[发明专利]被检物质检测方法及装置、荧光检测方法及装置

说明书

一种被检物质检测方法，检测在生物体试样中包含的被检物质，其特征在于，向包含荧光物质和被检物质的复合体，照射190nm以上350nm以下的第1峰值波长的光，该荧光物质如果被照射第1峰值波长的光则发出450nm以上900nm以下的第2峰值波长的光；通过光检测器(6)，检测从被照射了第1峰值波长的光的荧光物质发出的第2峰值波长的光，光检测器(6)的第2峰值波长下的量子效率是第1峰值波长下的量子效率的2倍以上。

技术领域

本发明涉及被检物质检测方法、荧光检测方法、以及在这些检测方法中使用的被检物质检测装置、荧光检测装置，特别涉及使检测灵敏度提高的技术。

背景技术

以往，作为检测在生物体试样中包含的遗传基因、蛋白质等被检物质的方法，提出了利用如果照射光则活性化的标识物质，来检测被检物质的被检物质检测方法(参照例如，美国专利公开2012/0161268 号)。

作为这种被检物质检测方法，还有如下的方法：通过在对作为与被检物质结合的标识物质的荧光物质进行光激励时，检测从荧光物质放射的光，从而检测被检物质。在该被检物质的检测方法中，在被检物质是微量的情况下，从与被检物质结合的荧光物质放射的光也微弱。因此，为了高灵敏度地检测从荧光物质放射的光，设法提高从检测器输出的检测信号的S/N比变得重要。

本发明是鉴于上述原由而完成的，其目的在于提供一种能够设法提高荧光的检测信号的S/N比的被检物质检测方法、荧光检测方法、以及在这些检测方法中使用的装置。

发明内容

本发明的范围仅由所附的权利要求书限定，并且不受该发明内容中的表述的任何影响。

某个观点的被检物质检测方法是检测在生物体试样中包含的被检物质的被检物质的检测方法，向包含荧光物质和被检物质的复合体，照射190nm以上350nm以下的第1峰值波长的光，该荧光物质如果被照射第1峰值波长的光则发出450nm以上900nm以下的第2 峰值波长的光，通过光检测器，检测从被照射了第1峰值波长的光的荧光物质发出的第2峰值波长的光，光检测器的第2峰值波长下的量子效率是第1峰值波长下的量子效率的2倍以上。

其它观点的被检物质检测方法是检测在生物体试样中包含的被检物质的被检物质检测方法，向荧光物质照射190nm以上350nm以下的第1峰值波长的光，该荧光物质通过包含被检物质和酶的复合体中的酶和基质的反应产生，并且如果被照射第1峰值波长的光则发出 450nm以上900nm以下的第2峰值波长的光，通过光检测器，检测从被照射了第1峰值波长的光的荧光物质发出的第2峰值波长的光，光检测器的第2峰值波长下的量子效率是第1峰值波长下的量子效率的2倍以上。

在某个观点的荧光检测方法中，向荧光物质照射190nm以上 350nm以下的第1峰值波长的光，该荧光物质如果被照射第1峰值波长的光则发出450nm以上900nm以下的第2峰值波长的光，通过光检测器，检测从被照射了第1峰值波长的光的荧光物质发出的第2峰值波长的光，光检测器的第2峰值波长下的量子效率是第1峰值波长下的量子效率的2倍以上。

某个观点的被检物质检测装置是检测在生物体试样中包含的被检物质的被检物质检测装置，具备：光源，向包含荧光物质和被检物质的复合体，照射190nm以上350nm以下的第1峰值波长的光，该荧光物质如果被照射第1峰值波长的光则发出450nm以上900nm以下的第2峰值波长的光；以及光检测器，检测从被光源照射了第1峰值波长的光的荧光物质发出的第2峰值波长的光，光检测器的第2峰值波长下的量子效率是第1峰值波长下的量子效率的2倍以上。