[发明专利]一种可测量井深的电子测斜仪和井深的测量方法有效
申请号: | 201410326847.9 | 申请日: | 2014-07-09 |
公开(公告)号: | CN105317423B | 公开(公告)日: | 2022-12-13 |
发明(设计)人: | 谭诗炜 | 申请(专利权)人: | 北京六合伟业科技股份有限公司 |
主分类号: | E21B47/04 | 分类号: | E21B47/04;E21B47/022 |
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地址: | 100070 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 可测量 电子 测斜仪 测量方法 | ||
1.一种井深的测量方法,其特征在于,利用电子测斜仪进行井深的测量,所述电子测斜仪包括探管短节,所述探管短节包括三轴磁传感器、三轴陀螺传感器以及三轴加速传感器,其中,所述三轴磁传感器、三轴陀螺传感器以及三轴加速传感器均与设置于所述探管短节内的信号采集器连接,所述信号采集器与电缆转换接头连接;
所述井深的测量方法步骤如下:
将所述探管短节放至井底第一预定时间,通过所述探管短节中的三轴磁传感器和三轴加速传感器,确定所述井底的静止姿态参数;
将所述探管短节沿井壁向上移动至任意位置,并停留第二预定时间,通过所述探管短节中的三轴磁传感器和三轴加速传感器,确定该停留位置的静止姿态参数,并通过所述探管短节中的三轴陀螺传感器,确定所述探管短节从井底至所述停留位置过程中的动态姿态参数;
根据所述探管短节中的三轴加速传感器,确定所述停留位置的加速度,并根据该加速度和上述各姿态参数,确定所述井底至所述停留位置的距离;
重复上述步骤,直至所述探管短节移动至井口,并在所述探管短节移动至所述井口的情况下,根据测出的所述距离求和确定所述井深。
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