[发明专利]显示面板测试装置及方法

说明书

【技术领域】

本发明涉及显示面板测试领域，特别涉及一种显示面板测试装置及方法。

【背景技术】

传统的对显示面板的进行测试的技术方案一般为：

将测试信号提供给显示面板，显示面板在接收到测试信号后显示与该测试信号对应的画面。

然而，在对显示面板进行测试的过程中，往往需要对显示面板进行开机和关机操作。

在实践中，发明人发现现有技术至少存在以下问题：

显示面板开机时会显示上次关机时的残影。

此外，在对AMOLED(Active Matrix Organic Light Emitting Diode，有源矩阵有机发光二极管面板)进行测试的过程中，所述AMOLED的驱动开关电路(例如，驱动晶体管)会由于老化而使得开关电压阈值(Vth)发生偏移。

故，有必要提出一种新的技术方案，以解决上述技术问题。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种显示面板测试装置及方法，其能使得待测试显示面板在开机时不会出现残影。

为解决上述问题，本发明的技术方案如下：

一种显示面板测试装置，所述显示面板测试装置包括：接口电路，用于与待测试显示面板连接；测试电路，与所述接口电路连接，所述测试电路用于在所述待测试显示面板处于测试状态时生成测试信号，并通过所述接口电路向所述待测试显示面板提供所述测试信号，以及用于在所述待测试显示面板处于预定状态时生成调整信号，并通过所述接口电路向所述待测试显示面板提供所述调整信号；其中，所述调整信号用于在所述待测试显示面板处于所述预定状态时清理所述待测试显示面板保留的至少部分残影信号；所述测试电路包括：测试信号生成电路，用于生成所述测试信号；调整信号生成电路，用于生成所述调整信号；选择电路，用于接收所述测试信号和所述调整信号，并用于在所述待测试显示面板处于所述测试状态时输出所述测试信号，以及用于在所述待测试显示面板处于所述预定状态时输出所述调整信号；所述选择电路包括：第一开关，所述第一开关包括：第一输入端，用于接收所述测试信号；第一输出端，用于在所述第一输入端和所述第一输出端之间的第一电流通道开启时输出所述测试信号；第一控制端，用于接收第一控制信号，并根据所述第一控制信号控制所述第一电流通道的开启或关闭；第二开关，所述第二开关包括：第二输入端，用于接收所述调整信号；第二输出端，用于在所述第二输入端和所述第二输出端之间的第二电流通道开启时输出所述调整信号；第二控制端，用于接收第二控制信号，并根据所述第二控制信号控制所述第二电流通道的开启或关闭；控制电路，与所述第一控制端和所述第二控制端连接，所述控制电路用于生成所述第一控制信号和所述第二控制信号。

在上述显示面板测试装置中，在所述待测试显示面板处于所述测试状态时，所述第一控制端用于根据所述第一控制信号控制所述第一电流通道开启，所述第二控制端用于根据所述第二控制信号控制所述第二电流通道关闭；在所述待测试显示面板处于所述预定状态时，所述第一控制端用于根据所述第一控制信号控制所述第一电流通道关闭，所述第二控制端用于根据所述第二控制信号控制所述第二电流通道开启。

在上述显示面板测试装置中，所述调整信号包括：至少一开启信号，所述开启信号用于开启所述待测试显示面板的薄膜晶体管开关；至少一清理信号，所述清理信号用于在所述薄膜晶体管开关处于开启状态时写入到所述待测试显示面板的像素电极中，以清理所述待测试显示面板保留的至少部分所述残影信号。

在上述显示面板测试装置中，所述开启信号为高电平信号，所述清理信号为低电平信号；所述测试电路还用于将所述开启信号通过所述待测试显示面板的扫描线输入至所述薄膜晶体管开关的栅极，以及用于将所述清理信号通过所述待测试显示面板的数据线和所述薄膜晶体管开关输入至所述像素电极。

在上述显示面板测试装置中，所述待测试显示面板为有源矩阵有机发光二极管面板，所述测试电路还用于在所述有源矩阵有机发光二极管面板处于所述预定状态时向所述有源矩阵有机发光二极管面板发送一抑制信号，所述抑制信号用于提供给所述有源矩阵有机发光二极管面板的驱动开关电路，以抑制所述驱动开关电路的开关电压阈值偏移。