[发明专利]测试治具

说明书

技术领域

本发明关于一种测试治具，特别是一种装设于机柜且用以定量测试推拉滑设于机柜的承载盘的各种情形的测试治具。

背景技术

如服务器的电子设备中，通常会将电子组件设置于承载盘，承载盘再通过滑轨滑设于电子设备的机柜。因此，在电子设备的运作过程中，操作人员能够将承载盘拉出而对电子组件进行维护，并且再将承载盘推回机柜内。

然而，在推拉承载盘的过程中，整个电子设备难免会受到撞击等冲击，而可能导致电子组件的运作发生异常。因此，在电子设备的制造过程中，必须测试在推拉承载盘的情况下，承载盘中的电子组件于受冲击后的运作情形，以确保电子设备的质量可靠度。

对于上述的冲击测试，目前多以人工推拉承载盘的方式进行。但人工推拉承载时所使用的力道有轻有重而无法定量，导致测试的结果无法具有良好的准确度。

发明内容

有鉴于以上的问题，本发明提出一种测试治具，以装设于机柜，并能够定量测试推拉滑设于机柜的承载盘中的电子组件的运作情形。

本发明揭露一种测试治具，用以装设于一机柜且可拆卸地与滑设于机柜的一承载盘连接。测试治具包括一第一支架、一第二支架、一滑轮组件、一线材及一荷重物。第一支架沿着机柜的一宽度方向延伸。第一支架的两端设置于机柜。第二支架沿着机柜的一高度方向延伸。第二支架可沿高度方向调整相对位置地设置于第一支架。滑轮组件设置于第二支架。线材滑设于滑轮组件，且具有一第一端及一第二端。第一端可拆卸地连接于承载盘。荷重物可替换地装设于第二端。

根据本发明的测试治具，能够通过释放荷重物使其受重力作用，并利用滑轮组件改变线材的方向，而模拟推拉承载盘的力道。且通过替换指定重量的荷重物，达到定量化推拉承载盘的力道的需求。因此能够提升测试的准确度。此外，如此的测试治具除了能够协助测试承载盘中的电子组件的运作情形，也能够验证承载盘本身的设计强度，以及验证承载盘与机柜之间的设计强度。另外，通过第二支架可沿高度方向调整相对位置地设置于第一支架，使滑轮组件能够对应于不同尺寸规格的承载盘。

以上关于本发明内容的说明及以下具体实施方式的说明用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的权利要求书更进一步的解释。

附图说明

图1绘示依照本发明的实施例的测试治具使用中的立体图。

图2绘示图1的测试治具的立体分解图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。

以下在具体实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使任何本领域中具通常知识者了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、权利要求书及图式，任何本领域中具通常知识者可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下的实施例进一步详细说明本发明的观点，但非以任何观点限制本发明的范畴。

请参照图1及图2，图1绘示依照本发明的实施例的测试治具1使用中的立体图，图2绘示图1的测试治具1的立体分解图。于本实施例中，测试治具1用以装设于一服务器的一机柜20，且可拆卸地与一承载盘30连接。承载盘30可沿机柜20的一长度方向L以一滑轨21滑设于机柜20。测试治具1包括一第一支架11、一第二支架12、补强支架13、补强夹持件14、一滑轮组件15、补强肋件16、多个固定件171、172、173、174、175、176、177、一线材18及一荷重物19。

第一支架11具有一第一贯通孔11a、一第一方孔11b及多个插销孔11c。第一贯通孔11a沿机柜20的长度方向L贯通。第一方孔11b沿机柜20的高度方向H贯通。第一支架11的插销孔11c位于第一支架11的两端，且沿机柜20的高度方向H贯通。第一支架11的形状为空心方管。第一支架11沿着机柜20的一宽度方向W延伸，且第一支架11以插销111贯穿插销孔11c及机柜20的方式设置于机柜20。

第二支架12具有多个第二贯通孔12a、12b、12c。第二贯通孔12b、12c、12a沿机柜20的高度方向H排列，且沿机柜20的长度方向L贯通。第二支架12的形状为空心方管。第二支架12沿着机柜20的一高度方向H延伸，且第二支架12贯穿第一支架11的第一方孔11b。多个第二贯通孔12a中可择一对应于第一支架11的第一贯通孔11a，以令第二支架12沿高度方向H调整相对于第一支架11的位置。