[发明专利]放射线检测装置、放射线检测器以及放射线检测方法

权利要求书

1.一种放射线检测装置，其特征在于，具备:

速率计数器，根据来自放射线检测器的输出信号，推定由上述放射线检测器检测到的事件的计数率；和

控制部，为了优化上述放射线检测器的能量分辨率，产生根据推定出的上述计数率来调整上述放射线检测器的反射器的反射率的反射率控制信号，并向上述反射器输出上述反射率控制信号。

2.根据权利要求1所述的放射线检测装置，其特征在于，

上述放射线检测器具有上述反射器、闪烁体以及光传感器，

上述反射器为了提高由上述光传感器检测到的光的概率，反射由上述闪烁体内部的闪烁事件产生的光。

3.根据权利要求2所述的放射线检测装置，其特征在于，

上述光传感器是光电倍增管。

4.根据权利要求2所述的放射线检测装置，其特征在于，

上述反射器具有内侧反射器和外侧反射器，

上述放射线检测器具有按照上述内侧反射器、上述闪烁体、上述光传感器以及上述外侧反射器的顺序层叠的构造。

5.根据权利要求4所述的放射线检测装置，其特征在于，

上述反射器根据上述反射率控制信号，关于上述内侧反射器和上述外侧反射器调整一个或者多个反射率。

6.根据权利要求2所述的放射线检测装置，其特征在于，

上述反射器具有由用于控制上述反射器的反射率的上述反射率控制信号进行控制的液晶部分。

7.根据权利要求6所述的放射线检测装置，其特征在于，

上述液晶部分根据上述反射率控制信号，在具有100％附近的反射率的镜面状态与具有0％的反射率的黑体状态之间，变更上述反射器的反射率。

8.根据权利要求1所述的放射线检测装置，其特征在于，

上述放射线检测器具有分别对应的多个闪烁体、多个光传感器以及多个反射器，

上述反射器分别为了提高由上述光传感器检测到的光的概率，反射由上述闪烁体内部的闪烁事件产生的光，

上述控制部产生调整上述放射线检测器各自中的反射器的反射率的上述反射率控制信号。

9.根据权利要求8所述的放射线检测装置，其特征在于，

上述控制部产生用于调整上述多个放射线检测器中的各个上述反射器的反射率的上述反射率控制信号，

为了单独地优化上述放射线检测器各自的能量分辨率，上述控制部分别控制上述放射线检测器中的上述反射器各自的反射率。

10.一种放射线检测器，其特征在于，具备：

闪烁体，由闪烁事件产生光；

光传感器，检测上述光；以及

反射器，当产生上述光时，为了提高由上述光传感器检测到的光的概率，反射上述光，并能够调整上述反射率。

11.根据权利要求10所述的放射线检测器，其特征在于，

上述反射器具有为了调整上述反射器的反射率而被进行电子控制的液晶部分。

12.根据权利要求10所述的放射线检测器，其特征在于，

上述反射器具有为了调整上述反射器的反射率而被进行电子控制的多个液晶层。

13.根据权利要求10所述的放射线检测器，其特征在于，

上述反射器具备具有0％的反射率的黑体层和具有悬浮的反射粒子的反射粒子层。

14.根据权利要求13所述的放射线检测器，其特征在于，

上述反射粒子层中的上述悬浮的反射粒子能够根据能够由反射率控制信号调整的所施加的磁场或电场来取向。

15.根据权利要求10所述的放射线检测器，其特征在于，

上述反射器具有调整上述反射器的反射率的单元。