[发明专利]控制打印头的流体发射单元的方法有效
申请号: | 201380080226.0 | 申请日: | 2013-10-14 |
公开(公告)号: | CN105658435B | 公开(公告)日: | 2017-08-04 |
发明(设计)人: | 阿纳·克里斯蒂娜·加西亚·阿尔瓦莱斯;安东尼奥·格拉西亚·韦尔杜戈;毛里西奥·塞拉斯·弗兰佐索 | 申请(专利权)人: | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
主分类号: | B41J2/165 | 分类号: | B41J2/165 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司11018 | 代理人: | 宋颖娉,康泉 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 控制 打印头 流体 发射 单元 方法 | ||
1.一种由打印机实施的用于在打印头被联接至所述打印机时控制所述打印头的流体发射单元以根据常规打印模式和恢复模式中的任一个操作的方法,其中所述方法包括:
在所述流体发射单元根据所述常规打印模式操作的情况下,将第一电压施加至所述流体发射单元的电阻器元件,以在打印操作期间使所述流体发射单元发射;以及
在所述流体发射单元根据所述恢复模式操作的情况下,将比所述第一电压高的第二电压施加至所述流体发射单元的所述电阻器元件,以清洗所述流体发射单元;
其中所述电阻器元件在被施加所述第一电压时,加热所述流体发射单元中的打印流体,以驱出打印墨滴;
所述电阻器元件在被施加所述第二电压时,加热所述流体发射单元中的打印流体,以触发打印墨滴的发射,从而除去、排出或熔化所述流体发射单元内的任何固体、干燥粒子或外部污染物;
其中在预定条件被满足的情况下,所述流体发射单元根据所述恢复模式操作;并且
所述第二电压的不同值基于检测到的不同预定条件来确定。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述预定条件包括检测到以下中的任一个:
新的打印头插入所述打印机内,
所述流体发射单元的闲置时间超过第一预定时间阈值,以及
其间所述打印机的打印头被开盖的开盖时间超过第二预定时间阈值。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述第二电压的值通过查阅文件来获取,所述文件包括与所述第二电压的相应值关联的一个或多个预定条件的集合。
4.根据权利要求1所述的方法,其中:
施加所述第一电压导致第一能量被提供至所述流体发射单元的所述电阻器元件;
施加所述第二电压导致第二能量被提供至所述流体发射单元的所述电阻器元件;
所述第一电压和所述第二电压被设置为使得所述第二能量比所述第一能量高百分之四至百分之二十二。
5.一种根据常规打印模式和恢复模式中的任一个操作的打印机,所述打印机适用于在打印头被联接至所述打印机时控制所述打印头的流体发射单元,所述打印机包括控制器以:
在所述流体发射单元根据所述常规打印模式操作的情况下,将第一电压施加至所述流体发射单元的电阻器元件,以在打印操作期间使所述流体发射单元发射;并且
在所述流体发射单元根据所述恢复模式操作的情况下,将比所述第一电压高的第二电压施加至所述流体发射单元的所述电阻器元件,以清洗所述流体发射单元;以及检测器,用于检测预定条件什么时候被满足;
其中所述电阻器元件在被施加所述第一电压时,加热所述流体发射单元中的打印流体,以驱出打印墨滴;
所述电阻器元件在被施加所述第二电压时,加热所述流体发射单元中的打印流体,以触发打印墨滴的发射,从而除去、排出或熔化所述流体发射单元内的任何固体、干燥粒子或外部污染物;
其中所述控制器使用所述检测器检测所述流体发射单元什么时候必须根据所述恢复模式操作;并且
所述控制器被配置为基于检测到的不同预定条件来确定所述第二电压的不同值。
6.根据权利要求5所述的打印机,其中所述检测器包括以下中的任一个:
传感器,用于检测所述打印机内新的打印头的插入,
活动计时器,用于检测流体发射单元保持在闲置状态的时长,以及
开盖定时器,用于检测打印头中的流体发射单元保持开盖的时长。
7.根据权利要求5所述的打印机,其中所述控制器被配置为通过查阅文件来获取所述第二电压的值,所述文件包括与所述第二电压的相应值关联的一个或多个预定条件的集合。
8.根据权利要求5所述的打印机,其中所述控制器被配置为基于以下参数中的任一个确定所述第二电压的值:
所述打印机的类型,
包含所述流体发射单元的打印头的类型,
在所述常规打印模式中由所述流体发射单元发射的打印流体类型,以及
所述打印机可恢复的打印历史。
9.根据权利要求5所述的打印机,其中:
施加所述第一电压导致第一能量被提供至流体发射单元的所述电阻器元件;
施加所述第二电压导致第二能量被提供至所述流体发射单元的所述电阻器元件;
其中所述控制器被配置为将所述第一电压和所述第二电压设置为使得所述第二能量比所述第一能量高百分之四至百分之二十二。
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