[发明专利]一种镁合金微波组件盖板表面复合处理方法有效

专利信息
申请号: 201410414332.4 申请日: 2014-08-21
公开(公告)号: CN104195569A 公开(公告)日: 2014-12-10
发明(设计)人: 刘东光;陈奇海;胡江华;张晔;周明智 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
主分类号: C23F17/00 分类号: C23F17/00;C25D11/30;C23C14/35;C23C14/18
代理公司: 合肥金安专利事务所 34114 代理人: 金惠贞
地址: 230088 安徽*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 镁合金 微波 组件 盖板 表面 复合 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种镁合金微波组件盖板表面复合处理方法,其特征在于具体操作步骤如下:

(1)去污除油

把经过机械抛光后的镁合金盖板放置于丙酮溶液中,室温下超声清洗20~30分钟,取出用水冲洗干净;

(2)碱性除油

将经过去污除油的镁合金盖板在温度65~75℃,在除油溶液中浸蚀1~3 分钟,取出用水冲洗干净;

(3)酸洗浸蚀

将经过去污除油的镁合金盖板在40 ℃酸洗浸蚀溶液中浸泡1~2分钟,并轻微搅拌,取出用水冲洗干净;

(4)活化

室温下,将经过酸性浸蚀处理的镁合金盖板在活化溶液中浸泡90~180秒,取出用水冲洗干净;

(5)微弧氧化

将经过活化处理的镁合金盖板在硅酸钠碱性电解液中进行微弧氧化,整个氧化过程用恒电流控制,电流密度为10 A/dm2,对电解溶液进行搅拌,温度为20~40 ℃,氧化时间为12~20分钟,在镁合金表面形成微弧氧化陶瓷膜层,其厚度10~15 μm,取出用水冲洗干净,干燥保存;

(6)填充封孔

将经过微弧氧化处理的镁合金盖板在80℃的溶胶封孔剂中浸泡5~10分钟,使溶胶封孔剂浸入镁合金微弧氧化陶瓷膜层的微孔,形成有效封孔,用蒸馏水冲洗干净;

(7)磁控溅射真空镀

在微弧氧化陶瓷膜层表面磁控反应溅射沉积铬钛银(Cr/Ti/Ag)的复合金属多层膜;磁控反应溅射的真空室内平行设有铬(Cr)靶、银(Ag)靶和钛(Ti)靶;在真空室内的转架台上放置已经填充封孔处理好的镁合金盖板,控制转架台转速15 rpm,调节基底与靶材间的距离为8~12 cm;真空室内的真空达到10-4数量级,工作气氛为纯氩气,控制氩气流量为10~30 sccm,保持气压在0.25~0.45 Pa;

调整基底温度为120 ℃,开启钛(Ti)靶电源,钛(Ti)靶的电流为0.05 A、负偏压100~200 V,磁控反应溅射150~300秒,在所述微弧氧化涂层上沉积纯钛(Ti)结合层;调整基底温度在150 ℃,控制氩气流量在12~16 sccm,开启铬(Cr)靶电源,铬(Cr)靶的电流为0.3 A、调整负偏压为0~50 V,磁控反应溅射30~60秒,在纯钛(Ti)结合层上形成铬单层,接着在铬单层表面用纯钛结合层工艺参数溅射沉积钛单层,溅射时间控制为15~30秒,铬单层和钛单(Ti)层组成铬钛膜层;制作铬钛膜层8~15层;调整基底温度至180 ℃,开启银靶电源,银靶的电流为0.50 A,负偏压150~220 V,磁控反应溅射5~15分钟;在最后沉积的铬钛多层膜层上沉积导电银(Ag)膜层,所述导电银(Ag)膜层的厚度为0.2~0.6 μm;所述铬钛膜层和导电银(Ag)膜层组成复合金属多层膜,所述复合金属多层膜的厚度为3~5 μm。

2.根据权利要求1所述的一种镁合金微波组件盖板表面复合处理方法,其特征在于:所述除油溶液由40 g/L氢氧化钠、20 g/L磷酸钠或10 g/L焦磷酸钠、5 g/L硬脂酸甘油酯和水配制而成。

3.根据权利要求1所述的一种镁合金微波组件盖板表面复合处理方法,其特征在于:所述酸洗浸蚀溶液由120~150 g/L氢氧化钠、20~30 g/L草酸纳、10~30 g/L硝酸钠、2~5 g/L十二烷基磺酸钠和去离子水配制组成。

4.根据权利要求1所述的一种镁合金微波组件盖板表面复合处理方法,其特征在于:所述活化溶液由30 mL/L氢氟酸、60 mL/L冰乙酸和去离子水配制而成。

5.根据权利要求1所述的一种镁合金微波组件盖板表面复合处理方法,其特征在于:所述硅酸钠碱性电解液由20 g/L氢氧化钠、20 g/L五水硫酸铜、80 g/L硅酸钠、25 g/L四硼酸钠、25 g/L柠檬酸三钠、5 mL/L甘油、2 g/L氟化钠、5 g/L酒石酸钠、10 g/L硼砂和去离子水配制组成。

6.根据权利要求1所述的一种镁合金微波组件盖板表面复合处理方法,其特征在于:所述溶胶封孔剂由30~45 g/L硅酸钠、2-5 g/L盐酸和乙醇组成,其中乙醇为溶剂,盐酸为催化剂。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第三十八研究所;,未经中国电子科技集团公司第三十八研究所;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410414332.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top