[发明专利]晶片型可插入磁通计

权利要求书

1.一种磁通计，该磁通计用于测量过程流体的流量，所述磁通计包括：

仪表主体，所述仪表主体具有形成在该仪表主体中的开口，所述仪表主体构造成用于串联插入承载过程流体的过程管道之间；

能够移动的延伸部，所述能够移动的延伸部连接到仪表主体，并且构造成用于相对于所述仪表主体移动并且在打开位置中延伸进入过程管道以及在关闭位置中至少部分地覆盖所述仪表主体的开口；

线圈，所述线圈承载在能够移动的延伸部上，构造成用于产生被引导进入过程流体中的磁场；和

一对电极，所述一对电极构造成用于感测作为磁场和过程流体的流量的函数产生的在过程流体中的电动势。

2.根据权利要求1所述的磁通计，包括连接到所述一对电极的测量电路，所述测量电路构造成用于提供表示作为感测的电动势的函数的过程流体的流速的输出。

3.根据权利要求2所述的磁通计，其中所述测量电路承载在仪表主体中。

4.根据权利要求2所述的磁通计，其中所述测量电路承载在仪表主体外部。

5.根据权利要求1所述的磁通计，其中能够移动的延伸部通过铰接件连接到仪表主体。

6.根据权利要求5所述的磁通计，其中所述铰接件允许能够移动的延伸部从平行于仪表主体的平面的平面位置移动到延伸进入过程管道中的延伸位置。

7.根据权利要求1所述的磁通计，包括多个能够移动的延伸部。

8.根据权利要求1所述的磁通计，其中所述一对电极中的至少一个承载在能够移动的延伸部上。

9.根据权利要求1所述的磁通计，其中所述一对电极中的至少一个由仪表主体承载。

10.根据权利要求1所述的磁通计，包括构造成用于夹在所述仪表主体和所述过程管道的凸缘之间的前缘环。

11.根据权利要求10所述的磁通计，其中所述前缘环定位在仪表主体的上游。

12.根据权利要求10所述的磁通计，其中所述前缘环构造成用于推动能够移动的延伸部延伸进入过程管道。

13.根据权利要求10所述的磁通计，其中所述前缘环包括金属并且构造成用于提供电连接到过程管道。

14.根据权利要求1所述的磁通计，其中所述能够移动的延伸部包括能够弯曲的绝缘材料。

15.根据权利要求14所述的磁通计，其中所述能够弯曲的绝缘材料包括聚合物。

16.根据权利要求1所述的磁通计，包括构造成用于连接到过程控制回路的、承载在仪表主体上的电连接器。

17.根据权利要求2所述的磁通计，其中测量电路定位到仪表主体外部并且进一步包括电连接器，所述电连接器承载在仪表主体上，并构造成用于连接到测量电路。

18.根据权利要求1所述的磁通计，包括电连接器，所述电连接器承载在仪表主体上，并构造成用于将线圈连接到外部电源。

19.根据权利要求1所述的磁通计，包括承载在第二能够移动的延伸部上的第二线圈。

20.根据权利要求1所述的磁通计，包括第二能够移动的延伸部，并且其中一对电极承载在各个能够移动的延伸部上。

21.根据权利要求1所述的磁通计，包括绝缘层，所述绝缘层将能够移动的延伸部从过程管道分开。

22.根据权利要求1所述的磁通计，包括磁场强度传感器，所述磁场强度传感器布置成用于感测磁场的磁场强度。

23.根据权利要求1所述的磁通计，其中能够移动的延伸部由多个能够折叠的瓣形成。

24.根据权利要求23所述的磁通计，包括绝缘层，所述绝缘层在多个能够折叠的瓣之间延伸。