[发明专利]一种用于重卷剖分机组双卷取机的同步控制系统有效

专利信息
申请号: 201410265461.1 申请日: 2014-06-16
公开(公告)号: CN104084448A 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 李剑;刘渭苗;李宏伟;孙延葳;连斌忠 申请(专利权)人: 中国重型机械研究院股份公司
主分类号: B21C47/02 分类号: B21C47/02
代理公司: 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 代理人: 张培勋
地址: 710032 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 用于 重卷剖分 机组 卷取 同步 控制系统
【说明书】:

技术领域

 本发明属于冶金行业冷轧带钢精整设备领域,特别是一种重卷剖分机组双卷取机同步控制方法,通过在卷取机机组设置卷径误差监控及自动调整系统,对带钢进行剖分生产,两条带钢同时卷取时,两台卷取机的张力控制工艺。

背景技术

  伴随着近些年汽车工业及家电产业的发展,市场对于高品质的汽车板和家电板的需求越来越大,同时对生产效率也有跟高的要求。重卷剖分机组是对利用宽幅板材剖分成等幅面的窄板而设计的机组。 针对重卷剖分机组运行时采用双卷取机工作,由于两台卷取机的布置位置处于前后布置,两台卷取机的实际工作卷径并不相同,如果两台卷取机间的张力误差较大,会出现带材跑偏而导致机组无法正常运行。

发明内容

 本发明的目的在于通过在重卷剖分机组设置卷径误差监控及自动调整系统,避免了两台卷取机间的张力误差较大,出现带材跑偏而导致机组无法正常运行,保障了两台卷取机的工作张力一致,对带钢进行剖分生产,两条带钢同时卷取时,两台卷取机的张力控制工艺。

  为此,本发明提供了一种用于重卷剖分机组双卷取机的同步控制系统,其包括剖分机组,第一卷取机和第二卷取机,其特征在于:还包括用于监控第一卷取机和第二卷取机卷径误差的卷径误差监控系统和调整第一卷取机和第二卷取机卷径的卷径自动调整系统;所述卷径误差监控系统和卷径自动调整系统包括用于测量卷径各项参数的测量单元,用于计算整理测量单元传送过来的各项数据的计算单元,设置有卷径门槛值的对比单元,用于调节第一卷取机和第二卷取机卷径的调整单元,所述的测量单元测量出第一卷取机和第二卷取机的卷径各项参数,并把测量后的数据传送给计算单元进行计算,并与设有门槛值的对比单元进行对比,当计算单元计算出的值超过对比单元所设的门槛值时,对比单元把所对比后的结果传送给调整单元,调整单元判断出第一卷取机和第二卷取机各自卷径误差的大小,并以其中误差较小的卷取机为基准控制卷取张力,并对卷径误差较大的卷取机卷径进行调整。

所述测量单元包括用于测量已卷取的带材长度L、卷材厚度H,机组线速度v以及卷取机转速n的编码器。

 所述测量单元测得各项值传送给计算单元,计算单元计算出当前基准卷取机卷径的参考值,并根据两台卷取机之间的布置位置和基准卷取机卷径的参考值计算出从动卷取机相对于基准卷取机卷径的参考卷径差。

   所述计算单元采用两种卷径计算方式:

    卷径计算方式一:                                                  

卷径计算方式二:               ;

其中,L为已卷取长度,H为卷材厚度,r为卷内径,v为机组线速度,i为速比以及n为转速。

    本发明的有益效果为通过在重卷剖分机组设置卷径误差监控及自动调整系统,从而避免了两台卷取机间的张力误差较大,会出现带材跑偏而导致机组无法正常运行,保障了两台卷取机的工作张力一致。

以下将结合附图对本发明做进一步详细说明。

附图说明

    图1为本发明的卷径误差监控及自动调整系统工作流程图;

图2为本发明的双卷取机监控和调整流程图。

图中,1、测量单元; 2、计算单元; 3、对比单元; 4、调整单元;5、第一卷取机;6、第二卷取机。

具体实施方式

如图1所示,一种用于重卷剖分机组双卷取机的同步控制系统,其包括机组,第一卷取机5和第二卷取机6,所述重卷剖分机组设置安装了卷径误差监控以及自动调整系统,所述卷径误差监控自动调整系统包括用于测量卷径各项参数的测量单元1,用于计算整理测量单元传送过来的各项数据的计算单元2,计算单元2的数据传送至设置有卷径门槛值的对比单元3,监控到卷径误差大于监控门槛值之后将发送信号至调整单元4,所述自动以另一台未发生卷径计算错误的卷取机为基准控制卷取张力,并将发生卷径计算错误卷取机的卷径计算切换到根据新基准卷取机卷径和两台卷取机布置位置差计算的卷径。

所述对比单元3内设置有阀值比较器,所采用的芯片型号为LM324、LM358、uA741、TL081/2/3/4、OP07或者OP27。

所述调整单元4内设置安装有报警器,所采用芯片型号为555芯片或ISD4003。

所述测量单元1包括用于测量已卷取的带材长度L、卷材厚度H,机组线速度v以及卷取机转速n的编码器。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国重型机械研究院股份公司,未经中国重型机械研究院股份公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410265461.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top