[发明专利]光信息记录再现装置和调节方法

说明书

技术领域

本发明涉及将信号光和参考光的干涉图案作为页数据向光信息记录介质记录信息、和/或从光信息记录介质再现信息的装置与方法。

背景技术

目前，基于使用蓝紫色半导体激光的Blu-rayDisc(TM)标准，在民用方面也具有50GB左右的记录密度的光盘的商品化成为可能。今后，光盘也希望大容量化到和100GB～1TB这样的HDD(HardDiskDrive：硬盘驱动器)容量相同程度。

但是，为了用光盘实现这种超高密度，需要与基于短波长化和物镜的高NA化的高密度化技术不同的新的方式的高密度化技术。

在进行有关下一代的存储技术的研究当中，利用全息术记录数字信息的全息记录技术引起关注。

所谓全息图记录技术，是将通过空间光调制器进行了二维调制后的具有页数据的信息的信号光，在记录介质的内部与参考光重合，根据此时产生的干涉条纹图案在记录介质内产生折射率调制而将信息记录在记录介质上的技术。

在信息的再现时，若向记录介质照射记录时所使用的参考光，则记录介质中所记录的全息图像衍射光栅那样起作用，产生衍射光。该衍射光作为包含相位信息在内均与所记录的信号光相同的光被再现。

再现的信号光使用CMOS或CCD等光检测器高速地进行二维检测。这样，全息图记录技术通过通过一个全息图向光记录介质一次记录二维的信息，进而能够再现该信息，而且，能够在记录介质某处重写多个页数据，因此能够完成大容量且高速的信息的记录再现。

在专利文献1中，记载为：“在全息图记录时，信号光与光信息记录介质的形态(板厚、角度、折射率等)无关，以与光学系统的光轴一致的状态来供给，而在再现时，再现光以因光信息记录介质的形态不同而偏差光学系统的光轴的状态被取出。于是，通过设置光轴偏差修正部并根据光轴的偏差量而移动受光系，能够维持合适的检测状态。

先行技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2005－10599号公报

发明内容

发明所要解决的课题

但是，在光信息记录再现装置中，可以预料，记录时及再现时不仅对于光信息记录介质，而且对于配置的大量的光学部件，由于随时因温度变化引起的热膨胀和振动等原因，会产生位置偏差、角度偏差的情况。记录时、再现时产生了部件的位置偏差、角度偏差时，例如即使按照使信号光以最小的光束直径交迭的方式配置参考光的光学部件，由于部件偏差，参考光的光束直径也会变化，例如，可以预料，对光信息记录介质的记录没有帮助的多余的曝光增加，或不能使参考光和信号光不干涉地进行适当的记录等现象。这些现象成为妨碍高密度记录的原因之一。另外，由于光学部件偏差而产生像差，成为再现像的SNR劣化的原因。

于是，本发明的目的是提供一种能够进行高质量的全息图的记录再现的光信息记录再现装置和调节方法。

用于解决课题的技术方案

上述课题例如通过权利要求中记载的发明来解决。

发明效果

根据本发明，能够提供能够进行高质量的全息图的记录再现的光信息记录再现装置和调节方法。

附图说明

图1是表示本发明的光拾取器的第一实施方式的图。

图2是表示本发明的光拾取器的第二实施方式的图。

图3是表示本发明的光拾取器的角度偏差检测的实施方式的图。

图4是表示本发明的光拾取器的、参考光相对于像差的角度偏差的灵敏度的图。

图5是表示本发明的光拾取器的、参考光相对于像差的位置偏差的灵敏度的图。

图6(a)是表示本发明的光拾取器的用于进行光轴调节的第一实施方式的图。

图6(b)是表示本发明的光拾取器的用于进行光轴调节的第一实施方式的图。

图6(c)是表示本发明的光拾取器的用于进行光轴调节的第一实施方式的图。

图7是表示本发明的光拾取器的用于进行光轴调节的第二实施方式的图。

图8是表示本发明的光拾取器的用于进行光轴调节的第三实施方式的图。

图9是表示本发明的光拾取器的用于进行光轴调节的第四实施方式的图。

图10是利用全息照相术记录和/或再现数字信息的光信息记录介质的记录再现装置的框图。

图11是表示光信息记录再现装置的记录、再现的动作流程的图。

图12(a)是出货前调节的调节流程。

图12(b)是记录和再现中的调节流程。