[发明专利]一种提高信号分析仪频谱测量准确度的方法有效
申请号: | 201410201960.4 | 申请日: | 2014-05-14 |
公开(公告)号: | CN104020330A | 公开(公告)日: | 2014-09-03 |
发明(设计)人: | 王保锐;许建华;王峰;刘丹 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01R13/00 | 分类号: | G01R13/00;G01R23/16 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 王连君 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 信号 分析 频谱 测量 准确度 方法 | ||
1.一种提高信号分析仪频谱测量准确度的方法,其特征在于,通过双层显示窗口显示频谱信息,双层显示窗口分为下层显示窗口和上层透明显示窗口,下层显示窗口为扫描粗频谱显示窗口,粗频谱显示窗口显示抽取过的频谱或信号;上层透明显示窗口为扫描频谱细节显示窗口,扫描频谱细节显示窗口显示下层每个频率点对应的抽取范围内的频谱细节,并以半透明背景的方式显示刷新频谱细节;
其操作步骤如下:
(1)首先将频谱测量的频点按序全部存储在测量数据缓冲区中,不进行任何的抽取操作;
(2)根据测量频点总数及屏幕分辨率确定上层透明窗口的横向大小和数据抽取比;
(3)根据数据抽取比进行数据抽取;
(4)在上层透明窗口显示频谱细节;
(5)读取屏幕上某点的频谱和功率信息。
2.根据权利要求1所述的一种提高信号分析仪频谱测量准确度的方法,其特征在于,所述步骤(2)中,测量数据缓冲区中测量的频点总数为n,根据屏幕分辨率确定下层显示频点数为m,上层透明窗口的横向大小为X,X的值根据频点总数n、下层显示频点数m确定;频点总数n能被下层频谱显示点数m整除,X=n/m+1;数据总点数n不能被下层显示频点数m整除,X=n/m。
3.根据权利要求2所述的一种提高信号分析仪频谱测量准确度的方法,其特征在于,所述步骤(3)中,抽取比即为上层透明窗口的横向大小X,横向大小X为上层透明显示窗口显示频点数,从测量频点总数n中每间隔X抽取1个频点放到下层显示窗口对应的显示缓存中,一共抽取m个频点,把m个下层频谱显示频点按频谱显示要求在下层显示窗口中描点连线,显示整个频率范围的频谱扫描曲线。
4.根据权利要求3所述的一种提高信号分析仪频谱测量准确度的方法,其特征在于,所述步骤(4)中,在下层频谱显示窗口之上,以用户选择的横向坐标点为中心,创建上层透明窗口,在其中显示X个频点的频谱信息,幅度或功率等显示转换比例与下层窗口完全一致。
5.根据权利要求4所述的一种提高信号分析仪频谱测量准确度的方法,其特征在于,所述上层透明窗口与下层窗口的轨迹以不同的颜色显示。
6.根据权利要求1所述的一种提高信号分析仪频谱测量准确度的方法,其特征在于,所述上层透明窗口与下层窗口同步刷新。
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