[发明专利]去除水分的气体检测系统

说明书

背景技术

过程/环境气体分析器/检测器用于多种工业过程中以便提供分析措施从而允许过程改善产品质量、增加生产量、减小过程变化性、增加安全性并促进调节兼容性。用于过程与环境气体分析和有毒气体检测的分析仪器和系统用于多种工业，包括：化学加工、碳氢化合物加工、食物和饮料加工、金属采矿、沼气和生物技术、制药和医疗、废物和废水、纸浆和纸张、半导体、汽车、电力和纺织品。每个这种工业通常具有针对该工业独一无二的专门感兴趣的分析物质。然而，所有工业需要精确的分析仪器，以便有效地进行操作。

一种用于以上所列产业的在售过程气体分析器是由CA Irvine的Emerson Process Management’s Rosemount Analytical business unit提供的商业名称型号为X流过程气体分析器。X流过程气体分析器可以使用多种传感器，包括非色散的红外光、紫外光和可见光光度测定(NDIR/UV/VIS)；顺磁性和电化学氧(pO₂)；以及热导率(TCD)传感器技术，以及微量氧(微量O₂)和微量水分(微量H₂O)，用于一致的精确过程气体测量的。

微量的水分可以影响某种形式的过程气体测量。在这种情况下，通常将微量水分传感器用于测量在采样中存在的微量水分的量。然后，使用校准或其它适合校正，过程气体分析器基于由微量水分传感器测量到的微量水分的量来校正该过程气体测量。

发明内容

提供了一种气体检测系统。所述系统包括：采样气体入口，配置为接收气体的采样；以及采样室，可操作耦接到所述采样气体入口。所述采样室具有布置在其中的至少一个气体传感器。气体传感器提供了对气体的采样中的感兴趣的物质加以表示的气体传感器输出。控制器耦接到所述至少一个气体传感器，并且配置为基于气体传感器输出来提供与感兴趣的物质相关的信息。水分去除设备布置为接收气体的采样，并且在该采样到达所述至少一个气体传感器之前从所述采样去除水分。

附图说明

图1是本发明实施例特别有用的气体检测系统的图解视图。

图2是基于金属氧化物半导体的气体传感器的图解截面视图。

图3是根据本发明实施例的气体检测系统的图解视图。

图4是根据本发明实施例的气体检测系统的水分去除设备的图解视图。

图5是根据本发明另一实施例的气体检测系统的水分去除设备的图解视图。

具体实施方式

图1是本发明实施例特别有用的气体检测系统的图解视图。经过过程入侵(process intrusion)14将系统10可操作地耦接到过程管道12。过程管道12可以是过程气体流经的任何管道、管线或装置(fitting)。这样，管道12可以是工业堆、在加工厂中的管线或任何其它合适的管道。过程入侵14密封式地将系统10与管道12中的过程气体耦接。采样线16将来自入侵14的过程气体的一部分传送到分析器18。在一些示例中，对采样线16加热以便当将过程/环境气体的采样运输到分析器18时，仔细维持过程/环境气体的采样的温度。此外，通常优选的是将采样线16保持为相对较短，使得过程分析器被安装为相对靠近过程入侵14。

过程分析器18包括分析器外壳20、采样流调节元件22、采样室24、用户接口26和控制器28。控制器28通常包括微处理器，并执行软件以便控制多种流调节元件22。此外，控制器28耦接到布置在采样室24内部的一个或多个气体传感器，使得来自一个或多个气体传感器的测量允许控制器28提供对过程/环境气体的采样中一个或多个感兴趣的成分或感兴趣的物质的存在和/或一个或多个感兴趣的成分或感兴趣的物质的浓度加以表示的值。可以将这种输出提供在用户界面26上和/或通过任何适合通信协议(包括但不限于过程通信协议，诸如高速可寻址远程传感器协议、FOUNDATIONTM现场总线协议)或通过适合的数据通信协议(诸如，以太网、RS-232、RS-485等)将其传送给远程设备，如附图标记30所示。此外，还可以执行根据无线过程通信协议的通信，包括根据IEC62591的通信(WirelessHART)。