[发明专利]一种光学凸球面面形的检测装置及方法有效
申请号: | 201410199400.X | 申请日: | 2014-05-12 |
公开(公告)号: | CN103954235A | 公开(公告)日: | 2014-07-30 |
发明(设计)人: | 许嘉俊;贾辛;徐富超;邢廷文 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学 球面 检测 装置 方法 | ||
1.一种光学凸球面面形的检测装置,其特征在于,
该装置包括:光源、第一滤波孔、第一扩束镜、第二滤波孔、第二扩束镜、λ/4波片、第一聚焦透镜、小孔衍射板、第二聚焦透镜、夹持架、成像透镜、CCD探测器和计算机;其中:
第一滤波孔放置在光源的出光口,第一扩束镜放置在第一滤波孔和第二滤波孔中间,第一滤波孔放置的位置为第一扩束镜物面位置,第二滤波孔放置在第一扩束镜像面位置;第二扩束镜的前焦点与第二滤波孔的位置重合,λ/4波片放置在第二扩束镜与第一聚焦透镜之间,小孔衍射板放置在第一聚焦透镜焦点处,小孔衍射板的小孔中心与焦点重合;
光源,用于发出波长可变的激光作为照明光源,并实现测量过程中的移相;
第一滤波孔,利用衍射效应将光源发出的光发散;
第一扩束镜,用于收集通过第一滤波孔后的发射光;
第二滤波孔,用于过滤经第一扩束镜聚焦后光束中的杂散光;
第二扩束镜,用于将第二滤波孔过滤后的发散光变为平行光;
λ/4波片,用于将光源发出的线偏振光转化为圆偏振光;
第一聚焦透镜,用于平行光束聚焦;
小孔衍射板,用于产生衍射波,并反射聚焦后的检测光束;
第二聚焦透镜位于小孔衍射板和夹持架之间;
夹持架,用于放置凸球面或者随机球;
第一滤波孔、第一扩束镜、第二滤波孔、第二扩束镜、λ/4波片、第一聚焦透镜各中心与小孔衍射板上的小孔中心都在同一光轴上;第二聚焦透镜将一部分发散的小孔衍射波转换为会聚波,经夹持架上的被测凸球面或随机球反射后,形成检测光束;检测光束被第二聚焦透镜聚焦,再经小孔衍射板背面反射,与另一部分未经被测凸球面反射的小孔衍射波相遇而形成干涉,所述另一部分衍射波作为参考光束;
成像透镜位于小孔衍射板与CCD探测器之间,CCD探测器放在成像透镜后面,成像透镜,用于将所述检测光束和所述参考光束相遇后的干涉图案投射到CCD探测器上;
计算机与光源、CCD探测器连接,计算机控制光源按照测量要求调制波长,并存储处理CCD探测器记录的干涉图案,标定系统误差,计算被测凸球面面形。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于:所述光源发出波长可调制的照明光,光源是可调谐激光器,或是单纵模激光器结合波长调制器件。
3.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于:所述第一滤波孔是尺寸经过选择的小孔,或是使光束发散的器件。
4.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于:所述第一扩束镜、第二扩束镜、第一聚焦透镜、第二聚焦透镜和成像透镜分别采用透镜,或者是透镜组组合。
5.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于:所述小孔衍射板上有直径在微米或者亚微米量级的圆形小孔,背面为镀有反射膜的平面。
6.一种光学凸球面面形的检测方法,其特征在于:该检测方法利用小孔产生参考波,采用波长移相的方法,利用随机球多次测量,将凸面检测结果中的系统误差去除,用于提高检测精度,具体检测步骤如下:
步骤A1:光源发出的线偏振准单色光经过第一滤波孔发散,经第一扩束镜、第二滤波孔和第二扩束镜滤波准直,垂直入射到λ/4波片上,并转换为圆偏振光;第一聚焦透镜将准直光束聚焦入射到小孔衍射板上的小孔中心,发生衍射;被测凸球面放置在夹持架上,第二聚焦透镜将一部分衍射波聚焦在被测凸球面球心处;经被测凸球面反射的衍射波形成检测光束,微调整被测凸球面位置,使检测光束聚焦到小孔衍射板上的小孔附近反射,并与另一部分衍射波作为参考光束的衍射波相遇,进入成像透镜,最终成像在CCD探测器上,由计算机记录下干涉图,通过计算机控制光源改变波长,形成移相,记录下N幅干涉图;通过数据处理得到检测结果W,W为携带有第二聚焦透镜引入像差的凸球面面形信息,表示如下:
W=Wfigure+Wfocus
其中Wfigure为被测凸球面面形信息,Wfocus为第二聚焦透镜引入像差;由于小孔直径在微米和亚微米量级,参考波面像差小于λ/104,忽略不计;
步骤A2:将被测凸球面换为随机球,保证随机球球心与凸球面球心重合,重复步骤A1,得到检测结果G1,G1为携带有第二聚焦透镜引入像差的随机球表面局部面形信息,表示如下:
G1=S1+Wfocus
其中S1为随机球表面引入误差,随机转动随机球,重复测量多次,得到N′个测量结果G1、G2、…GN′,每个测量结果Gn均携带有第二聚焦透镜引入像差和随机球表面局部面形信息;但是由于随机球随机转动,每次测量在随机球上的反射点不同,所携带的表面局部面形信息也不同,对这些结果求算术平均值G如下表示:
其中n为随机球测量的次数,n=1,2,3……N′,当N′数量足够大,有G≈Wfocus,即得到第二聚焦透镜引入像差;
步骤A3:将步骤A1中携带有第二聚焦透镜引入像差的凸球面面形信息W减去步骤A2中第二聚焦透镜引入像差G,得到被测凸球面表面面形信息表示如下:
Wfigure=W-G。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410199400.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:矿用自卸车平台
- 下一篇:用于控制车辆的转向系统的方法和系统