[发明专利]触摸屏测试装置

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种测试装置，具体涉及一种触摸屏测试装置。

【背景技术】

目前所生产的如平板电脑、智能手机等电子产品的屏幕都是触摸屏，在生产后均需要对触摸屏进行测试。

现常用的测试方法是：使用测试治具夹持着电子产品的触摸屏，然后人工通过触控笔对触摸屏进行定位测试。常用的测试治具有点定位和画线定位治具。针对不同的机种需要制作不同的治具，一个机种需要制作两到三个治具，这样产线需要制作很多治具，耗费财力，同时使用治具也很耗费人力。

有鉴于此，实有必要开发一种触摸屏测试装置，以解决上述每一个机种需要制作不同的治具，耗费人力及成本的问题。

【发明内容】

因此，本发明的目的是提供一种触摸屏测试装置，该触摸屏测试装置适合各种机种，能够节约人力及成本。

为了达到上述目的，本发明的触摸屏测试装置，用于测试机台的触摸屏，所述触摸屏测试装置包括：

工作台，其包括基板及设于所述基板上的支架；

触控笔，其活动设于所述支架上；

滑轨，其设于所述基板上，被测机台滑动设于所述滑轨上；

工控机，其具有控制单元，所述控制单元发出控制指令，所述触控笔及被测机台依据所述控制指令运动。

可选的，所述被测机台为具有触摸屏的电子产品。

可选的，所述电子产品为具有触摸屏的平板电脑或智能手机。

可选的，所述工控机还具有启动按钮、复位按钮及急停按钮。

可选的，所述工控机还具有轨迹存储单元，所述轨迹存储单元存储有所述触控笔的移动轨迹信息，所述控制单元与所述轨迹存储单元连接。

可选的，所述轨迹存储单元为调控盘，所述调控盘调节所述触控笔的移动轨迹。

相较于现有技术，本发明的触摸屏测试装置，通过所述工控机发出控制指令控制所述触控笔及被测机台运动，所述触控笔与所述被测机台的触摸屏接触，从而达到测试的目的，由于不需要针对不同的机种制作不同的治具即可测试触摸屏，节约了人力及成本。

【附图说明】

图1绘示本发明触摸屏测试装置一较佳实施例的模块示意图。

图2绘示本发明触摸屏测试装置一较佳实施例的第一状态结构示意图。

图3绘示本发明触摸屏测试装置一较佳实施例的第二状态结构示意图。

图4绘示本发明触摸屏测试装置一较佳实施例的第三状态结构示意图。

【具体实施方式】

请参阅图1及图2所示，图1绘示了本发明触摸屏测试装置一较佳实施例的模块示意图，图2绘示了本发明触摸屏测试装置一较佳实施例的第一状态结构示意图，所述第一状态为未测试时的状态。

于一较佳实施例中，本发明的触摸屏测试装置，用于测试机台400的触摸屏410，所述触摸屏测试装置包括：

工作台100，其包括基板110及设于所述基板110上的支架120；

触控笔200，其活动设于所述支架120上；

滑轨300，其设于所述基板110上，被测机台400滑动设于所述滑轨300上；

工控机500，其具有控制单元510，所述控制单元510发出控制指令，所述触控笔200及被测机台400依据所述控制指令运动。

其中，所述被测机台400为具有触摸屏410的电子产品。

其中，所述电子产品为具有触摸屏410的平板电脑或智能手机。

其中，所述工控机500还具有启动按钮、复位按钮及急停按钮。

其中，所述工控机500还具有轨迹存储单元520，所述轨迹存储单元520存储有所述触控笔200的移动轨迹信息，所述控制单元510与所述轨迹存储单元520连接。

其中，所述轨迹存储单元520为调控盘，所述调控盘调节所述触控笔200的移动轨迹。

请再结合图2、图3及图4所示，图3绘示了本发明触摸屏测试装置一较佳实施例的第二状态结构示意图，图4绘示了本发明触摸屏测试装置一较佳实施例的第三状态结构示意图，所述第二状态及第三状态均为测试过程中的状态。

所述工控机500发出控制指令控制所述触控笔200及被测机台400运动，所述触控笔200的移动轨迹信息为二维轨迹信息，调节调控盘使触控笔200根据调好的模式进行运动，所述触控笔200与所述被测机台400的触摸屏410接触测试，从而达到测试的目的。

本发明的触摸屏测试装置，适用于各种机种，不需要针对不同的机种制作不同的治具即可测试触摸屏，节约了人力及成本。