定位。

底座5的内侧设有台阶，台阶高度为被测试发光器件的发光点到光线接收器之间的固定距离。

所述接触电极10和定位柱11在电气连接板4上对称设计。

在所述旋盖1上设计有防滑滚花7，便于徒手旋紧。

本发明的安装方式为：