[发明专利]综合记录器测试系统

权利要求书

1.一种综合记录器性能测试系统，包括集成在机柜内的工业控制计算机组合系统（8）、电连接有不间断电源（5）的适配箱组合系统和测试工装，其特征在于：工业控制计算机组合系统（8）通过内置HDLC总线卡、数据采集卡和高速同步多功能卡电连接适配箱组合系统，高速同步多功能卡通过适配箱后面板组合的信号插座电连接驱动板组合（19），驱动板组合（19）中的XS1插座连接后面板XS4插座；其中，适配箱后面板（12）通过后面板XS2插座、后面板XS6插座和后面板XS4插座与工业控制计算机组合系统（8）进行双向通信；适配箱前面板（10）同时也连接底板组合，被测设备与测试系统交联的所有信号通过测试电缆或测试工装连接于适配箱前面板（10）设有的信号测试插座（11）上；适配箱组合系统（4）通过内部接线将来自信号测试插座（11）的信号送入驱动板组合（19）或后面板插座（13）完成综合记录器被测信号的传输，进入驱动板组合（19）的测试信号经驱动板内的转换电路，从被测试的防坠毁CSMU组件（28）和CPU组件（26），将CPU芯片的单端低电压信号转换为综合记录器性能测试系统内部的双端差分信号；转换后， CPU组件（26）的低电压单端差分信号通过测试工装进入信号测试插座（11），信号测试插座（11）的信号分别进入驱动板组合（19）和后面板插座（13），再通过后面板（12）测试电缆送入到测试平台内，测试工装和CPU芯片测试板（31）将被测信号切换至驱动板组合（19）驱动调理后送入到工业控制计算机组合系统（8），并送入到工业控制计算机组合，借助软件资源对被测设备实现2路直流信号的测试和16路离散量输入信号的测试,以及1路HDLC总线信号、2路SPI总线信号的接收和发送。

2.如权利要求1所述的综合记录器性能测试系统，其特征在于，信号测试插座（11）包括设置在前面板（10）上的，驱动板XS5插座，HDLC被测信号和电源信号通过ISR测试电缆（20）传输到信号测试插座（11）的前面板ISR测试插座上。

3.如权利要求1所述的综合记录器性能测试系统，其特征在于，测试工装包括：安装固定在放置于操作台（6）上的PSU组件平板测试工装（24）和CPU组件立柱测试工装（27），PSU组件平板测试工装（24）上安装有PSU组件（23），CPU组件立柱测试工装（27）上设有CPU（26），PSU组件或CPU组件的被测信号通过PSU测试电缆（22）或CPU测试电缆（25）传输到信号测试插座（11）的上或传输到驱动板XS3插座。

4.如权利要求3所述的综合记录器性能测试系统，其特征在于，驱动板组合（19）中设有双端差分信号转换单端信号的转换电路，所述转换电路包括串联在CPU芯片输出端排列引脚线上的同阻值串联电阻，以及以每两个串联电阻并联一个大于上述串联电阻阻值的同阻值并联电阻，串联电阻分别用于四路接收信号的阻抗匹配，降低信号反射，并联电阻是差分接收电路中的匹配电阻，用于获取输入信号。

5.如权利要求4所述的综合记录器性能测试系统，其特征在于，操作台（6）上安装固定的防坠毁CSMU组件（28）通过自身自带的电缆连接驱动板组合（19），驱动板组合（19）上的驱动板XS3插座传输来自CPU组件（26）的被测信号，通过驱动板组合（19）上的驱动板XS5插座传输来自防坠毁CSMU组件（28）的信号，完成单端LVCOMS电平信号到双端差分电平信号转换功能。

6.如权利要求1所述的综合记录器性能测试系统，其特征在于，转换电路以每两串联电阻输出端上并联电阻进行分组，第一串联电阻中的电阻R55、R56并联电阻R57，第二串联电阻中的电阻R74、电阻R75并联电阻R76，第三串联电阻中的电阻R69、电阻R70并联电阻R71，第四串联电阻中的电阻R62、电阻R63并联电阻R64，产生的四路信号分别耦合到型号为MAX3095芯片U4的RS-422/RS485接收器的四个差分输入端，U4芯片的4路TTL电平单端输出信号直接传输到型号为74LVCH16345的U11总线收发器的输入端，通过U11芯片实现单端TTL电平→LVCMOS电平转换，U11芯片将电平转换后，通过驱动板组合的驱动板XS5插座直接传输到防坠毁CSMU组件（28），从而实现对防坠毁CSMU组件（28）测试过程的控制。