[发明专利]基于已知先验信息约束的叠层成像技术在审
申请号: | 201410654564.7 | 申请日: | 2015-08-05 |
公开(公告)号: | CN104501781A | 公开(公告)日: | 2015-08-05 |
发明(设计)人: | 史祎诗;张骏;李拓;王雅丽;高乾坤;陈岳东 | 申请(专利权)人: | 中国科学院大学 |
主分类号: | G01C11/02 | 分类号: | G01C11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100049 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 已知 先验 信息 约束 成像 技术 | ||
1.一种在已知待测样品周围部分先验信息情况下的叠层成像技术,其成像过程包括以下步骤:
第一步,在待测样品周围放置已知信息的样本;
第二步,将待测样品在物平面内以叠层扫描的方式进行平移,并用图像传感器依次记录各扫描位置所对应的强度图像;
第三步,使用基于已知周围先验信息的叠层扫描迭代算法重建待测样品的复振幅图像。
2.如权利要求1中所使用的已知周围先验信息的叠层扫描迭代重建算法,其特征在于,在已知待测样品周围的图像信息的基础上对待测样品进行迭代重建,通过已知信息的约束,使得扫描过程中抗平移误差能力更强,同时也有更好的抗噪声能力。
3.如权利要求1中所使用的已知周围先验信息的叠层扫描迭代重建算法,其特征在于,通过已知信息的约束,使得恢复样本信息图像的收敛速度更快。
4.如权利要求1、2和3中所述的叠层扫描,其特征在于,待测样品在物平面二维坐标内依次平移一定的距离完成扫描,并保证相邻平移位置间待测样品上被光束照明的区域内存在一定的交叠。
5.如权利要求1、2和3中所述的叠层扫描,其特征在于,可以根据实际照明光束和待测样品的相对大小进行优化设计。
6.如权利要求1中所述的已知待测样品周围一部分先验信息情况下的叠层成像技术,可适用于各种反射型或透射型物体的成像。
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