[发明专利]一种轴偏斜检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种轴偏斜检测装置，其特征在于，包括定位环和检测头，所述定位环的侧壁上沿径向开设有多个通孔，所述检测头的数量与所述通孔的数量相同，所述检测头一一对应地穿设于所述通孔中，所述各检测头的内测头共圆且与所述定位环的圆心重合，所述各检测头的内测头能够在所述通孔中移动。

2.根据权利要求1所述的轴偏斜检测装置，其特征在于，所述通孔内设有第一螺纹，所述检测头上设有第二螺纹，所述第一螺纹能够与所述第二螺纹相互配合。

3.根据权利要求1所述的轴偏斜检测装置，其特征在于，所述通孔为阶梯孔，所述阶梯孔由外到内依次包括三段并且直径依次递减，所述检测头包括垫片、立柱、弹性部件、压片和内测头，所述垫片的直径等于第一段通孔的直径，所述压片的直径等于所述第二段通孔的直径，所述立柱固定连接于所述垫片，所述弹性部件的内径大于所述立柱的直径，所述弹性部件的外径小于所述第二段通孔的直径，所述内测头的直径等于所述第三段通孔的直径，所述内测头固定连接于所述压片，当所述弹性部件伸长或者压缩时，所述压片在所述第二段通孔内滑动，所述内测头在所述第三段通孔内滑动，通常情况下，所述弹性部件具有预紧力。

4.根据权利要求1所述的轴偏斜检测装置，其特征在于，所述弹性部件是弹簧。

5.根据权利要求1所述的轴偏斜检测装置，其特征在于，还包括数据采集模块、数据运算模块和数据输出模块，

所述数据采集模块用于采集所述各检测头的内测头的位移值；

所述数据运算模块用于根据所述各检测头的内测头位移计算得到所述待测轴中心偏离所述定位环中心的横坐标和纵坐标；

所述数据输出模块用于输出所述待测轴中心偏离所述定位环中心的横坐标和纵坐标。

6.根据权利要求1或5所述的轴偏斜检测装置，其特征在于，所述各检测头的内测头包括头端和尾端，所述头端呈半圆柱状，所述尾端呈立方体，所述半圆柱状的母线平行于所述定位环的轴向，所述半圆柱状的轴向截面的形状与所述立方体的底面形状相同。

7.根据权利要求6所述的轴偏斜检测装置，其特征在于，所述数据运算模块依据如下公式运算：

x₁＝L×sinθ；

y₁＝L×sinδ；

其中，

所述sinθ是根据下列等式计算得到：

tgθ×A＝R/cosθ－R+S；

所述sinδ是根据下列等式计算得到：

tgθ×A＝R/cosδ－R+S；

其中，

x₁，待测轴中心偏离定位环中心的横坐标；

y₁，待测轴中心偏离定位换中心的横坐标；

L，待测轴的长度；

θ，待测轴在X轴截面的偏置角度；

δ，待测轴在Y轴截面的偏置角度；

A，待测轴中心到各检测头内测头的距离；

R，检测头的内测头半圆面的半径；

S，检测头的内测头在应用时的位移。

8.一种轴偏心检测方法，其特征在于，基于权利要求1～7中任一所述的轴偏斜检测装置而实现，包括以下步骤：

步骤1：将待测轴穿过所述定位环的中心；

步骤2：移动所述各检测头，使所述各检测头的内测头抵顶住所述待测轴；

步骤3：根据此时所述各检测头的内测头位移通过计算得到所述待测轴中心偏离所述定位环中心的横坐标和纵坐标。

9.根据权利要求9所述的轴偏心检测方法，其特征在于，所述各检测头的内测头包括头端和尾端，所述头端呈半圆柱状，所述尾端呈立方体，所述半圆柱状的母线平行于所述定位环的轴向，所述半圆柱状的轴向截面的形状与所述立方体的底面形状相同。

10.根据权利要求9所述的轴偏心检测方法，其特征在于，所述待测轴中心偏离所述定位环中心的横坐标和纵坐标的计算公式如下：

x₁＝L×sinθ；

y₁＝L×sinδ；

其中，

所述sinθ是根据下列等式计算得到：

tgθ×A＝R/cosθ－R+S；

所述sinδ是根据下列等式计算得到：

tgθ×A＝R/cosδ－R+S；

其中，

x₁，待测轴中心偏离定位环中心的横坐标；

y₁，待测轴中心偏离定位换中心的横坐标；

L，待测轴的长度；

θ，待测轴在X轴截面的偏置角度；

δ，待测轴在Y轴截面的偏置角度；

A，待测轴中心到各检测头内测头的距离；

R，检测头的内测头半圆面的半径；

S，检测头的内测头在应用时的位移。