[发明专利]滚动轴承振动检测装置及分析方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种滚动轴承振动检测装置及分析方法，尤其涉及一种能够排除心轴回转误差影响的滚动轴承振动检测装置及分析方法。

背景技术

滚动轴承作为高速精密数控机床主轴的回转支撑零件，其自身的运动平稳性直接影响到机床的加工精度。随着现代数控机床加工精度的不断提高，对滚动轴承动态性能的要求也越来越高，轴承振动成为必须考核的项目之一。轴承振动是指轴承在运转过程中，除功能所必须的运动外，其内部零件出现的偏离理想位置的运动。在实际应用中，当轴承外圈固定，内圈旋转时，轴承振动主要表现为内圈偏离理想位置的运动；当轴承内圈固定，外圈旋转时，轴承振动主要表现为外圈偏离理想位置的运动。轴承振动产生的原因主要包括：

（1）时变的径向刚度；（2）加工误差，例如套圈滚道和滚动体表面的波纹度、粗糙度和直径偏差等；（3）保持架与滚动体和套圈之间的碰撞；（4）表面缺陷，例如点蚀和剥落等；（5）外圈的柔性变形；（6）润滑剂中的杂质。

对于轴承振动的测量，通常的方法是将轴承内圈安装在一个随主轴旋转的心轴上，外圈不转并承受一定的轴向或径向载荷，在外圈圆柱面宽度二分之一处沿圆周方向取三个测量点，依次测量外圈的径向振动，然后取平均值。根据JB/T 51112―2001《滚动轴承 振动（速度）测量方法》的规定，外圈径向振动的速度量采用动圈式速度型传感器测量；根据JB/T 51114―2002《滚动轴承 振动（加速度）测量方法》的规定，外圈径向振动的加速度量采用加速度型传感器测量。由于速度型传感器对低频振动反应比较敏感，所以在转速较低时适合采用速度量测试；而由于加速度型传感器对高频振动反应比较敏感，所以在转速较高时适合采用加速度量测试。采用速度量测试轴承时，分别在低频（50～300Hz）、中频（300～1800Hz）和高频（1800～10000Hz）三个频段内评定其振动值；而采用加速度量测试时，通常在通频段（50～10000Hz）内评定振动值。

实际中，心轴的回转误差会对轴承振动的测量产生影响。由于心轴固定安装在电机主轴上，电机主轴具有一定的回转误差，而且心轴本身存在形位误差，导致心轴也具有回转误差。心轴的回转误差会使轴承内圈的旋转轴线发生偏移和摆动，即在通过旋转轴线的一个或两个相互垂直平面内发生径向平移、轴向平移的和角向运动。这些运动误差将会通过滚动体传递到轴承外圈上，从而引入系统测量误差。尽管目前普遍采用液体静压主轴，但是仍不能消除心轴回转误差的存在。因此，有必要提出一种测量分析方法来评定及分离心轴回转误差对轴承振动的影响，以提高测量结果的准确性。

回转误差的测量一般采用单向法或双向法，其中单向测量法是在主轴回转面的一个方向上放置传感器测量主轴的径向跳动值，而双向测量法是在相互垂直的x和y两个方向上同时测量主轴的径向跳动值。常用的振动传感器有电涡流式、电容式和激光位移传感器，主要性能指标包括测量范围、分辨率、响应特性、线性度和稳定性。电涡流位移传感器的主要特点是测量范围宽，响应速度较快；电容位移传感器的特点是分辨率高，可实现低于1nm的分辨率，但是响应速度较低；激光位移传感器的特点是响应速度快，线性度高。因为JB/T 51112―2001和JB/T 51114―2002中规定的主轴的径向和端面跳动误差在微米量级，所以此处主轴的振动采用电涡流式或激光位移传感器进行测量较为合适。

因为在测量过程中心轴的回转误差是轴承振动的一个激励源，两者之间的关系取决于轴承本身复杂的动力学特性。如果把待测轴承看作为一个系统，轴承振动看作为系统的输出，那么系统的输入就包括心轴的回转误差和轴承内部的各种激励（例如套圈滚道和滚动体表面的波纹度、粗糙度、局部缺陷、保持架与滚珠和套圈的碰撞等）。对于轴承振动和各种激励之间因果关系的研究，通常的方法是基于周期信号的假设，通过比较实际测量的振动频谱和理论计算的激励频谱来辨别某个激励对振动的影响。然而这种方法在低频范围内具有一定的可行性，但是在中、高频范围内，由于轴承振动信号的频率成份非常复杂，而且不同的激励可能产生相同的频率分量，导致很难分辨出某个激励产生的振动频率分量，也就很难分离这个激励对轴承振动的影响。因此，如何分离主轴振动的影响是轴承振动测量的一个难点。

发明内容

有鉴于此，确有必要提供一种能够分离心轴回转误差影响的滚动轴承振动检测装置及分析方法。