[发明专利]检测装置

说明书

本发明涉及电路基板的检测装置，提供了一种能一同检测出电火花和部分放电的结构。恒定电流源向检测对象的配线图形供给恒定的电流。电压测定部测定配线图形的电压。正常时电压斜度算出部，在电压的测定结果中，基于小于所定的电压斜度算出阈值的测定结果，获得正常时的电压斜度。判定部，在电压的测定结果中，通过将第一阈值以上且小于第二阈值的范围内的测定结果(斜度恒定期间中的测定结果)与基于上述正常时的电压斜度的电压推算值进行比较，判定所述电压斜度是否恒定。并且，判定部基于电压斜度恒定与否来判定电路基板的不良与否。

技术领域

本发明主要涉及基板检测装置。具体来说，涉及一种用于检测出在检测对象的配线图形间发生的电火花以及部分放电的构成。

背景技术

通过检测形成在电路基板的多个配线图形间的绝缘状态(是否确保充分的绝缘性)来判断该电路基板是否为良品的检测装置已被周知。通过向检测对象的一组配线图形施加所定的电压进而测定该配线图形间的电阻值来进行绝缘状态的检测。

由于在上述绝缘检测时向配线图形施加电压，因此在该配线图形间会发生电火花。当这种电火花发生时，电路基板上发生某种损伤的可能性则高。因此，优选地，将在检测中发生电火花的电路基板区别为不良品。

与此相关，专利文献1揭示了一种在检测出向配线图形所施加电压波形的下降(当前电压相比前次电压变小的部位)时，检测出电火花发生的构成。据专利文献1，由此能确实防止因绝缘检测而发生电火花的电路基板所混入。

但近来，印刷基板的图形间隙(pitch)逐年变窄，且鉴于此，绝缘检测时配线图形间发生部分放电的情况逐渐增多。发生部分放电时电路基板也会发生损伤。因此，优选地，与检测中发生电火花的电路基板一样，也应将发生部分放电的电路基板区别为不良品。

但，部分放电时，由于配线图形间流动的电流小，因此不能观测到如同电火花发生时的电压下降。因此，按专利文献1的构成不能检测出绝缘检测时发生的部分放电。

【现有技术文献】

【专利文献1】

日本专利第3546046号公报

发明内容

本发明提供了一种能检测出电火花和部分放电的电路基板检测装置。

根据本发明的一个实施形态，提供了一种检测形成在电路基板上的配线图形的检测装置。即，该检测装置包括：恒定电流源，向检测对象的配线图形供给恒定的电流；电压测定部，测定所述配线图形的电压；以及判定部，基于电压斜度的恒定与否来判定所述电路基板的不良与否，其中，所述电压斜度是所述电压对时间的变化率。

优选地，所述的检测装置按如下进行构成。即，该检测装置包括正常时电压斜度算出部，以用于在所述电压的测定结果中，基于小于所定的电压斜度算出阈值的测定结果，获得正常时的电压斜度。所述判定部，通过比较所述电压的测定结果和基于所述正常时的电压斜度的电压的推算值，判定所述电压斜度是否恒定。

优选地，所述的检测装置按如下进行构成。所述判定部在所述电压的测定结果中，基于所定的第一阈值以上且小于所定的第二阈值的范围内的测定结果，判定所述电压斜度是否恒定。

根据本发明，在配线图形间未发生电火花或部分放电时，被供给了恒定电流的配线图形的电压斜度为恒定。但，在配线图形间发生电火花或部分放电时，电压斜度为不恒定。因此，可基于电压斜度的恒定性，检测出电火花或部分放电的发生有无。并且，虽然电压斜度的值本身随配线图形而不同，但无论何种配线图形在不发生电火花或部分放电时电压斜度都为恒定。因此如上所述，通过基于电压斜度的恒定与否来进行判断，从而能不受随配线图形的电压斜度差异的影响，可针对任一配线图形也能进行高精密度的判定。