[发明专利]锥形空间压缩等离子体检测系统

说明书

技术领域

本发明属于检测系统，具体涉及一种通过锥形空间压缩实现增强等离子体检测的检测系统。

背景技术

等离子体检测，是通过测量物质表面诱导等离子体光谱是近几年逐渐兴起的一种光谱检测技术，它是原子发射光谱的一种。到目前为止，等离子体技术是所知的唯一能够在任何环境下检测所有元素的光谱的技术；同时也可检测各种处于固体、液体、粉末、气体形式的样品形式。同时等离子体检测技术还有测量速度快、可远程非接触测量、系统结构组成简单等很多优点。基于等离子体检测技术很多的优点和通用性，有人称之为“万能”的检测技术。

同时它不需要对样品进行预处理、可以多元素同时分析、装置简单、灵敏度高且破坏性小，因其独特的优势现已经被应用与冶金、环境、考古、地址、医学等诸多领域。

但是传统等离子体检测存在一定问题，例如检测下限不足够低，导致很多元素含量的最低检出值高于国家标准规定值，这样给等离子体检测的全面推广向食品安全与环境检测增加了难度。通过本发明可以很大程度降低检测下限，使得更多检测满足对应国家规定标准。

锥形空间压缩增强等离子体检测系统具有突出特点：(1)、更低的检测下限，最大程度的满足不同行业使用需求，可以检测出对应国家标准规定数值；(2)、检测样品表面诱导出的等离子空间压缩，增强探测模块所探测等离子体强度；(3)、独特锥形与非球面复合设计，通过两者的结合使用，在空间压缩等离子体的同时也不影响激光器的正常使用效率：(4)、增强适用广，由于是诱导出等离子体的空间压缩，在探测模块处增强，故适用于任何物质的检测。

发明内容

本发明的目的是为了提供一种锥形空间压缩增强等离子体检测系统，该检测系统能够更好的检测出物质中元素种类，并且具有更低的检测下限；它具有零样品预处理、零耗材需求、零损伤等突出特点。

为达到上述目的，本发明采用以下方案：

一种锥形空间压缩增强等离子体检测系统，它可以独立完成检验工作，无需其它设备辅助，检测系统由光源模块、锥形压缩模块、样品模块、控制模块、探测模块、逻辑模块和显示模块组成；

光源模块主要是由激光组成，激光的波长可以是1064、532、355、266、213或193nm，也可以是其它光源。

探测模块受控制模块控制，探测模块在光源模块发出光之后一定时间进行采集信号，采集的信号传输到逻辑模块，逻辑模块计算出对应物质所含元素种类与含量，同时逻辑模块还需要向控制模块发出指令，使得控制模块执行对应控制信息，因为不同物质所需控制指令不同，这样才能实现最优检测，达到最低检测下限。

在其中一些实施例中，所述锥形压缩模块使锥形与非球面，内壁具有一定波长高反射，在探测模块处增强的同时，不影响激光器的正常使用效率。

一种采用上述锥形空间压缩增强等离子体检测系统实现检测，包括以下步骤：

①、逻辑模块给出对应指令发送到控制模块，将检测物质放置杨平模块对应位置上面，控制模块根据指令，分别给光源模块与探测模块指令；

②、光源模块接到指令后激光光源出光，照射到被检测样品表面，诱导出等立体；

③、等离体子在锥形压缩模块内反射与传输，在探测模块处压缩到最大强度，随即探测模块开始采集信号，采集完毕后将信号传输到逻辑模块，逻辑模块处理得出结果在显示模块上面呈现，完成整个检测过程。

本发明改善了传统等离子检测：

1、检测下限高，许多检测不能检测到国家标准规定数值；

2、等离子体探测强度弱；

3、增强方式价格昂贵，主要是靠增加激光器来实现增强检测物质诱导出等立体强度；

4、增强效果通用性下，传统等离子体检测，增强一般只是针对单一元素。

由于锥形空间压缩等离子体检测系统具有样品零预处理、零耗材需求和零损伤等显著特点，又较传统等离子检测具有更低的探测下限、更广泛适用性和超高性价比。

附图说明

图1所示本发明结构图；

图2所示实施例的锥形压缩模块示意连接图；

具体实施方式

为能进一步了解本发明的特征、技术手段以及所达到的具体目的、功能，解析本发明的优点与精神，藉由以下通过实施例对本发明做进一步的阐述。

本发明提出来了等离子检测系统的一种设计方案，提供了一个具有更低检测下限的检验方法。

本发明实例的结构图参见附图1，锥形压缩等离子体示意图为图2，下端连接杨平模块(3)，侧面连接探测模块(5)，内壁X为具有波长150-450nm高反射。