[发明专利]对于多处理器系统的实时分析和控制

说明书

用于测试DUT的系统和方法，所述DUT包括以操作速度执行应用软件的多处理器阵列(MPA)。所述应用软件可以被配置为部署在MPA的第一硬件资源上，并且可被分析。可以创建测试代码，所述测试代码用于对MPA上的硬件资源进行配置以复制在所述应用软件中生成的数据以用于测试目的。所述应用软件可部署在第一硬件资源上。可以提供输入数据以激励DUT。所述测试代码可以执行为使用MPA的在执行所述应用软件时未被使用的硬件资源来将第一数据的至少一个子集提供给MPA的边缘处的管脚以便分析DUT。第一数据可以响应于发送声明而生成，所述发送声明由所述应用软件基于所述输入数据执行。

技术领域

本发明的领域一般涉及对于诸如计算机、数字信号处理器(DSP)和这种嵌入式实例之类的数字电子系统的软件开发、自动测试以及分析，更具体地说，涉及对于多处理器系统的实时分析和控制。

背景技术

新数字电子产品的开发需要大量的测试、测量和表征来验证其中的硬件和软件。对于复杂的数字电子产品，验证成本可能是总开发项目成本的最大一部分。存在用于降低测试和验证成本的几种方式或技术。

一种方式是可测性设计(DFT)，其中产品设计包括对简化测试的技术的规定。其包括提高产品及其组成设备的内部状态的可控性和可观察性的测试点的规定。测试点的潜在问题是，它们的位置在系统中变为确定的，并且在最终产品中可能无法改变。另一个问题可能是，来自测试点的原始数据速率超过系统消费或处理数据的容量，所以产品可能必须以慢于正常速度的速度运行以执行测试。

降低测试和验证成本的另一方式是自动测试，因为如果不需要人类操作者来进行测试，则每单位时间可以执行更多的测试，导致捕获故障的可能性更高。然而，在应用软件的开发和自动测试期间，(交互式地)支持在短周期内程序员的增加的设计和测试是有益的。

另一方法是以对产品的正常操作具有可忽略的劣化的方式把测试仪器构建到产品中。内置的测试仪器(Built-in Test Instrumentation，BITI)的范围可以从高速注入和收集复杂信号以探查信号处理的高级探测器到诸如统计和图形显示之类的分析能力。该方法的问题是缺少足够的处理资源来全速地消费原始数据。

另一方式是内置自测试(buit-in self-test，BIST)。BIST可以利用大量的自动内部测试，每个自动内部测试产生被添加到当前和(running sum)的二进制模式结果。在所有测试结束时，当前和是签名，该签名可以被输出并且与在设计和仿真期间生成的已知好签名进行比较。BIST还可以产生更详细的报告，例如哪些(如果有的话)测试失败的报告。

BIST和BITI这两者都可以在产品的使用期期间用来增强其可维护性。可以在同一设备上使用这些技术的组合。

以上技术中的每种技术都需要对细节有相当多的关注，并且计算机用于跟踪这些细节。此外，每个产品的细节是不同的，因此，可能需要相当多的工作来对计算机进行编程以获得每次产品验证所必需的测试、测量和表征数据。

使用这些技术的益处通常大于实现它们的成本；然而，在行业中，改进是可能的并且不断发展。

可以以各种方式降低成本，例如，通过使测试设置和编程过程利用可重用的、经参数化的模块，所述模块可以容易地被组合以成为用于每个产品的自定义测试系统。

可以以各种方式增多益处，例如，通过使测试操作以更高的速度运行，使得每单位时间可以执行更多的测试，从而增大应用的状态空间的覆盖范围以验证适当的操作(或者在产品到达客户之前发现漏洞)。