[发明专利]一种LTE网络下行干扰的分析方法及装置

说明书

本发明提供一种LTE网络下行干扰的分析方法及装置，用以解决现有技术不能全方位、直观地反映LTE无线网络性能的问题。本发明包括：获取网络性能指标KPI数据信息以及归属于待测主小区的终端采集的网络测量报告MR数据信息；根据所述MR数据信息，得到模三干扰强度、重叠覆盖度以及邻区过覆盖度，并根据所述KPI数据信息，得到媒体访问控制MAC层下行误块率；将所述模三干扰强度、所述重叠覆盖度、所述邻区过覆盖度以及所述MAC层下行误块率分别与不同的门限值进行比较分析，得出所述待测主小区的下行干扰源。本发明实施例通过对网络性能指标KPI数据信息和网络测量报告MR数据信息进行分析，全方位、直观地反映出网络的性能。

技术领域

本发明涉及通信应用的技术领域，特别是指一种LTE网络下行干扰的分析方法及装置。

背景技术

针对长期演进LTE网络进行评估和优化，目前主要采用的手段是路测(DT)，针对采样点的信号与干扰加噪声比(SINR)及邻区信号强度进行下行干扰的具体分析。通过路测可以反映出道路上网络的下行干扰情况，可以针对用户投诉区域进行测试，复现问题。但存在下述问题。

1.路测(DT)数据只能反映道路网络情况，不能表征网元整体区域内的下行质量情况。

2.当使用路测复现问题时，不能完全还原问题发生环境。

3.使用路测只能在一定时间和地区内进行测试，无法全天候评估网络质量。

采用路测技术对LTE网络进行评估时，不能全方位、直观地反映LTE网络性能。网络性能数据可以反映出网络各方面的性能，在对网络下行质量分析时，也是重要的数据来源；网络测量报告可以反映用户某个具体时刻的无线环境，网络测量报告中的告警信息可以反映出网络硬件故障，传输故障等信息；网络测量报告中的工程参数可以反映出基站/小区的基本信息，如名称，地理位置等；网络测量报告中的小区参数可以反映出小区的基本网络配置信息，因此MR数据不仅能对网络性能数据(KPI)、路测数据(DT)进行补充，还可以独立评价网络性能，是分析网络结构的必要条件，但现有LTE下行干扰分析技术中很少涉及KPI类数据和MR类数据的分析。

发明内容

本发明的目的在于提供一种LTE网络下行干扰的分析方法及装置，用以解决现有针对LTE无线网络进行下行干扰性能评估的技术不能全方位、直观地反映网络性能的问题。

为了实现上述目的，本发明提供了一种LTE网络下行干扰的分析方法，包括：

获取网络性能指标KPI数据信息以及归属于待测主小区的终端采集的网络测量报告MR数据信息；

根据所述MR数据信息，得到模三干扰强度、重叠覆盖度以及邻区过覆盖度，并根据所述KPI数据信息，得到媒体访问控制MAC层下行误块率；

将所述模三干扰强度、所述重叠覆盖度、所述邻区过覆盖度以及所述MAC层下行误块率分别与不同的门限值进行比较分析，得出所述待测主小区的下行干扰源。

其中，上述LTE网络下行干扰的分析方法，所述MR数据信息包括：所述待测主小区和邻小区的信号强度RSRP、所述待测主小区和所述邻小区的物理小区标识PCI以及所述待测主小区的邻小区个数。

其中，根据所述MR数据信息，得到模三干扰强度的步骤，具体包括：

根据所述待测主小区和所述邻小区的RSRP以及PCI，在所述MR数据信息中获取满足第一预设条件的第一信息数，所述第一预设条件为所述待测主小区的PCI模三等于所述邻小区的PCI模三且所述待测主小区的RSRP与所述邻小区的RSRP的差值小于第一预定阈值；

根据所述待测主小区的RSRP和所述邻小区的RSRP，在所述MR数据信息中获取满足第二预设条件的第二信息数，所述第二预设条件为所述待测主小区的RSRP与所述邻小区的RSRP的差值小于第二预定阈值；