[发明专利]用于气体吸收频谱检测的校准方案有效
申请号: | 201410256989.2 | 申请日: | 2014-06-11 |
公开(公告)号: | CN104237258B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 菲利普·米歇尔·纳多;巴赫尔·S·哈龙;斯里纳特·马图尔·拉马斯瓦米 | 申请(专利权)人: | 德州仪器公司 |
主分类号: | G01N22/00 | 分类号: | G01N22/00 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 路勇 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 气体 吸收 频谱 检测 校准 方案 | ||
本发明涉及一种用于气体吸收频谱检测的校准方案。一种用于从传输频谱移除背景的技术,其包含:确定(402)检测器的性能特性;测量(404)包含吸收线的传输频谱;确定(406)气体池的性能特性;及通过组合所述传输频谱与所述检测器的所述性能特性及所述气体池的所述性能特性而从所述传输频谱移除(408)背景频谱。
技术领域
本发明一般来说涉及一种用于气体吸收频谱检测的校准方案。
背景技术
频谱及频谱仪可用作各种测量及参考工具。此类工具可对几乎任一形式的物质使用大量测量技术。测量技术可取决于所关注的材料,所述材料可决定何种频率/波长可最适于测量。举例来说,频谱仪可适于测量发射或吸收频谱。此外,吸收频谱仪可特定寻找材料的特性吸收线。吸收线可用于从一系列已知频谱识别未知物质,或吸收线可用于检测样本中的已知物质的量。一般来说,频谱原理可用于各种测量或用于基于频率或波长界定参考。
发明内容
一种用于从传输频谱移除背景的技术,其包含:确定检测器的性能特性;测量包含吸收线的传输频谱;确定气体池的性能特性;及通过组合所述传输频谱与所述检测器的所述性能特性及所述气体池的所述性能特性而从所述传输频谱移除背景频谱。
一种用于从经测量频谱移除背景频谱的系统,其包含:吸收池,其含有气体;射频(RF)发射器,其用以将RF信号发射穿过所述吸收池;检测器,其用以接收所述RF信号;及控制模块,其耦合到所述发射器及所述检测器。所述控制模块用以:估计所述检测器的性能特性及所述气体池的性能特性;测量所述吸收池中的所述气体的传输频谱;及组合所述传输频谱与所述气体池及所述检测器的所述性能特性以从所述传输频谱移除背景频谱。
一种频谱仪,其包含:吸收池,其含有气体;射频(RF)发射器,其用以将RF信号发射到所述吸收池中;RF接收器,其用以接收所述RF信号;及RF信号产生与检测模块,其耦合到所述发射器及所述接收器。所述RF信号产生与检测模块用以:产生所述RF信号;检测由所述接收器接收的所述RF信号;及基于所述所接收RF信号测量传输频谱,其中所述经测量传输频谱包含所述气体的吸收线及背景频谱。所述RF信号产生与检测模块还用以:从所述传输频谱移除所述背景频谱从而留下吸收线频谱,其中所述移除所述背景频谱校准了所述频谱仪;基于所述吸收线频谱产生误差信号;及调整所述所发射RF信号以锁定所述吸收线频谱。
附图说明
针对本发明的示范性实施例的详细说明,现在将参考所附图式,其中:
图1展示根据各种实例的实施校准与误差校正方案的频谱仪100的框图;
图2展示根据各种实例的频谱仪100的另一框图;
图3展示根据各种实例的表示误差信号的实施方案且用以产生等于吸收线的中心频率的振荡器频率的控制系统的框图;及
图4是根据本文中所论述的各种实例的用于实施校准与补偿方案的方法400的流程图。
符号及命名法
遍及以下说明及权利要求书使用特定术语来指特定系统组件。如所属领域的技术人员将了解,公司可以不同名称提及一组件。本文件不打算区分在名称但非功能上不同的组件。在以下论述中及在权利要求书中,术语“包含(including)”及“包括(comprising)”是以开放式方式使用的,且因此应解释为意指“包含但不限于…”。此外,术语“耦合(couple或couples)”打算意指间接或直接连接。因此,如果第一装置耦合到第二装置,那么所述连接可通过直接连接或通过经由其它装置及连接的间接连接。
具体实施方式
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