[发明专利]垂直磁记录介质及磁记录再现装置

说明书

本申请基于日本专利申请No.2013-252969号（申请日：2013年12月6日提交）并要求其优先权。该在先申请的全部内容通过引用并入此处。

技术领域

本发明涉及垂直磁记录介质及磁记录再现装置。

背景技术

利用计算机为中心的进行信息记录、再现的磁记录装置（HDD）因其大容量、廉价性、数据访问的快速、数据保存的可靠性等原因而在家庭用录像机、音响设备、车载导航系统等各种领域使用。随着HDD的使用范围扩大，其存储容量的高密度化的要求也增加，近年来HDD的高密度化开发越来越迅速。

作为现在市场销售的HDD的磁记录方式，所谓垂直磁记录方式近年来成为主流。垂直磁记录方式中，构成记录信息的磁记录层的磁性结晶微粒（晶粒）相对于基板在垂直方向上具有其易磁化轴。因此，在高密度化时记录位（ビット）间的去磁场的影响也小，且在高密度化中也能静磁稳定。垂直磁记录介质通常包括：基板；承担在记录时使从磁头产生的磁通量集中的作用的软磁性基底层；使垂直磁记录层的磁性结晶微粒（00.1）面取向并减小其取向分散的非磁性种子层和/或非磁性基底层；包括硬质磁性材料的垂直磁记录层；和保护垂直磁记录层的表面的保护层。

具有磁性结晶微粒被由非磁性物质所构成的晶界区域包围的、所谓颗粒（グラニュラ）结构的颗粒型记录层成为磁性结晶微粒彼此由非磁性晶界区域二维地、物理地孤立化的结构，因此可减小磁性粒子间作用的磁交换作用。因此，能降低记录、再现特性的跃迁噪声，且能降低边界位大小。反过来，由于在颗粒型记录层减小粒子间的交换作用，因此具有与粒子的组成、粒径的分散相伴的反转磁场的分散（SFD）增大的倾向，且具有导致记录、再现特性的跃迁噪声和/或振动噪声的增大的倾向。

此外，记录位大小的下限值很大程度依赖于颗粒型记录层的磁性结晶粒径，因此在HDD的高记录密度化时需要进行颗粒型记录层的粒径微细化。作为颗粒型记录层的粒径微细化法，有使用具有微细的结晶粒径的基底层来使在基底层上层叠的颗粒型记录层粒径微细化的方法。为了使基底层的粒径微细化，可考虑例如研究非磁性种子层或使基底层颗粒化等方法。

发明内容

本发明的实施方式鉴于上述问题而研制，其目的是提供能得到磁性粒子的良好结晶取向性和低粒径分散、且具有良好的记录再现特性、并能进行高密度记录的垂直磁记录介质及使用其的磁记录再现装置。

根据实施方式，提供一种垂直磁记录介质，其特征在于，具备：非磁性基板；取向控制层，其形成于该非磁性基板上且由具有面心立方结构（fcc结构）的镍合金所构成；非磁性缓冲层，其接触地形成于该镍合金取向控制层上且包括具有fcc结构的银；非磁性种子层，其接触地形成于该非磁性缓冲层上且由具有fcc结构的银粒子和设置于银粒子间的非晶质的锗晶界所构成；非磁性中间层，其形成于该非磁性种子层上且由钌或钌合金所构成；以及垂直磁记录层，其形成于该非磁性中间层上。

附图说明

图1是表示实施方式涉及的垂直磁记录介质的一例的构成的剖视图。

图2是将实施方式涉及的磁记录再现装置的一例部分分解的立体图。

图3是表示实施方式涉及的垂直磁记录介质的一例的概要剖视图。

图4是表示作为比较的垂直磁记录介质的一例的概要剖视图。

图5是表示作为比较的垂直磁记录介质的一例的概要剖视图。

图6是表示作为比较的垂直磁记录介质的一例的概要剖视图。

图7是表示作为比较的垂直磁记录介质的一例的概要剖视图。

图8是表示作为比较的垂直磁记录介质的一例的概要剖视图。

具体实施方式

下面参照附图来说明实施方式。

实施方式涉及的垂直磁记录介质具有：非磁性基板；形成于非磁性基板上的由具有fcc结构的镍合金所构成的取向控制层；形成于取向控制层上的、包括具有fcc结构的银的非磁性缓冲层；形成于非磁性缓冲层上的、由具有fcc结构的银粒子和设置于银粒子间的非晶质的锗晶界所构成的非磁性种子层；形成于非磁性种子层上的、由钌或钌合金所构成的非磁性中间层；以及形成于非磁性中间层上的垂直磁记录层。

在实施方式涉及的垂直磁记录介质中，取向控制层和非磁性缓冲层接触地形成、非磁性缓冲层和非磁性种子层接触地形成。

图1是表示实施方式涉及的垂直磁记录介质的一例的构成的剖视图。