[发明专利]用于大角度入射高能激光的衰减取样装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种高能激光大角度测量的方法，尤其是一种利用体散射材料进行高能激光大角度衰减取样的装置。

背景技术

在高能激光参数测量中，经常采用光电探测器阵列取样方法来获取激光光斑功率密度时空分布信息。由于测试位置处的激光功率密度一般都较高，直接利用光电探测器阵列进行测量存在较大难度，因此在实际测试中需要对被测的激光功率密度进行合理的衰减以满足光电探测器的量程范围。

经大气传输后的远场激光，通常以一定角度入射光电探测器阵列，由于大气传输的不确定性及高能激光使用方式的多样性，因此必须同时保证在较大入射角范围内，光电探测器能正常工作。

为保证探测器阵列具有较大的视场角，目前常用的方法为在探测器金属前面板上进行倒角，形成具有一定角度的锥孔，增大探测器取样通道的视场角，如申请号为201110231864.0的中国专利“一种高能激光半积分球阵列衰减器”(见图1)，视场角与倒角角度成一定的线性关系，通过增大取样板表面倒角的角度来增大整个探测装置的取样角度。这种处理方式存在的问题是在需要承受强激光辐照的前面板上掏空一个大角度的锥孔，尤其对于面阵结构探测而言，意味着前面板的质量减小，吸热的能力降低，故削弱了前面板的抗激光损伤能力，使得探测器阵列用于高功率激光能量测量时易被损伤，且倒角角度越大，抗激光损伤能力越差，故难以用于斜入射时激光光强衰减及参数测量。此外，倒角的存在增大了探测器阵列之间的距离，降低了探测器阵列空间分辨力，限制了这种方法的应用范围。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种高能激光的大角度探测方法，可以实现高能激光功率密度的大角度探测，且具有较强的抗激光损伤能力。

为解决上述技术问题，本发明的基本构思是：

用于大角度入射高能激光的衰减取样装置，包括沿激光入射方向依次设置的前面板、衰减单元和后面板，前面板上设置有激光入射的取样直孔，后面板上设置有激光出射孔，衰减单元包括前透射窗、后透射窗和与圆柱空腔，前透射窗紧贴取样直孔设置，后透射窗紧贴激光出射孔设置，圆柱空腔与取样直孔、激光出射孔同轴设置，圆柱空腔内填充有颗粒状的光学体散射材料。

上述用于大角度入射高能激光的衰减取样装置中，前透射窗和后透射窗的材料为石英、硅或碳化硅。

上述用于大角度入射高能激光的衰减取样装置中，光学体散射材料为石英砂或玻璃微珠。

上述用于大角度入射高能激光的衰减取样装置中，前面板和后面板的材料为石墨、铝或铜。

上述用于大角度入射高能激光的衰减取样装置中，前面板的迎光面为漫反射面。

本发明具有的有益效果有：

1、本发明衰减取样装置中，激光经过取样孔耦合进衰减单元，经内壁及材料吸收和体散射后由激光出射孔射出，可以将光束能量在较大范围内的空间中重新分布，并具有匀化效果，同时保证了取样直孔具有较好的角度特性，实现激光斜入射时的大角度衰减取样，且可以满足激光功率密度的大幅衰减；同时取样直孔无需在前面板上进行大范围、大角度锥孔的掏空，从而提高了前面板的抗激光辐照能力，并可用于高空间分辨的光强探测。

2、本发明衰减取样装置中，在取样孔处设置有漫透射光学窗，使得经过光学窗的激光再耦合进后续单元，且对光束起到匀化作用，进一步改善了衰减器的入射角度特性。

3、本发明衰减取样装置中的前面板表面采用漫反射处理，提高了表面反射率，同时防止了反射的高能激光损坏光路上的其它元器件；

4、本发明在前后面板的两侧设计定位用的固定螺钉孔，确保了两块面板上大角度取样孔和半积分球空腔的安装精度，最终确保了取样单元衰减系数的一致性。

附图说明

图1为现有专利“一种高能激光半积分球阵列衰减器”原理示意图。

图2为本发明衰减取样装置单元结构示意图。

图3为本发明衰减取样装置单元入射光散射原理示意图。

图4为本发明衰减取样装置单元原理验证实验结果。

图5为本发明衰减取样装置阵列结构示意图。

其中：1—前面板；2—后面板；3—前透射窗；4—圆柱空腔；5—体散射材料；6—取样直孔；7—激光出射孔；8—固定螺钉孔；9—后透射窗。

具体实施方式