[发明专利]一种磁纳米温度成像方法及系统有效
申请号: | 201410128659.5 | 申请日: | 2014-04-01 |
公开(公告)号: | CN103892809A | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
发明(设计)人: | 刘文中;皮仕强;毛文平;钟景;何乐 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | A61B5/01 | 分类号: | A61B5/01 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 纳米 温度 成像 方法 系统 | ||
1.一种磁纳米温度成像方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)将磁纳米试剂置放于待测一维空间;
(2)向磁纳米试剂所在一维空间同时施加恒定直流磁场Hdc=b和交流激励磁场,采集待测空间磁纳米试剂的交流磁化强度信号,获取该交流磁化强度信号的各奇次谐波幅值A1,A3…A2j-1,谐波个数j≥2,b为恒定直流磁场的幅值;
(3)保持步骤(2)中的交流激励磁场不变,将步骤(2)中的恒定直流磁场替换为组合直流磁场
(4)计算步骤(3)中各奇次谐波幅值B1,B3…B2j-1与步骤(2)中各奇次谐波幅值A1,A3…A2j-1之间的差值S1,S3…S2j-1;
(5)根据各奇次谐波幅值差与在体温度的关系式
其中,c=NMs,N为磁纳米粒子浓度,Ms为磁纳米试剂原子有效磁矩,k0为波尔兹曼常数,磁纳米粒子的磁化强度由朗之万函数描述,c·f2j-1(y,z(rk))为朗之万函数的有限项泰勒级数展开得到的第2j-1次谐波幅值表达式,z(rk)为[x1,x1+Δx]区间内的第k个离散点rk对应的直流磁场大小,m为[x1,x1+Δx]区间被离散化的点数;
(6)改变直流梯度磁场f(x)的起始位置使得宽度为Δx的直流梯度磁场f(x)扫描至下一个区间,重复步骤(3)~(5)得到下一个区间的在体温度,按照此方式重复测试直到待测一维空间温度检测完毕。
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