[发明专利]具三向运动的点测装置

说明书

技术领域

本发明有关于点测装置，尤指一种具有三向运动方式，且将下上运动部单独分离于纵向运动部及横向运动部之外的点测装置。

背景技术

查，现有发光二极管（Light-Emitting Diode，LED）中，其主要的发光元件为晶粒（crystal grain），由于晶粒的发光亮度、波长、色温及操作电压等特性会因制程条件上的些微差异而有所不同，因此，业者通常会通过一点测装置将电流准确地传送至晶粒，并藉由量测该晶粒所发出的光线特性（如：波长、发光强度、颜色等），判断出晶粒的制造品质，以能控管晶粒的出厂合格率。

请参阅图1所示，为现有点测装置1的简单示意图，该点侧装置1包括一上下运动部11、一纵向运动部12、一横向运动部13、一旋转运动部14、一承载盘15及一点测针16，其中上下运动部11设在该纵向运动部12上，且其整体能随着该纵向运动部12位移，又，该上下运动部11的顶面设有该横向运动部13，该横向运动部13能相对于该纵向运动部12的位移方向，进行横向位移（如图1中，该横向运动部13的箭头所示），另，该横向运动部13的顶面则设有该旋转运动部14，该旋转运动部14能以自身轴为中心，进行轴向旋转，且能随着该横向运动部13位移，再者，该承载盘15位于该旋转运动部14的顶面，并能被该旋转运动部14带动旋转，且该承载盘15的顶面能供放置多个晶粒151，此外，该上下运动部11能够同时带动该横向运动部13、旋转运动部14及承载盘15进行上下位移（如图1中，该上下运动部11的箭头所示），如此，藉由所述上下运动部11、纵向运动部12、横向运动部13、旋转运动部14的作动，该承载盘15便能够进行上下位移、纵向位移、横向位移及旋转等多种运动方式。

承上，复请参阅图1所示，该点测针16位于该承载盘15的上方，其一端固定至一支架17上，其另一端则朝承载盘15的方向弯折延伸，且与所述晶粒151保持一间距，当工作人员欲检测所述晶粒151的品质时，能够使所述上下运动部11、纵向运动部12、横向运动部13、旋转运动部14分别作动，以调整各个晶粒151对应于该点测针16的位置，使得该点测针16能够触碰到各个晶粒151，并将电流传送至晶粒151，以量测该晶粒151所发出的光线特性。但是，由于该上下运动部11必须支撑该横向运动部13、旋转运动部14及承载盘15等组件的重量，造成其需负荷较大的重量进行上下位移，在长时间的使用下，势必会造成该上下运动部11的磨损，此外，当该上下运动部11负荷较大的重量时，亦会使其位移速度变慢，拖缓了检测晶粒151的作业时间，进而影响整体生产速度。

综上所述可知，现有的点测装置的结构，会使上下运动部的负重过大，降低上下运动部的位移速度及提高上下运动部的磨损程度，故，如何针对前述缺失，设计出一种更佳的点测装置，即成为相关业者的重要课题。

发明内容

有鉴于现有的点测装置中，该上下运动部在进行位移的过程中，还需负荷多个元件的重量，造成该点测装置的整体作业时间过长，故，发明人经过长久努力研究与实验，终于开发设计出本发明的一种具三向运动的点测装置，以期藉由本发明而能解决前述问题，并提供业者一种更具有竞争力的点测装置。

本发明的目的，是提供一种具三向运动的点测装置，除能使承载盘上的每个晶粒都能被点测针触碰，且能大幅降低该点测装置的整体磨损率，该点测装置包括一底座、一支架、一纵向运动部、一横向运动部、一旋转运动部、一承载盘、一上下运动部及一点测针，其中该底座的顶面设有该支架及该纵向运动部，该支架呈倒U形，且朝该底座的顶面上方延伸，该纵向运动部则设在该底座的顶面，且能沿该底座的纵向位移，另，该横向运动部设在该纵向运动部的顶面，且能沿该底座的横向位移，该旋转运动部枢设在该横向运动部的顶面，且能以自身轴为中心，进行轴向旋转，该承载盘设在该旋转运动部的顶面，其上能供置放至少一个待测元件，再者，该上下运动部设在该支架上，且其底面能朝该承载盘的顶面进行上下往复位移，该点测针的一端则设在该上下运动部的底面，其另一端则能在该上下运动部向下位移时，触碰该承载盘上的各该待测元件，如此，藉由所述运动部的设计，即可使该点测针能够顺利地触碰到该承载盘上任一位置的待测元件，且因该上下运动部仅需带动该点测针，而不必如同公知点测装置一般，需同时带动纵向运动部、横向运动部及旋转运动部，故能大幅降低该上下运动部的负重，以提高该点测装置的整体点测速度，并减少该上下运动部的耗损，有效延长该点测装置的使用寿命。

为便贵审查委员能对本发明目的、技术特征及其功效，做更进一步的认识与了解，现举实施例配合图式，详细说明如下：