[发明专利]多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置及方法

权利要求书

1.一种多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置，其特征在于：包括高压直流电源(101)、上电极(102)以及下电极(103)；上电极(102)连接到高压直流电源(101)的输出端，高压直流电源(101)的接地端与下电极(103)统一接地；上电极(102)和下电极(103)之间加装有片状试样(104)；上电极(102)与高压直流电源(101)输出端之间连接有电路保护装置(205)，且上电极(102)和下电极(103)上分别连接用于调节上电极(102)和下电极(103)温度的温度调节装置。

2.根据权利要求1所述的多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置，其特征在于：所述的温度调节装置包括高温恒温循环浴(201)和低温恒温循环浴(202)；当高温恒温循环浴(201)与上电极(102)相连时，低温恒温循环浴(202)与下电极(103)相连；当高温恒温循环浴(201)与下电极(103)相连时，低温恒温循环浴(202)与上电极(102)相连。

3.根据权利要求2所述的多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置，其特征在于：所述的上电极(102)包括顶部和底部均开口的上电极箱体(307)，上电极箱体(307)上开设有与高温恒温循环浴(201)或低温恒温循环浴(202)相连通的上电极液体导入口(301)和上电极液体导出口(302)；上电极箱体(307)内设置有若干上电极组(304)，上电极组(304)通过设置于上电极箱体(307)侧面的电压引入线(305)与电路保护装置(205)相连；上电极箱体(307)的下端与上电极组(304)的下端平齐，周围填充有环氧树脂作为上电极组(304)及上电极箱体(307)底部，且环氧树脂的底部与上电极组(304)及上电极箱体(307)的底部平齐，上电极箱体(307)的顶部设置有用于将上电极(102)密封的上电极密封盖(308)。

4.根据权利要求3所述的多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置，其特征在于：所述的上电极密封盖(308)与上电极箱体(307)之间设置有与上电极密封盖(308)相配合的上电极密封胶圈(303)。

5.根据权利要求4所述的多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置，其特征在于：所述的上电极密封盖(308)通过上电极封装螺丝(309)固定在上电极箱体(307)上。

6.根据权利要求3所述的多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置，其特征在于：所述的下电极(103)包括顶部开口的下电极箱体(406)，下电极(103)通过下电极箱体(406)与高压直流电源(101)的接地端相连后统一接地；下电极箱体(406)上开设有与高温恒温循环浴(201)或低温恒温循环浴(202)相连通的下电极液体导入口(401)和下电极液体导出口(402)；下电极箱体(406)内设置有若干与上电极组(304)相对应的下电极组(404)，下电极箱体(406)的顶部设置有用于将下电极(103)密封的下电极密封盖(407)；下电极组(404)的上端固定在下电极密封盖(407)上，且下电极组(404)的端部伸出下电极密封盖(407)；下电极组(404)的底部设置有弹簧(405)，弹簧(405)的一端固定在下电极箱体(406)的底部，另一端固定在下电极组(404)的下端面上。

7.根据权利要求6所述的多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置，其特征在于：所述的下电极密封盖(407)与下电极箱体(406)之间设置有与下电极密封盖(407)相配合的下电极密封胶圈(403)。

8.根据权利要求7所述的多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置，其特征在于：所述的下电极密封盖(407)通过下电极封装螺丝(408)固定在下电极箱体(406)上。

9.根据权利要求1至8任意一项所述的多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置，其特征在于：所述的电路保护装置(205)包括与上电极组(304)一一对应的若干熔断器(206)；熔断器(206)的一端与高压直流电源(101)的输出端相连，另一端与对应的上电极组(304)相连。

10.如权利要求1至8任意一项所述装置的多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)将片状试样放入上电极与下电极之间，且多组片状试样之间两两不产生重叠；

2)设置高温恒温循环浴和低温恒温循环浴的温度，并让其中的液体流入到上电极与下电极中，形成恒温浴；

3)待恒温浴使得上电极与下电极的温度达到恒温浴的设定温度后，利用高压直流电源施加电压；

4)如果片状试样全部发生击穿，则需要将高压直流电源的输出电压调0，并对电极进行放电处理，然后将发生击穿的片状试样更换，再重复步骤1)至步骤3)；

5)待老化完成之后，则需要将高压直流电源的输出电压调0，并对电极进行放电处理，然后取出片状试样。