[发明专利]全息记录再现装置和角度复用记录再现方式有效
申请号: | 201380075330.0 | 申请日: | 2013-04-05 |
公开(公告)号: | CN105074583B | 公开(公告)日: | 2018-02-16 |
发明(设计)人: | 山崎和良 | 申请(专利权)人: | 日立民用电子株式会社 |
主分类号: | G03H1/26 | 分类号: | G03H1/26 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司11322 | 代理人: | 龙淳,牛孝灵 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 全息 记录 再现 装置 角度 方式 | ||
技术领域
本发明涉及全息记录再现装置和角度复用记录再现方式。
背景技术
近年来,提出了双光束角度复用方式作为能够高速地记录/再现大容量的数据的全息技术。该方式中,高精度地控制信号光与参考光的相对角度成为课题。
对于这样的课题,专利文献1中为了搜索信号光与参考光的相对角度而用摄像元件检测信号光,按每个记录角度运算作为再现性能的SNR,根据该值预测下一个相对角度,从而控制参考光相对于信号光的相对角度。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:US2009/0207710A1
发明内容
发明要解决的课题
专利文献1中,能够搜索信号光与参考光的相对角度,但另一方面存在3个主要课题。第一是高速再现,第二是再现性能,第三是高精度记录/对外部干扰的耐性。
专利文献1的结构的情况下,具有可以不追加检测部的效果,但另一方面,因为用摄像元件检测再现信号、运算SNR之后再生成相对角度的控制信号,所以高速再现成为课题。
此外,专利文献1特征在于为了生成参考光的角度控制用的信号而控制为从再现信号最佳的相对角度起偏移微小量后的角度。因此,不能得到最佳的再现信号,这一点不言自明。
进而,专利文献1的情况下,因为是使参考光的角度偏移预先决定的角度量的控制方法,所以存在控制精度因记录时的外部干扰等的影响而降低、再现性能劣化的课题。
这样,在双光束角度复用方式中能够实现高速再现并且检测可以得到更佳的再现信号的参考光的角度误差信号成为课题。
于是,本发明中,目的在于提供一种在双光束角度复用方式中能够实现高速再现、并且能够检测可以得到更佳的再现信号的角度误差信号的全息记录再现装置、角度复用记录再现方式。
用于解决课题的技术方案
上述目的例如能够通过如下发明达成:一种使用信号光和参考光的角度复用记录再现方式的全息记录再现装置,其具备:角度可变元件,其用于改变对光信息记录介质入射的参考光的入射角度;检测系统,其用于检测用于控制角度可变元件的第一、第二至少2个角度误差信号。
发明效果
能够提供一种在双光束角度复用方式中能够实现高速再现、并且能够检测可以得到更佳再现信号的角度误差信号的全息记录再现装置、角度复用记录再现方式。
附图说明
图1是说明实施例1中的光学系统的图。
图2是表示实施例1中的与检流计反射镜38的旋转角度对应的衍射光的光量的图。
图3是表示实施例1中的角度误差信号1的图。
图4是表示实施例1中的关于检流计反射镜的角度控制的流程图的图。
图5是表示实施例1中的角度误差信号的图。
图6是说明实施例1中的其他光学系统的图。
图7是说明实施例1中的其他光学系统的图。
图8是说明实施例2中的光学系统的图。
图9是表示实施例2中的关于检流计反射镜的角度控制的流程图的图。
图10是说明实施例3中的光学系统的图。
图11是说明实施例3中的效果的图。
图12是说明实施例3中的其他光学系统的图。
图13是说明实施例3中的其他光学系统的图。
图14是说明实施例4中的光学系统的图。
图15是表示实施例1中的全息记录再现装置的图。
具体实施方式
实施例1
图15示出了本发明的第一实施例的全息记录再现装置的整体结构。全息记录再现装置,具备例如如图1所示的结构的光拾取器装置60和相位共轭光学系统512、光信息记录介质固化(Cure)光学系统513、光信息记录介质位置检测光学系统514以及光信息记录介质驱动元件70,光信息记录介质300是能够对于光拾取器装置改变相对的记录位置的结构。
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