[发明专利]温度控制系统在审
| 申请号： | 201410070247.0 | 申请日： | 2014-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN104881064A | 公开（公告）日： | 2015-09-02 |
| 发明（设计）人： | 李义亮;吴舒琪;刘玉林 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G05D23/30 | 分类号： | G05D23/30 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430205 湖北省武汉市东*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 温度 控制系统 | ||
技术领域
本发明涉及一种温度控制系统，特别涉及一种温度控制精确的温度控制系统。
背景技术
传统的温度控制系统通常采用发热电阻对电子设备的工作环境进行加热，进而模拟一高温工作环境对电子设备进行测试。传统的温度控制系统需要测试人员手动的控制加热装置对一温控箱进行加热，进而控制电子设备的测试温度。传统的温度控制系统中温控箱内的温度上升速度慢且温度控制不精确。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种可精确控制测试温度的温度控制系统。
一种温度控制系统，用以对一测试箱内的温度进行控制，包括一控制电路、一升温电路及一降温电路，所述控制电路内可预设一温度预设值，所述控制电路感应所述测试箱内的温度，并在所述测试箱内的温度低于所述温度预设值时发出一第一供电控制信号，所述升温电路接收所述第一供电控制信号，并根据所述第一供电控制信号对所述测试箱内进行加热，当所述测试箱内的温度加热至高于所述温度预设值时，所述控制电路发出一第二供电控制信号，所述降温电路接收所述第二供电控制信号，并根据所述第二供电控制信号对所述测试箱内进行降温。
与现有技术相比，在上述温度控制系统中，所述控制电路感应所述测试箱内的温度，并在所述测试箱内的温度低于所述温度预设值时发出一第一供电控制信号，所述升温电路接收所述第一供电控制信号，并根据所述第一供电控制信号对所述测试箱内进行加热，当所述测试箱内的温度加热至高于所述温度预设值时，所述控制电路发出一第二供电控制信号，所述降温电路接收所述第二供电控制信号，并根据所述第二供电控制信号对所述测试箱内进行降温，温度上升快速且温度控制精确度高。
附图说明
图1是本发明温度控制系统的一较佳实施方式的一框图。
图2是图1中温度控制系统的一较佳实施方式的一电路图。
主要元件符号说明
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