[发明专利]RAM刷新率有效
申请号: | 201380072022.2 | 申请日: | 2013-01-31 |
公开(公告)号: | CN104956443B | 公开(公告)日: | 2017-09-12 |
发明(设计)人: | L·瓦内斯;A·C·沃尔顿 | 申请(专利权)人: | 慧与发展有限责任合伙企业 |
主分类号: | G11C11/406 | 分类号: | G11C11/406;G11C29/42 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 刘瑜,王英 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | ram 刷新率 | ||
1.一种用于改变刷新率的设备,包括:
处理器,其用于:
对随机存取存储器(RAM)的具有错误的单元的数量进行计数;以及基于具有错误的单元的所述数量和错误门限来确定所述RAM的刷新率;
当错误的所述数量大于错误门限并且所述刷新率未达到最大率时,增大所述RAM的刷新率;
当错误的所述数量小于或等于所述错误门限时,所述RAM的刷新率返回到正常率;
当错误的所述数量大于所述错误门限并且所述刷新率已经达到所述最大率时,确定错误的所述数量不是由于暂时性事件;以及
当确定错误的所述数量不是由于所述暂时性事件时,使用存储器子系统冗余机制来对所述错误进行校正。
2.根据权利要求1所述的设备,其中,
所述处理器通过将所述正常率乘以门限值和将门限率加到所述刷新率中的至少一个来增大所述刷新率,
每一次所述处理器增大所述刷新率时所述门限值被增大,以及
当所述处理器将所述RAM的刷新率返回到正常率时,所述处理器对所述门限值进行重置。
3.根据权利要求1所述的设备,所述存储器子系统冗余机制包括芯片备份、列备份和镜像中的至少一个。
4.根据权利要求1所述的设备,其中,
所述处理器根据错误的移动平均和总数量中的至少一个来对错误的所述数量进行计数,其中,
在所述刷新率被改变后,对错误的所述总数量进行重新计算。
5.根据权利要求1所述的设备,其中,
所述最大率是基于芯片组的能力的,以及
所述正常率和所述错误门限中的至少一个是基于用户的性能要求的。
6.根据权利要求1所述的设备,其中,
所述处理器对所述RAM进行轮询以查找所述错误,以及
所述处理器包括计数器,所述计数器被递增在所述RAM被轮询后检测到的所述错误的数量。
7.根据权利要求6所述的设备,其中,所述轮询的间隔是基于可靠性要求和错误存储能力中的至少一个的。
8.根据权利要求1所述的设备,其中,
所述处理器通过对存储器单元的错误校正码(ECC)进行校验来检测所述错误,以及
所述处理器在所述错误被检测到之后,向控制和状态寄存器(CSR)写入。
9.根据权利要求1所述的设备,其中,
所述RAM是动态RAM(DRAM),
所检测到的错误是软的、能够校正的错误,以及
所述错误在所述设备处于活动状态时被检测到。
10.一种用于改变刷新率的方法,包括:
扫描随机存取存储器(RAM)以查找错误;
对在被扫描的RAM中查找的所述错误的数量进行计数;
当错误的所述数量大于错误门限并且刷新率不是最大率时,增大所述刷新率;
当错误的所述数量小于或等于所述错误门限时,将所述刷新率设置为正常率;以及
当错误的所述数量大于所述错误门限并且所述刷新率处于所述最大率时
确定所述错误不是由于暂时性事件;以及
经由存储器子系统冗余机制来对所述错误进行校正,其中,在所述增大后重复所述扫描和所述计数,以及
当错误的所述数量停留在所述错误门限之上时,重复所述增大。
11.根据权利要求10所述的方法,其中,当错误的所述数量保持低于或等于所述错误门限时,在所述设置之后以连续的间隔重复所述扫描和所述计数。
12.根据权利要求10所述的方法,包括:
通过增大被应用到所述正常率的倍数以及将门限率加到所述刷新率中的至少一个来增大所述刷新率。
13.根据权利要求10所述的方法,其中,所述存储器子系统冗余机制包括芯片备份、列备份和镜像中的至少一个。
14.根据权利要求10所述的方法,其中,所述最大率是基于芯片组的能力的。
15.根据权利要求14所述的方法,其中,所述正常率和所述错误门限中的至少一个是基于性能要求的。
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