[发明专利]采用针对对象分类的角度分辨散射和光谱分辨测量的系统、设备和方法在审
申请号: | 201380056793.2 | 申请日: | 2013-10-28 |
公开(公告)号: | CN104797970A | 公开(公告)日: | 2015-07-22 |
发明(设计)人: | 本杰明·K·威尔逊;迈克尔·C·赫格 | 申请(专利权)人: | 脱其泰有限责任公司 |
主分类号: | G02B21/10 | 分类号: | G02B21/10 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 樊英如;李献忠 |
地址: | 美国华*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 采用 针对 对象 分类 角度 分辨 散射 光谱 测量 系统 设备 方法 | ||
1.一种高光谱成像系统,包括:
暗场模块,其包括
光学组件,和
暗场照明器,其能操作来以相对于光学组件的光轴的一或多个入射角将暗场询问刺激传递到至少一个焦点区域上,
所述暗场模块具有包括一或多个传感器、能操作来获取与来自被所述暗场询问刺激询问的对象的散射的电磁能量相关联的一或多个暗场显微图的电路;和
高光谱成像模块,其被操作性地耦合到所述暗场模块且具有被配置为基于所述对象的所述一或多个暗场显微图生成角度分辨和光谱分辨散射矩阵的电路。
2.如权利要求1所述的高光谱成像系统,进一步包括:
对象分类模块,其具有电路,能操作来
将所述角度分辨和光谱分辨散射矩阵与参考角度分辨和光谱分辨高光谱信息进行比较,以及
基于该比较生成与成像于所述一或多个暗场显微图中的对象相关联的分类信息。
3.如权利要求2所述的高光谱成像系统,其中所述对象分类模块能操作来将所述角度分辨和光谱分辨散射矩阵与角度分辨参考对象信息进行比较并基于该比较生成分类信息。
4.如权利要求2所述的高光谱成像系统,其中所述对象分类模块能操作来将所述角度分辨和光谱分辨散射矩阵与空间分辨参考对象信息进行比较并基于该比较生成分类信息。
5.如权利要求2所述的高光谱成像系统,其中所述对象分类模块能操作来基于该比较生成对象分类信息。
6.如权利要求2所述的高光谱成像系统,其中所述对象分类模块能操作来生成主要成分信息。
7.如权利要求2所述的高光谱成像系统,其中所述对象分类模块能操作来基于主要成分信息生成对象识别信息。
8.如权利要求2所述的高光谱成像系统,其中所述对象分类模块能操作来基于判别滤波器信息生成对象识别信息。
9.如权利要求1所述的高光谱成像系统,进一步包括:
对象分类模块,其具有能操作来激活对象识别模式、对象分类模式和对象表征模式中的至少一个的电路。
10.如权利要求1所述的高光谱成像系统,其中所述高光谱成像模块包括被配置为生成被所述暗场询问刺激询问的对象的空间分辨图像的电路。
11.如权利要求1所述的高光谱成像系统,其中所述高光谱成像模块包括被配置为生成被所述暗场询问刺激询问的对象的一或多个空间分辨图像的电路。
12.如权利要求1所述的高光谱成像系统,其中所述高光谱成像模块包括被配置为为被所述暗场询问刺激询问的对象生成波长相对照明角度的强度地图的电路。
13.如权利要求1所述的高光谱成像系统,进一步包括:
被操作性地耦合到所述暗场照明器的照明角度控制器,所述照明角度控制器能操作来调整由所述暗场照明器传递的电磁能量的入射角。
14.如权利要求1所述的高光谱成像系统,进一步包括:
被操作性地耦合到孔径装置的孔径控制模块,所述孔径控制模块具有被配置为调整与来自被所述暗场询问刺激询问的对象的散射的电磁能量的采集区相关联的有效数值孔径的电路。
15.如权利要求1所述的高光谱成像系统,进一步包括:
被操作性地耦合到暗场模块和孔径控制模块的照明采集分离控制模块,所述照明采集分离控制模块包括被配置为通过致动所述暗场模块和孔径控制模块中的至少一者改变照明采集间距的电路,所述照明采集间距部分地通过由所述暗场照明器传递的电磁能量以及采集区界定。
16.如权利要求1所述的高光谱成像系统,进一步包括:
样本室,其被配置为接收包括一或多个对象的样本。
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