[发明专利]电源键合引线焊点的可靠性检测方法有效
申请号: | 201410072811.2 | 申请日: | 2014-02-28 |
公开(公告)号: | CN103822869A | 公开(公告)日: | 2014-05-28 |
发明(设计)人: | 章晓文;何小琦;恩云飞 | 申请(专利权)人: | 工业和信息化部电子第五研究所 |
主分类号: | G01N17/00 | 分类号: | G01N17/00 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 王茹;向群 |
地址: | 510610 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电源 引线 可靠性 检测 方法 | ||
1.一种电源键合引线焊点的可靠性检测方法,其特征在于,包括:
建立键合引线焊点可靠性的测试装置,所述测试装置置于温循箱内,所述测试装置包括:键合引线、过渡片、粘接层和陶瓷基板,各键合引线键合设置在过渡片上,各条键合引线串联,串联后的键合引线一端连接电源的第一接线柱,另一端连接电源的第二接线柱,所述过渡片的粘接面粘接在粘接层上,其中粘接面为键合引线键合面的对立面,所述粘接层设置在陶瓷基板上,其中,所述键合引线为与电源键合引线相同类型的键合引线;
通过所述测试装置获取键合引线焊点初始阻值和当前阻值,并根据初始阻值、当前阻值和预设倍数值判断键合引线焊点是否失效,当键合引线焊点失效时获取温度循环次数,其中,预设倍数值为键合引线焊点失效时阻值增量值与初始阻值的百分比;
根据温度循环次数判断电源键合引线焊点的可靠性。
2.根据权利要求1所述的电源键合引线焊点的可靠性检测方法,其特征在于,所述通过所述测试装置获取键合引线焊点初始阻值和当前阻值,并根据初始阻值、当前阻值和预设倍数值判断键合引线焊点是否失效,当键合引线焊点失效时获取温度循环次数步骤,包括:
通过第一接线柱和第二接线柱获取温循箱启动前键合引线焊点的初始阻值,并实时获取在温循箱启动后键合引线焊点的当前阻值;
计算当前阻值与初始阻值的差值,并判断所述差值是否大于所述初始阻值与预设倍数值的乘积;
若所述差值大于所述乘积,则获取温循箱内的温度循环次数。
3.根据权利要求1所述的电源键合引线焊点的可靠性检测方法,其特征在于,所述通过所述测试装置获取键合引线焊点初始阻值和当前阻值,并根据初始阻值、当前阻值和预设倍数值判断键合引线焊点是否失效,当键合引线焊点失效时获取温度循环次数步骤,包括:
获取温循箱启动前各个测试装置中键合引线焊点初始阻值,并实时获取在温循箱启动后各个测试装置中键合引线焊点当前阻值,其中,键合引线焊点可靠性的测试装置的个数至少为两个,且为相同的测试装置;
分别计算各测试装置当前阻值与初始阻值的差值,并判断所述差值是否大于初始阻值与预设倍数值的乘积;
若所述差值大于所述乘积时,获取温循箱中该测试装置的键合引线的初始温度循环次数、温循的温度范围和弹性区的温度范围,其中,弹性区的温度范围是指键合引线不因温度引起塑性形变的温度范围;
根据各个测试装置的键合引线的初始温度循环次数,利用威布尔分布原理确定中位失效循环次数;
根据所述中位失效循环次数、温循的温度范围、弹性区的温度范围以及公式确定常数Co,其中,Co表示常数,所述常数与键合引线的属性有关,Nf'表示所述中位失效循环次数,ΔT'表示所述温循的温度范围,ΔT0'表示所述弹性区的温度范围,q表示预设指数;
建立该类型键合引线焊点的可靠性检测模型Nf=Co(ΔT-ΔT0)-q,其中,Nf表示温度循环次数,Co表示常数,ΔT表示温循的温度范围,ΔT0表示弹性区的温度范围,q表示预设指数;
根据该可靠性检测模型确定不同温度下该类型键合引线焊点的温度循环次数。
4.根据权利要求1至3所述的电源键合引线焊点的可靠性检测方法,其特征在于,所述温循箱内温循的的温度范围为-55℃~125℃,所述预设倍数值为20%。
5.根据权利要求1至3任意一项所述的电源键合引线焊点的可靠性检测方法,其特征在于,所述电源为气密封装DC/DC电源。
6.根据权利要求1至3任意一项所述的电源键合引线焊点的可靠性检测方法,其特征在于,所述过渡片的个数为键合引线条数减1,相邻键合引线键合在同一块过渡片上。
7.根据权利要求1至3任意一项所述的电源键合引线焊点的可靠性检测方法,其特征在于,所述过渡片为铝制过渡片。
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