[发明专利]一种表面修饰铕的三氧化钨光电极及制备方法有效

专利信息
申请号: 201410015180.0 申请日: 2014-01-14
公开(公告)号: CN103774196A 公开(公告)日: 2014-05-07
发明(设计)人: 刘润;潘微;许宜铭 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: C25D9/04 分类号: C25D9/04;H01L31/18
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 林松海
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 表面 修饰 氧化钨 电极 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及表面修饰铕的三氧化钨光电极及制备方法,属于无机光电材料制备工艺技术领域。

背景技术

三氧化钨是一种间接带隙n型半导体,其禁带宽度为2.5~2.7eV,具有稳定的光电性能,是重要的光电响应半导体材料。

三氧化钨的传统制备方法有水热法,化学气相沉积法,溶胶-凝胶法等。这些方法普遍存在要求高,设备复杂和条件严格等缺点,不利于普遍应用。

另外,三氧化钨虽然是一种重要的半导体材料,但其导带位置低于氢还原电势,且电子空穴容易复合,限制了它的光电性能,从而限制了其在现实生活中的应用。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术的缺点和不足,提供一种表面修饰铕的三氧化钨光电极及制备方法。本发明通过在三氧化钨表面修饰铕,来改变其导带电子的传递作用,以提高其光电性能。本发明采用电化学方法制备三氧化钨薄膜,设备简单,操作方便,条件温和,且重现性高。

表面修饰铕的三氧化钨光电极,

1)所述的光电极中铕与钨的原子质量比为1:99-30:70;

2)所述的光电极的组成颗粒变小;

3)所述的光电极的的发光强度随铕修饰量增加而加强;

4)所述的光电极的带隙随铕修饰量增加而变宽;

5)所述的光电极的光电流比纯三氧化钨光电极增加7-10倍。

一种表面修饰铕的三氧化钨光电极的制备方法,包括如下步骤:

1)无定形氧化钨薄膜的制备:在Na2WO4溶液中加入H2O2,得到含W2O112-的澄清电解液;然后进行电沉积,得到无定形氧化钨薄膜;

2)滴加法表面修饰铕:将硝酸铕溶液逐滴滴加到步骤1)得到的无定形氧化钨薄膜表面,晾干,得到表面修饰铕的氧化钨薄膜;

3)煅烧:将步骤2)得到的表面修饰铕的氧化钨薄膜在450℃下高温煅烧3h,冷却至室温后取出,得到表面修饰铕的三氧化钨光电极。

所述的步骤1)具体如下:

将0.0025mol的Na2WO4溶于50mL的去离子水,加入0.25~1.00mL质量百分比浓度为30%的H2O2溶液,再加入30mL的乙二醇,搅拌得到含W2O112-溶液后用稀硝酸调节pH值为1.9~2.0,加去离子水至100mL,得到澄清的电解液;以ITO导电玻璃为工作电极,铂片电极为对电极,饱和甘汞电极为参比电极,置于电解液中进行电沉积,水浴恒温25℃,施加电压为-0.6V,沉积电荷为6.0C,得到无定形氧化钨薄膜;用去离子水冲洗后晾干,备用。

所述的步骤2)中硝酸铕溶液的浓度为0.02mol/L~0.04mol/L。

本发明的有益效果: 

铕的表面修饰显著提高了三氧化钨的光电性能,提高了其对光能的利用率,环保节能,显著拓展了三氧化钨的应用范围;而且方法简单,成本低廉有望进行工业化规模应用。

附图说明

图1为实施例1、2、3所得表面修饰铕的三氧化钨与纯三氧化钨的X射线衍射图谱;

图2为实施例1、2、3所得表面修饰铕的三氧化钨与纯三氧化钨的荧光发射光谱(394nm激发);

图3为实施例1、2、3所得表面修饰铕的三氧化钨与纯三氧化钨的光照-暗态切换下的电流密度-电压图。

具体实施方式

以下结合附图和实施例对本发明做进一步的说明。

实施例1

1)无定形氧化物薄膜的制备:将0.0025mol的Na2WO4溶于50mL的去离子水,加入0.25质量百分比浓度为30%的H2O2溶液,再加入30mL的乙二醇,搅拌得到含W2O112-溶液后用稀硝酸调节pH值为1.9,加去离子水至100mL,得到澄清的电解液,以ITO导电玻璃为工作电极,铂片电极为对电极,饱和甘汞电极为参比电极,置于电解液中进行电沉积,施加电压为-0.6V,沉积电荷为6.0C,得到无定形氧化钨薄膜。用去离子水冲洗后晾干,备用;

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