[发明专利]多节电量管理IC的多通道校准校验设备和方法有效

专利信息
申请号: 201410315709.0 申请日: 2014-07-03
公开(公告)号: CN104133185B 公开(公告)日: 2017-09-22
发明(设计)人: 邓振东;陈思波;黄建科;甘百长 申请(专利权)人: 惠州市蓝微电子有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司44102 代理人: 任海燕
地址: 516006 广东省惠州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 节电 管理 ic 通道 校准 校验 设备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种校准校验方法,尤其涉及一种多节电量管理IC的多通道校准校验设备和方法。

背景技术

随着多节电量管理产品的应用逐渐增多,对多节电量管理产品进行校准校验方法和设备也被广泛研究,传统的实现多节产品的校准校验是基于瑞萨电量管理IC(集成电路)的基础上,采用气动式的方式进行产品的电压电流精度的校正,该方式采用手工焊接夹具导通产品,通过纯手工的方式单通道实现瑞萨电量管理产品(应用于某种多节电量管理的产品)的校准校验,然而该方法受制于瑞萨公司,且纯手工单通道的实现方式使得该方法作业效率低下,局限性大,可扩展性差,并且该方法还存在投入成本高,整体测试稳定性差,烧写异常出错率高以及品质安全系数低等缺点。

另一方面,目前移动电子的电源行业中电量管理IC应用越来越广泛,高端产品对电量管理IC的精度要求也越来越高,如电子产品APPLE,NOKIA(三星、索尼)等,美国德州仪器公司TI制作的电量管理IC要求其实现高精度的校准电压电流。

因此,目前行业内急需一种高效的、可扩展的、低成本且高性能的多节电量管理产品的校准校验设备和方法。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种可扩展地、高性能以及高效率的实现多节电量管理IC的校准校验设备和方法,提高对多节电量管理IC校正的高效性和准确性。

为了解决上述问题,本发明提供一种多节电量管理IC的多通道校准校验设备,该设备包括主控板、串行通信口、多个通道测试板、通道自检模块以及校准校验模块,其中:

串行通信口,用于主控板接收来自上位机的驱使运作信号;

主控板,用于控制多个通道测试板对多节电量管理IC进行校准校验;

多个通道测试板,用于对对应通道的多节电量管理IC同时并行测试;

通道自检模块,用于辨认当前通道是否处于可用状态;

校准校验模块,用于采取闭环修正方法对多节电量管理IC的电压电流精度进行校正。

优选地,所述通道自检模块进一步用于自动搜索检查设备中各通道的电压电流精度,若发现通道中的电压电流精度漂移严重,则智能化的启动自校模式,对设备各通道的电芯板和电流板进行精度的调校。

优选地,所述多节电量管理IC的多通道校准校验设备还包括通道组合模块,用于将多个通道组合成一个大通道;

优选地,所述多节电量管理IC的多通道校准校验设备还包括自身的稳定性老化测试平台模块,该平台模块用于智能化测试设备自身的电压电流精度,并制定出相应的电压电流精度CPK值(CPK:Complex Process Capability index 的缩写,是现代企业用于表示制程能力的指标。CPK值越大表示品质越佳)和相应的电压电流精度CPK分布图。

优选地,所述稳定性老化测试平台模块进一步用于设定老化循环次数,设定每个通道的老化的电芯节数以及电压电流精度的基准标准值。

优选地,所述多节电量管理IC的多通道校准校验设备采用组件化、封装化和模块化的测试方法实现测试项目的测试,同时保存测试项目的相关封装信息。

优选地,所述每个通道测试板由一块电芯板和一块电流板组成,且所述每个通道中的电芯板和电流板采用平行间隔前后直插的方式插入主控板上对应的插槽中。

为了解决上述技术问题,本发明还提供了一种多节电量管理IC的多通道校准校验方法,该方法包括以下步骤:

1)上位机通过串口向主控板发送驱使运作信号;

2)主控板调用相应的测试模块,驱使多个通道测试板对对应通道的多节电量管理IC同时并行测试;

3)通道自检模块对各通道状态进行自检,若通道状态OK,则进入步骤4),否则发出报警信号;

4)进入校准模式,各通道测试板根据本地数据库中存储的初始电压电流精度补偿值对电量管理IC进行并行电压电流校准;

5)进入校验模式,读取各通道电量管理IC的电压电流精度值,并保存在本地数据库中;

6)计算出当前需要提供给各通道的电压电流精度补偿值;

7)利用步骤6)计算出的精度补偿值对各通道中电量管理IC的电压电流精度进行校准,同时将该计算出的精度补偿值保存在本地数据库中,作为软件关闭后下次重新初始软件后的初次调用本地电压电流精度补偿值。

优选地,所述步骤2)还包括,将多个通道中组合成若干个大通道,该若干个大通道同时对相同个数的多节电量管理IC并行测试。

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