[发明专利]一种基于光学俘获的颗粒粒径检测方法有效
申请号: | 201410685965.9 | 申请日: | 2014-11-25 |
公开(公告)号: | CN104374676A | 公开(公告)日: | 2015-02-25 |
发明(设计)人: | 周金华;李迪;李银妹;钟敏成;王自强 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 杨学明;李新华 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 光学 俘获 颗粒 粒径 检测 方法 | ||
1.一种基于光学俘获的颗粒粒径检测方法,其特征在于:该方法的步骤如下:
步骤(1)、构建一套光镊系统作为检测系统,包括俘获光源、各种透镜、高数值孔径物镜、宽带快速位置敏感探测器、照明灯、位移平台和相机;将激光经过扩束镜扩束后由聚焦透镜将光束耦合进入高数值孔径物镜内,位置敏感探测器放置在照明透镜的后焦面的共轭面上,探测光阱中颗粒的布朗运动信号,样品室放置在位移移动平台上,可以通过平台控制样品室作正弦运动;
步骤(2)、将标准尺寸的颗粒与待测样品混匀用水稀释充满注入样品室,光镊捕获标准尺寸颗粒,通过平台控制样品室做正弦运动,通过位置探测器采集标准微粒在光阱中的布朗运动信号;分析运动信号的功率谱信号,该信号包括受限布朗运动时热噪声的洛仑兹线型分布和受迫运动的尖峰;通过位置探测器采集被捕获颗粒的布朗运动信号,其功率谱P(f)与采用频率f之间满足:
P(f)=Pthermal(f)+Pforce(f),
其中热运动的功率谱为D为颗粒的扩散系数,fc为颗粒在光阱中的特征参数;受迫运动的功率谱为
步骤(3)、用光镊捕获待测样品,重复步骤(2)的检测过程,标定捕获待测粒径时位置敏感探测器器件的电压比例系数β;在光阱激光功率较低时,步骤(2)测量的温度就代表了任意测量光阱中的温度;待测颗粒功率谱信号的同样采用洛仑兹线型拟合含扩散系数项B,则测量半径rmeasure=kBT/(12π3β2B)。
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