[发明专利]准直器阵列、工业CT设备线性探测器串扰校正装置及方法

权利要求书

1.一种准直器阵列，其特征在于：包括n个沿轴向紧密排列的准直器片，每m个准直器片组成一个准直器阵列单元(3)，其中m大于等于3，n为m的整数倍；每个准直器阵列单元的第一块准直器片上设置有两个射线导向槽，其余准直器片上设置有一个射线导向槽；每个准直器阵列单元的第一块准直器片上侧的射线导向槽形成用于串扰系数测定的第二准直孔阵列区(8)，其余射线导向槽形成第一准直孔阵列区(7)。

2.一种CT设备线性探测器串扰校正装置，包括若干个探测器模块(5)和若干个准直器阵列单元(3)形成的准直器阵列(2)，每个探测器模块对应若干个准直器阵列单元，其特征在于：所述准直器阵列包括n个沿轴向紧密排列的准直器片，每m个准直器片组成一个准直器阵列单元，其中m大于等于3，n为m的整数倍；每个准直器阵列单元的第一块准直器片上设置有两个射线导向槽，其余准直器片上设置有一个射线导向槽；每个准直器阵列单元的第一块准直器片上侧的射线导向槽形成用于串扰系数测定的第二准直孔阵列区(8)，其余射线导向槽形成第一准直孔阵列区(7)。

3.根据权利要求2所述的CT设备线性探测器串扰校正装置，其特征在于：所述准直器阵列与探测器模块间可做相对运动。

4.根据权利要求2所述的CT设备线性探测器串扰校正装置，其特征在于：所述第二准直孔阵列区位于第一准直孔阵列区的上侧。

5.根据权利要求2所述的CT设备线性探测器串扰校正装置，其特征在于：位于各准直孔阵列内的射线导向槽设置在各准直器片的同一位置。

6.根据权利要求2所述的CT设备线性探测器串扰校正装置，其特征在于：所述射线导向槽的宽度为0.1mm-0.6mm，射线导向槽的高度为0.5mm-4mm。

7.使用权利要求2-6任意一项权利要求所述的装置进行串扰校正方法，其特征在于：具体包括以下步骤：

步骤1、将第二准直孔阵列区射线导向槽对准探测器模块相应通道，在一定射线能量和功率条件下，对通过第二准直孔阵列区信号进行采集得到具有n个探测通道信号的信号组E⁽¹⁾，通过E⁽¹⁾计算此时具有射线导向槽的探测通道i对相邻探测通道j的信号串扰系数：

A_i,j＝E⁽¹⁾(j)/E⁽¹⁾(i)；i＝1，m+1，2m+1…n-m+1；i＝2，m，m+2，2m，2m+2…n-m，n-m+2，

E⁽¹⁾(j)为第j通道中的信号，E⁽¹⁾(i)为第i通道中的信号；

步骤2、调节准直器阵列与探测器模块的位置，将第二准直孔阵列区射线导向槽与探测器模块相对偏移1个通道，使第二准直孔阵列区的第一射线导向槽对准探测器模块第二通道，在相同射线能量和功率条件下，对通过第二准直孔阵列区信号进行采集得到信号组E⁽²⁾，通过E⁽²⁾计算此时具有射线导向槽的探测通道i对相邻探测通道j的信号串扰系数：

A_i,j＝E⁽²⁾(j)/E⁽²⁾(i)；i＝2，m+2，2m+2…n-m+2；j＝1，3，n+1，m+3…n-m+1，n-m+3

E⁽²⁾(j)为第j通道中的信号，E⁽²⁾(i)为第i通道中的信号；

步骤3、重复步骤2，直至第二准直孔阵列区第一射线导向槽对准探测器模块第m通道，在相同射线能量和功率条件下，对通过第二准直孔阵列区信号进行采集得到信号组E^(m)，通过E^(m)计算此时具有射线导向槽的探测通道i对相邻探测通道j的信号串扰系数：

A_i,j＝E^(m)(j)/E^(m)(i)；i＝m，2m，3m…n；j＝m-1，m+1，2m-1，2m+1…n-m-1，n-m+1，n-1

E^(m)(j)为第j通道中的信号，E^(m)(i)为第i通道中的信号；

步骤4、仅考虑相邻探测通道间的信号串扰，将信号串扰系数组合得到串扰系数矩阵I：

调节第一准直孔阵列区射线导向槽对准探测器模块相应通道，设备处于正常工作状态，在相同能量和功率条件下采集得到信号组E，用U表示去串扰的信号组，E、U为一维列向量，则E、U和I之间的关系可表示为：

E＝IU；

该矩阵方程中E、I为已知量，通过解该矩阵方程，可计算出去串扰的信号组U，实现数据串扰校正。