[发明专利]一种三维点云直线特征提取方法有效
申请号: | 201410205200.0 | 申请日: | 2014-05-15 |
公开(公告)号: | CN103942824B | 公开(公告)日: | 2017-01-11 |
发明(设计)人: | 王程;林阳斌;程俊;陈碧黎;贾福凯;李军 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | G06T15/00 | 分类号: | G06T15/00;G06T7/00 |
代理公司: | 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙)44309 | 代理人: | 刘辉,廉红果 |
地址: | 361000 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 三维 直线 特征 提取 方法 | ||
1.一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、将原始点云沿不同方向投影到二维空间,生成多张2D图像并保留深度信息,采用非真实感渲染技术将深度信息转化为图像灰度值,使2D图像具有清晰的边缘;
S2、在2D图像中提取2D直线支持区;
S3、将2D直线支持区反投影到三维空间,得到3D直线支持区。
2.如权利要求1所述的一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于,所述步骤S2具体为:采用LSD算法对2D图像进行直线检测分割,提取一组直线支持区,并采用反证检验法来控制虚假检测。
3.如权利要求1所述的一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于:其还包括步骤S4,将3D直线支持区拟合成LSHP结构,所述LSHP结构为一对侧边相接的3D矩形片。
4.如权利要求3所述的一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于:其还包括步骤S5,对每张2D图像重复步骤S1-S4,得到多个LSHP结构,对所述的多个LSHP结构进行合并、扩展。
5.如权利要求3或4所述的一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于,所述步骤S4具体包括以下分步骤:
S41、将3D直线支持区沿着其主轴方向投影到2D平面,得到投影点集;
S42、在投影点集中提取V字型点集区域;
S43、采用最小中值二乘法对V字型点集区域的左、右两部分分别用平面进行拟合,得到两个拟合平面;
S44、根据两个拟合平面将3D支持区分成两个子区域,根据两个子区域内的点分别计算LSHP结构两个矩形片的参数。
6.如权利要求5所述的一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于,所述步骤S4还包括分步骤S45,基于LSHP结构验证3D直线支持区的置信度并滤除虚假的3D直线支持区。
7.如权利要求6所述的一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于,所述分步骤S45包括以下子步骤:
S451、判断LSHP结构是否满足位置约束条件,若不满足,则将其对应的3D直线支持区作为虚假3D直线支持区进行滤除,所述位置约束条件为:
其中,P为3D直线支持区的其中一个部分,β为拟合平面,阈值θ是原始点云中两个最近邻点的平均距离;
S452、判断LSHP结构是否满足参数关系约束条件,若不满足,则将其对应的3D直线支持区作为虚假3D直线支持区进行滤除,所述参数关系约束条件为:
其中,w1、w2分别为两个3D矩形片的宽度,t1、t2分别为两个3D矩形片的厚度,α为两个3D矩形片的夹角。
8.如权利要求4所述的一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于,所述步骤S5具体包括以下分步骤:
S51、对每张2D图像重复步骤S1-S4,得到多个LSHP结构;
S52、对于两两有交集的3D直线支持区,判断其合并后是否满足所述位置约束条件,若满足,则对其进行合并,并计算合并后的LSHP结构;
S53、将LSHP结构沿其直线段方向来进行区域增长;
S54、判断区域增长后LSHP结构是否满足所述位置约束条件,若满足,则对区域增长后的LSHP结构重复步骤S53,若不满足,则取消本次区域增长并停止。
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