[发明专利]一种三维点云直线特征提取方法有效

专利信息
申请号: 201410205200.0 申请日: 2014-05-15
公开(公告)号: CN103942824B 公开(公告)日: 2017-01-11
发明(设计)人: 王程;林阳斌;程俊;陈碧黎;贾福凯;李军 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: G06T15/00 分类号: G06T15/00;G06T7/00
代理公司: 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙)44309 代理人: 刘辉,廉红果
地址: 361000 *** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 三维 直线 特征 提取 方法
【权利要求书】:

1.一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、将原始点云沿不同方向投影到二维空间,生成多张2D图像并保留深度信息,采用非真实感渲染技术将深度信息转化为图像灰度值,使2D图像具有清晰的边缘;

S2、在2D图像中提取2D直线支持区;

S3、将2D直线支持区反投影到三维空间,得到3D直线支持区。

2.如权利要求1所述的一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于,所述步骤S2具体为:采用LSD算法对2D图像进行直线检测分割,提取一组直线支持区,并采用反证检验法来控制虚假检测。

3.如权利要求1所述的一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于:其还包括步骤S4,将3D直线支持区拟合成LSHP结构,所述LSHP结构为一对侧边相接的3D矩形片。

4.如权利要求3所述的一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于:其还包括步骤S5,对每张2D图像重复步骤S1-S4,得到多个LSHP结构,对所述的多个LSHP结构进行合并、扩展。

5.如权利要求3或4所述的一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于,所述步骤S4具体包括以下分步骤:

S41、将3D直线支持区沿着其主轴方向投影到2D平面,得到投影点集;

S42、在投影点集中提取V字型点集区域;

S43、采用最小中值二乘法对V字型点集区域的左、右两部分分别用平面进行拟合,得到两个拟合平面;

S44、根据两个拟合平面将3D支持区分成两个子区域,根据两个子区域内的点分别计算LSHP结构两个矩形片的参数。

6.如权利要求5所述的一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于,所述步骤S4还包括分步骤S45,基于LSHP结构验证3D直线支持区的置信度并滤除虚假的3D直线支持区。

7.如权利要求6所述的一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于,所述分步骤S45包括以下子步骤:

S451、判断LSHP结构是否满足位置约束条件,若不满足,则将其对应的3D直线支持区作为虚假3D直线支持区进行滤除,所述位置约束条件为:

medianpP(dist(p,β))θ]]>

其中,P为3D直线支持区的其中一个部分,β为拟合平面,阈值θ是原始点云中两个最近邻点的平均距离;

S452、判断LSHP结构是否满足参数关系约束条件,若不满足,则将其对应的3D直线支持区作为虚假3D直线支持区进行滤除,所述参数关系约束条件为:

14w1w2sin(α)>t1w1+t2w2]]>

其中,w1、w2分别为两个3D矩形片的宽度,t1、t2分别为两个3D矩形片的厚度,α为两个3D矩形片的夹角。

8.如权利要求4所述的一种三维点云直线特征提取方法,其特征在于,所述步骤S5具体包括以下分步骤:

S51、对每张2D图像重复步骤S1-S4,得到多个LSHP结构;

S52、对于两两有交集的3D直线支持区,判断其合并后是否满足所述位置约束条件,若满足,则对其进行合并,并计算合并后的LSHP结构;

S53、将LSHP结构沿其直线段方向来进行区域增长;

S54、判断区域增长后LSHP结构是否满足所述位置约束条件,若满足,则对区域增长后的LSHP结构重复步骤S53,若不满足,则取消本次区域增长并停止。

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