[发明专利]三相绝缘子电性能实验装置有效

专利信息
申请号: 201410288301.9 申请日: 2014-06-25
公开(公告)号: CN104034988B 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 吴书增;白建成;包行方 申请(专利权)人: 中发输配电设备(平湖)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01M3/02
代理公司: 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙)33240 代理人: 沈志良
地址: 314200 浙江省平*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 三相 绝缘子 性能 实验 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种实验工装领域,尤其是一种三相绝缘子电性能实验装置。

背景技术

随着各种绝缘子生产量得逐日增加,相应的检测装置的需求量也日益增加,尤其是关于绝缘子的电性能和气密性的实验工装尤其缺乏,现有的工装设备一次安装只能实现单一的实验需求,因为实验装置的结构有限,只能进行电性能实验或者是气密性实验,这就需要工人将需检测的工件在不同的实验设备上反复拆卸,比较浪费时间,生产效率非常低,且在实验装置移动过程中工件易移动,容易磕伤工件。

发明内容

本发明的目的是提供一种三相绝缘子电性能实验装置。

本发明解决的是现有技术中存在的结构不合理,实验装置能实现的实验项目单一,需将工件在不同实验设备上反复拆卸进行实验,生产效率低,工件易磕伤的问题。

本发明解决技术问题所采用的技方案是:一种三相绝缘子的电性能实验装置,包括接圈、三相绝缘子、电极和凸盖,所述的接圈包括下接圈和中间接圈,所述的中间接圈平行排列,所述下接圈设于中间接圈的左侧,所述凸盖设于中间接圈的右侧,所述下接圈与中间接圈、相邻的中间接圈之间以及中间接圈与凸盖均通过连接机构连接固定,所述的连接机构包括第一连接法兰、第二连接法兰、限位盘、第一定位销和第二定位销,第一连接法兰和第二连接法兰之间的设有绝缘子固定位,所述的三相绝缘子设于所述绝缘子固定位上,所述的电极设于相邻的两个三相绝缘子之间,连接两个三相绝缘子。

所述的三相绝缘子的中部均布有三个电极固定位,所述的电极包括固定电极组和滑动电极组,所述的固定电极固定于三相绝缘子的电极固定位的右侧面,所述滑动电极组固定于三相绝缘子的电极固定位的的左侧面,所述固定电极组设于所述滑动电极组的左侧;所述的下接圈内设有电极连接杆,所述电极连接杆的右端设有固定电极固定座,与最左侧的三相绝缘子相接的电极内的固定电极组固定于所述固定电极固定座上。

所述的限位盘设于所述绝缘子固定位内,且设于所述第一连接法兰的右侧面,通过第一定位销固定,所述的限位盘上设有限位卡块,且所述的限位卡块与第一定位销对齐,通过焊接固定在所述限位盘的右侧面上,所述的三相绝缘子设于所述限位盘的右侧面且设于所述限位卡块的内侧,通过所述第二定位销与所述限位盘固定,所述的第一连接法兰和第二连接法兰之间的外侧设有密封圈。

所述的第一定位销均布于所述限位盘的外圈,所述的第二定位销均布于所述限位盘的内圈。

所述的凸盖上部设有一个快速接头,所述的凸盖中部设有一个吊环。

所述的下接圈的左端设有固定底圈。

本发明的有益效果是:本发明结构简单,方便使用,可同时验证多个三相盆形绝缘子的气密性和水压试验,提高效率,且每个三相绝缘子都是单独固定在接圈上面,固定牢固,不管是移动还是起吊,都不会发生意外掉落或者工件被磕伤的情况,确保的安全性能。

附图说明

图1为本发明的内部结构示意图。

图2为连接机构的放大结构示意图。

图3为A向的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。

如图所示,本发明包括接圈、三相绝缘子9、电极和凸盖11,所述的接圈包括下接圈1和中间接圈13,所述的中间接圈13平行排列,所述下接圈1设于中间接圈13的左侧,所述凸盖11设于中间接圈13的右侧,所述下接圈1与中间接圈13、相邻的中间接圈13之间以及中间接圈13与凸盖11均通过连接机构7连接固定,所述的连接机构7包括第一连接法兰15、第二连接法兰18、限位盘21、第一定位销14和第二定位销19,第一连接法兰15和第二连接法兰18之间的设有绝缘子固定位16,所述的三相绝缘子9设于所述绝缘子固定位16上,所述的电极设于相邻的两个三相绝缘子9之间,连接两个三相绝缘子9。

本实施例中,所述的三相绝缘子9的中部均布有三个电极固定位5,所述的电极包括固定电极组6和滑动电极组8,所述的固定电极组6固定于三相绝缘子的电极固定位5的右侧面,所述滑动电极组8固定于三相绝缘子的电极固定位5的左侧面,所述固定电极组6设于所述滑动电极组8的左侧;所述的下接圈11内设有电极连接杆3,所述电极连接杆3的右端设有固定电极固定座4,与最左侧的三相绝缘子9相接的电极内的固定电极组6固定于所述固定电极固定座4上,用于验证三相绝缘子的电性能实验。

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