[发明专利]光电式电流传感动态测试装置有效
申请号: | 201410290236.3 | 申请日: | 2014-06-25 |
公开(公告)号: | CN104034944B | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 焦新兵;陈林;高军 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00;G01M11/00 |
代理公司: | 上海德昭知识产权代理有限公司31204 | 代理人: | 郁旦蓉 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 电流 传感 动态 测试 装置 | ||
1.一种光电式电流传感动态测试装置,其特征在于,包括:
光源单元,包含用于产生全偏振光的光源部;设置在所述全偏振光的光路上用于将全偏振光分为评估光和待测光的光源分束棱镜以及设置在所述待测光的光路上用于将所述待测光进行聚焦后发出聚焦全偏振光的第一透镜;
光路转换单元,设置在所述聚焦全偏振光的光路上,包含用于改变所述聚焦全偏振光的旋转角度得到旋转偏振光的磁光晶体部和将所述旋转偏振光分为测试偏振光和入射偏振光的偏振分光棱镜;
电流探测单元,设置在所述测试偏振光的光路上,用于根据所述测试偏振光探测到相应的电流;
光斑接收单元,设置在所述入射偏振光的光路上,用于观察所述入射偏振光形成的光斑图像,包含用于对所述入射偏振光进行聚焦发出聚焦入射偏振光的第二透镜;以45°角设置在所述聚焦入射偏振光的光路上用于将所述聚焦入射偏振光以45°角反射成为可显现的成像光的反光镜和用于接收所述成像光并显示出所述成像光形成的所述光斑图像的显像部,
其中,所述光源单元还包含用于接收所述评估光并显示出所述评估光形成的光源图像的全偏振光接收显像部。
2.根据权利要求1所述的光电式电流传感测试装置,其特征在于:
其中,所述光源部是产生所述全偏振光的波长范围为900nm至1700nm的小功率半导体激光器。
3.根据权利要求1所述的光电式电流传感测试装置,其特征在于:
其中,所述显像部包含可移动的设置在所述成像光的光路上用于聚焦所述成像光形成聚焦成像光的第三透镜和用于接收所述聚焦成像光后显示出所述聚焦成像光的所述光斑图像且可移动的摄像头,
调节所述第三透镜和所述摄像头的位置用于改变所述光斑图像的清晰度和大小。
4.根据权利要求1所述的光电式电流传感测量装置,其特征在于:
其中,所述电流探测单元是偏振仪。
5.根据权利要求1所述的光电式电流传感测量装置,其特征在于:
其中,所述磁光晶体部含有一侧分布栅状薄膜的磁光晶体,
所述磁光晶体的薄膜之间宽度范围是50nm到1mm,薄膜厚度范围是5nm到1mm,通过磁控溅射法、脉冲激光沉积法和分子束外延法中任意一种方法被生长形成。
6.根据权利要求1所述的光电式电流传感测量装置,其特征在于,还包括:
控温单元,可移动设置在靠近所述磁光晶体部处用于调节所述聚焦全偏振光由所述磁光晶体部射出时的温度;
磁场单元,用于产生磁场,靠近所述磁光晶体部设置,包含直流导线部和调节所述直流导线部电流大小改变所述磁场强度大小的磁场调节部,
其中,所述电流探测单元用于探测到所述直流导线部中直流导线的电流。
7.根据权利要求6所述的光电式电流传感测量装置,其特征在于:
其中,所述控温单元包含用于发出热量的发热部和调节所述发热部热量的热量调节部。
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