[发明专利]具回馈测试功能的探针模块

说明书

技术领域

本发明是与探针有关；特别是指一种具回馈测试功能的探针模块。

背景技术

用以检测电子产品的各精密电子元件间的电性连接是否确实的方法，是以一探针卡作为一检测装置与待测电子装置之间的测试信号与电源信号的传输接口。

而随着数字科技的进步，待测电子装置的指令周期与每秒的信号传输量亦日益增大，而使得检测装置的处理器所产生的测试信号的频率，并无法满足待测电子装置所需的高频测试信号的信号传输量需求。是以，为解决上述困扰，遂利用待测电子装置本身来产生所需的高频测试信号，再通过探针卡传送回待测电子装置进行检测，进而达到高频测试的目的。

请参阅图1，现有的探针卡是于其印刷电路板70上设置有继电器(Relay)72，并通过印刷电路板上的线路控制该继电器72切换检测装置300的直流测试信号，以及待测电子装置400自我检测的高频测试信号的信号路径。而众所皆知的是，当信号线路越长时，其附带的微量电感越大。换言之，当高频测试信号的频率越高时，现有的探针卡因其用以传输测试信号路径较长(由探针模块80通过基板75、印刷电路板70、继电器72与电容74后，再由另一继电器72回到印刷电路板70、基板75及探针模块80)，造成其微量电感较大，使得高频信号传输时，信号路径上的阻抗值较大，进而造成线路损耗提升，使得高频的测试信号无法顺利通过，进而导致信号不易被待测电子装置所辨识，而容易有测试误判的情形产生。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的用于提供一种具回馈测试功能的探针模块，可有效地减少高频信号传输时的信号路径长度。

缘以达成上述目的，本发明所提供具回馈测试功能的探针模块是设于一印刷电路板以及一待测电子装置之间，且包括有一基板、一针架、二探针、二路径转换元件以及一电容。其中，该基板具有二连接线路以及二空间转换线路，且所述空间转换线路的一端与该印刷电路板电性连接；该针架设于该基板与该待测电子装置之间；该二探针设于该针架上，且各该探针一端凸伸出该针架外与该基板的各该连接线路的一端电性连接，而另一端则凸伸出该针架外点触该待测电子装置的受测部位；该二路径转换元件设于该针架上，且各该路径转换元件电性连接该基板的各该空间转换线路及各该连接线路的另一端；该电容设于该针架上，且其两端分别电性连接该二路径转换元件。

依据上述构思，该路径转换元件为一电感性元件，一端电性连接该空间转换线路，另一端则电性连接该电容与该连接线路。

依据上述构思，该电感性元件为扼流圈(choke)。

依据上述构思，该路径转换元件为一继电器，且具有一第一接点、一第二接点以及一第三接点，并可受控制地切换该第一接点与该第二接点导通、或该第一接点与该第三接点导通；另外，该第一接点电性连接该连接线路，该第二接点电性连接该空间转换线路，而该第三接点则电性连接该电容。

依据上述构思，该二路径转换元件以及该电容是设置于该针架朝向该基板的面上。

依据上述构思，该针架朝向该基板的面上形成有多个凹陷处，该二路径转换元件是分别位于所述凹陷处中。

依据上述构思，该针架朝向该基板的面上形成有至少一凹陷处，该电容是位于该凹陷处中。

依据上述构思，该针架是呈空心，而该二路径转换元件以及该电容是设置于该针架之中。

依据上述构思，还包含有多个导体，且该针架朝向该基板的面上具有多个穿孔：所述导体分别穿设于所述穿孔中，且一端各别连接各该路径转换元件，另一端则抵接所述空间转换线路或所述连接线路，而使所述路径转换元件电性连接所述空间转换线路及所述连接线路。

依据上述构思，各该导体为具有弹性的金属顶针。

依据上述构思，本发明更提供有另一种具回馈测试功能的探针模块，是设于一印刷电路板以及一待测电子装置之间，且包括有一基板、二探针、二路径转换元以及一电容；其中，该基板具有二连接线路以及二空间转换线路，且所述空间转换线路的一端与该印刷电路板电性连接；各该探针一端凸与该基板的各该连接线路的一端电性连接，而另一端则点触该待测电子装置的受测部位；该二路径转换元件设于该基板，且各该路径转换元件电性连接该基板的各该空间转换线路及各该连接线路的另一端；该电容设于该基板，且其两端分别电性连接该二路径转换元件。

依据上述构思，该二路径转换元件以及该电容是设置于该基板朝向所述探针的面上。

依据上述构思，该基板朝向所述探针的面上形成有多个凹陷处，该二路径转换元件是分别位于所述凹陷处中。