[发明专利]一种自动曝光调整方法及系统有效

专利信息
申请号: 201410066666.7 申请日: 2014-02-26
公开(公告)号: CN103826066B 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: 宁珺;杨柁;周志刚;雷永明;周缵 申请(专利权)人: 芯原微电子(上海)有限公司;芯原微电子(北京)有限公司;芯原微电子(成都)有限公司;芯原股份有限公司
主分类号: H04N5/235 分类号: H04N5/235;H04N9/77
代理公司: 上海光华专利事务所31219 代理人: 李仪萍
地址: 201203 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 自动 曝光 调整 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种自动曝光调整方法,其特征在于,所述自动曝光调整方法至少包括:

获取当前图像,同时统计所述图像的亮区域和暗区域所包括的像素点和所述像素点的亮度值,其中,所述亮区域和暗区域具有预设的亮度阈值范围;

根据所述统计结果计算亮区域像素点比例和暗区域像素点比例,所述亮区域像素点比例和暗区域像素点比例分别为当前统计的亮区域和暗区域中的像素点数量占整幅图像像素点总数的比例;

若亮区域像素点比例和暗区域像素点比例中的至少其中一者大于或等于预设比例,则根据当前统计的像素点的亮度值和预设亮度阈值调整成像设备的曝光参数;

若亮区域像素点比例和暗区域像素点比例均小于预设比例,则继续进行统计,直至像素点的亮度值达到所述预设亮度阈值;其中,调整成像设备的曝光参数进一步包括:

若亮区域所包括的像素点数量占整幅图像像素点总数的比例大于或等于预设比例,并且暗区域所包括的像素点数量占整幅图像像素点总数的比例小于所述预设比例,则根据第一曝光调节因子调整成像设备的曝光参数,其中,第一曝光调节因子=亮区域预设亮度阈值/亮区域当前统计的像素点的亮度值;

若亮区域所包括的像素点数量占整幅图像像素点总数的比例小于预设比例,并且暗区域所包括的像素点数量占整幅图像像素点总数的比例大于或等于所述预设比例,则根据第二曝光调节因子调整成像设备的曝光参数,其中,第二曝光调节因子=暗区域预设亮度阈值/暗区域当前统计的像素点的亮度值;

若亮区域和暗区域所包括的像素点数量占整幅图像像素点总数的比例均大于所述预设比例,则根据第三曝光调节因子调整成像设备的曝光参数,其中,第三曝光调节因子为所述第一曝光调节因子和第二曝光调节因子的加权求和值。

2.根据权利要求1所述的自动曝光调整方法,其特征在于,同时统计所述图像的亮区域和暗区域所包括的像素点和所述像素点的亮度值进一步包括:分别从所述亮区域的最大亮度值和暗区域的最小亮度值开始,同时统计像素点和所述像素点的亮度值。

3.根据权利要求1所述的自动曝光调整方法,其特征在于:若第一曝光调节因子、第二曝光调节因子和第三曝光调节因子满足条件A,则维持成像设备当前的曝光参数,若第一曝光调节因子、第二曝光调节因子和第三曝光调节因子不满足条件A,则将曝光参数乘以第一曝光调节因子、第二曝光调节因子或第三曝光调节因子,得到新曝光参数,并将成像设备的曝光参数调节为所述新曝光参数,其中,条件A为第一曝光调节因子、第二曝光调节因子和第三曝光调节因子等于1。

4.根据权利要求1所述的自动曝光调整方法,其特征在于,还包括:若统计直至像素点的亮度值达到所述预设亮度阈值时,亮区域和暗区域所包括的像素点数量占整幅图像像素点总数的比例均小于所述预设比例,则调整计算步进,重新统计所述图像的亮区域和暗区域所包括的像素点和所述像素点的亮度值。

5.根据权利要求4所述的自动曝光调整方法,其特征在于:调整计算步进进一步包括减小计算步进。

6.根据权利要求1所述的自动曝光调整方法,其特征在于:若亮区域像素点比例和暗区域像素点比例中的至少其中一者大于或等于预设比例,或者当前统计的像素点的亮度值达到所述预设亮度阈值,则统计进程自动结束。

7.根据权利要求1所述的自动曝光调整方法,其特征在于:所述预设亮度阈值包括亮区域预设亮度阈值和暗区域预设亮度阈值,所述预设亮度阈值根据所述预设比例确定。

8.根据权利要求7所述的自动曝光调整方法,其特征在于:亮区域预设亮度阈值=灰度级总数×(1-预设比例),暗区域预设亮度阈值=灰度级总数×预设比例。

9.根据权利要求7或8所述的自动曝光调整方法,其特征在于:所述预设比例为10%,亮区域预设亮度阈值=256-256×10%≈230,暗区域预设亮度阈值256×10%≈26。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于芯原微电子(上海)有限公司;芯原微电子(北京)有限公司;芯原微电子(成都)有限公司;芯原股份有限公司,未经芯原微电子(上海)有限公司;芯原微电子(北京)有限公司;芯原微电子(成都)有限公司;芯原股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410066666.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top