[发明专利]光信息再现装置和光信息记录再现装置在审
申请号: | 201380075132.4 | 申请日: | 2013-03-27 |
公开(公告)号: | CN105190753A | 公开(公告)日: | 2015-12-23 |
发明(设计)人: | 中村悠介;石井利树 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G11B7/0065 | 分类号: | G11B7/0065;G11B7/09 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;牛孝灵 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信息 再现 装置 记录 | ||
1.一种光信息记录再现装置,使参考光与信号光干涉,将得到的干涉条纹作为全息图记录在光信息记录介质中,并使用参考光从记录在所述光信息记录介质中的全息图再现信息,其特征在于,包括:
检测光生成部,生成包括所述信号光的一部分的光作为检测光;
检测光入射部,使所述检测光入射到已记录的全息图上;和
光检测部,检测因入射到所述全息图的所述检测光而产生的衍射光,
基于所述光检测部的输出检测所述已记录的全息图的位置。
2.如权利要求1所述的光信息记录再现装置,其特征在于:
包括掩模部,用于遮挡所述衍射光中从所述全息图透射的所述检测光。
3.如权利要求1所述的光信息记录再现装置,其特征在于:
所述光检测部被分割为多个区域,基于各区域中检测出的光量检测所述已记录的全息图的位置。
4.如权利要求1所述的光信息记录再现装置,其特征在于:
在使用第一检测光检测出所述全息图的位置之后,使用具有与第一检测光不同的光束直径的第二检测光检测所述全息图的位置。
5.如权利要求1所述的光信息记录再现装置,其特征在于:
在记录所述全息图时记录每个全息图的固有图案,
在位置检测时,使所述检测光为要检测的全息图的所述固有图案。
6.如权利要求1所述的光信息记录再现装置,其特征在于:
所述检测光生成部包括:
生成激光的激光光源;
改变所述激光光源生成的激光的偏振的光学元件;和
将通过所述光学元件后的激光分束为信号光和参考光的分束器,
在使用由所述分束器分束的参考光来再现光信息记录介质的数据的情况下,持续生成包括由该分束器分束的信号光的一部分的光作为检测光。
7.如权利要求1所述的光信息记录再现装置,其特征在于,包括:
遮挡从所述全息图透射的所述检测光的掩模部;和
柱透镜。
8.一种光信息再现装置,从记录了使参考光与信号光干涉而得到的干涉条纹作为全息图的光信息记录介质,使用参考光再现信息,其特征在于,包括:
检测光生成部,生成包括所述信号光的一部分的光作为检测光;
检测光入射部,使所述检测光入射到已记录的全息图上;和
光检测部,检测因入射到所述全息图的所述检测光而产生的衍射光,
基于所述光检测部的输出检测所述已记录的全息图的位置。
9.如权利要求8所述的光信息再现装置,其特征在于:
包括掩模部,用于遮挡所述衍射光中从所述全息图透射的所述检测光。
10.如权利要求8所述的光信息再现装置,其特征在于:
所述光检测部被分割为多个区域,基于各区域中检测出的光量检测所述已记录的全息图的位置。
11.如权利要求8所述的光信息再现装置,其特征在于:
在使用第一检测光检测出所述全息图的位置之后,使用具有与第一检测光不同的光束直径的第二检测光检测所述全息图的位置。
12.如权利要求8所述的光信息再现装置,其特征在于:
所述全息图中记录有每个全息图的固有图案,
在位置检测时,使所述检测光为要检测的全息图的所述固有图案。
13.如权利要求8所述的光信息再现装置,其特征在于:
所述检测光生成部包括:
生成激光的激光光源;
改变所述激光光源生成的激光的偏振的光学元件;和
将通过所述光学元件后的激光分束为信号光和参考光的分束器,
在使用由所述分束器分束的参考光来再现光信息记录介质的数据的情况下,持续生成包括由该分束器分束的信号光的一部分的光作为检测光。
14.如权利要求8所述的光信息再现装置,其特征在于,包括:
遮挡从所述全息图透射的所述检测光的掩模部;和
柱透镜。
15.一种光信息再现装置,从记录了使参考光与信号光干涉而得到的干涉条纹作为全息图的光信息记录介质,使用参考光再现信息,其特征在于,包括:
生成激光的激光光源;
将所述激光光源生成的激光分离为参考光和检测光的分束器;
参考光光学系统,将由所述分束器所分离的参考光引导至光信息记录介质;
检测光入射部,从全息图记录时的信号光对光信息记录介质入射的方向,照射由所述分束器所分离的检测光;
检测器,接收因通过所述检测光入射部后入射到光信息记录介质的检测光而产生的衍射光;和
根据所述检测器的输出调整所述参考光对光信息记录介质的入射位置的机构。
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