[发明专利]一种主板键盘接口的测试电路、系统及其测试方法

权利要求书

1.一种主板键盘接口的测试电路，用于模拟键盘输出按键信号对主板键盘接口进行测试，其特征在于，包括依次连接的启动电路（100）、控制电路（200）、开关电路（300）和键盘排线接口（400）；

所述键盘排线接口（400）用于连接待测试主板键盘接口；

所述启动电路（100）用于发送启动测试信号；

所述控制电路（200）用于在接收到启动测试信号时启动测试，并逐次发送与按键对应的地址信号；

所述开关电路（300）用于接收所述地址信号，并根据所述地址信号对所述待测试主板按键接口逐次输入对应的按键信号，每个所述按键信号用于导通待测试主板键盘接口的与按键对应的按键引脚。

2.根据权利要求1所述的主板键盘接口的测试电路，其特征在于，所述控制电路（200）包括型号为STC11F04E的单片机（U1），所述开关电路（300）包括型号为CH446Q的模拟开关阵列芯片（U2）；

所述单片机（U1）的P37引脚连接至所述启动电路（100）；

所述模拟开关阵列芯片（U2）的AX0引脚至AX3引脚分别一一对应的连接至所述单片机（U1）的P10引脚至P13引脚；所述模拟开关阵列芯片（U2）的AY0引脚至AY2引脚分别一一对应的连接至所述单片机（U1）的P14引脚至P16引脚；

所述模拟开关阵列芯片（U2）的STB引脚、DAT引脚、RST引脚分别一一对应的连接至所述单片机（U1）的P35引脚、P33引脚、P32引脚。

3.根据权利要求1所述的主板键盘接口的测试电路，其特征在于，所述键盘排线接口（400）包括第一键盘排线接口（KBCON1）和第二键盘排线接口（CONN1），所述启动电路（100）还连接至所述第一键盘排线接口（KBCON1）；所述开关电路（300）包括型号为CH446Q的模拟开关阵列芯片（U2）；

所述模拟开关阵列芯片（U2）的X0引脚至X15引脚以及Y0引脚至Y7引脚分别一一对应的连接至所述第一键盘排线接口（KBCON1）中的24个对应的引脚，所述模拟开关阵列芯片（U2）的X0引脚至X15引脚以及Y0引脚至Y7引脚还分别一一对应的连接至所述第二键盘排线接口（CONN1）中的24个对应的引脚。

4.根据权利要求3所述的主板键盘接口的测试电路，其特征在于，

所述启动电路（100）包括：一个3脚的排针（J1）、连接在所述排针（J1）上的短路帽（JP1）、MOS管（QN1）、按键开关（SW1）；

所述按键开关（SW1）的一个引脚接地，所述按键开关（SW1）的另一个引脚连接至所述MOS管（QN1）的漏极；所述MOS管（QN1）的漏极连接至所述控制电路（200），所述MOS管（QN1）的源极连接至所述排针（J1）的2号引脚，所述MOS管（QN1）的栅极和所述排针（J1）的1号引脚分别一一对应的连接至所述第一键盘排线接口（KBCON1）中的2个对应的引脚；

测试时，根据主板键盘接口对应的键盘类型选择第一键盘排线接口（KBCON1）或第二键盘排线接口（CONN1）：当选择第一键盘排线接口（KBCON1）时，所述启动电路（100）发送所述启动测试信号的触发方式包括自动触发和手动触发，进行自动触发时，所述短路帽（JP1）插接在所述排针（J1）的1号引脚和2号引脚上；当选择第二键盘排线接口（CONN1）时，所述启动电路（100）发送所述启动测试信号的触发方式为手动触发。

5.根据权利要求4所述的主板键盘接口的测试电路，其特征在于，所述启动电路（100）还包括用于模拟CAP指示灯的发光二极管（D1）；

所述发光二极管（D1）的负极连接至所述排针（J1）的1号引脚，所述发光二极管（D1）的正极连接至所述MOS管（QN1）的栅极。

6.根据权利要求1所述的主板键盘接口的测试电路，其特征在于，所述启动电路（100）发送所述启动测试信号的触发方式为手动触发；

所述启动电路（100）包括按键开关（SW1）；所述按键开关（SW1）的一个引脚接地，所述按键开关（SW1）的另一个引脚连接至所述控制电路（200）。