[发明专利]慢盘检测方法和装置

说明书

技术领域

本发明实施例涉及计算机技术，尤其涉及一种慢盘检测方法和装置。

背景技术

硬盘由于磁头退化或者其它机械、环境问题，会导致硬盘输入输出（IO，Input/Output）响应时间变长，成为慢盘。

在存储阵列系统中，用户数据并行存储到一系列硬盘中，如果某一个硬盘很慢，会导致整体的读写操作变慢，严重的情况下，会导致业务中断。因此，需要对存储阵列中的各盘进行实时检测确定慢盘，以便及时对慢盘进行隔离或备份。目前，通过将硬盘的IO响应时间与慢盘事件判断门限进行比较来确定慢盘事件，并且当统计周期内某个硬盘的慢盘事件次数超过一定次数时将该硬盘判定为慢盘的方法来检测慢盘。其中，采用将存储阵列中所有硬盘的IO响应时间的平均值作为慢盘事件判断门限来确定存储阵列系统中的慢盘事件。

但是，现有技术时常将正常的硬盘判断为慢盘，误判率较高。

发明内容

本发明实施例提供一种慢盘检测方法和装置。

本发明实施例提供一种慢盘检测方法，包括：

在检测周期内，对存储阵列中各硬盘是否为慢盘进行至少两次慢盘事件检测，所述检测包括：获取存储阵列中各硬盘的输入输出IO响应时间，将各硬盘的IO响应时间与慢盘事件判断门限进行比较，确定各硬盘中IO响应时间超过所述慢盘事件判断门限的硬盘出现慢盘事件，其中，所述慢盘事件判断门限为各硬盘的IO响应时间从高到低排列的前m个IO响应时间的平均值；

在所述检测周期结束时，获得各硬盘出现慢盘事件的次数，确定所述次数超过预设门限的硬盘为慢盘。

本发明实施例提供一种慢盘检测装置，包括：

检测模块，用于在检测周期内，对存储阵列中各硬盘是否为慢盘进行至少两次慢盘事件检测，所述检测包括：获取存储阵列中各硬盘的输入输出IO响应时间，将各硬盘的IO响应时间与慢盘事件判断门限进行比较，确定各硬盘中IO响应时间超过所述慢盘事件判断门限的硬盘出现慢盘事件；

判断门限获得模块，用于每次检测过程中，将各硬盘的IO响应时间从高到低排列的前m个IO响应时间的平均值作为慢盘事件判断门限；

确定模块，用于在所述检测周期结束时，从所述检测模块获得各硬盘出现慢盘事件的次数，确定所述次数超过预设门限的硬盘为慢盘。

本发明实施例提供一种慢盘检测方法和装置，通过将存储阵列中各硬盘的IO响应时间从高到低排列的前m个IO响应时间的平均值作为慢盘事件判断门限，解决现有技术中存储阵列各硬盘工作负荷差异较大，使用将存储阵列中全部硬盘的IO响应时间的平均值作为慢盘事件判断门限时，慢盘误判率较高的问题，降低慢盘误判率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明慢盘检测方法实施例一的流程图；

图2为本发明慢盘检测方法实施例二的流程图；

图3为本发明慢盘检测方法实施例三的流程图；

图4为本发明慢盘检测装置实施例一的结构示意图；

图5为本发明慢盘检测装置实施例二的结构示意图；

图6为本发明慢盘检测装置实施例四的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1为本发明慢盘检测方法实施例一的流程图，如图1所示，本实施例的方法可以包括：

步骤101、在检测周期内，对存储阵列中各硬盘是否为慢盘进行至少两次慢盘事件检测，所述检测包括：获取存储阵列中各硬盘的IO响应时间，将各硬盘的IO响应时间与慢盘事件判断门限进行比较，确定各硬盘中IO响应时间超过所述慢盘事件判断门限的硬盘出现慢盘事件，其中，所述慢盘事件判断门限为各硬盘的IO响应时间从高到低排列的前m个IO响应时间的平均值；

其中，m小于等于存储阵列中硬盘的总数；