[发明专利]癌治疗用密封小射线源的放射线强度测定装置有效

专利信息
申请号: 201380052691.3 申请日: 2013-10-02
公开(公告)号: CN104704389A 公开(公告)日: 2015-06-10
发明(设计)人: 阪间稔;生岛仁史;山田隆治;高井久司;市乐辉义 申请(专利权)人: 国立大学法人德岛大学;LSIP基金运营联合公司
主分类号: G01T1/167 分类号: G01T1/167;G01T7/00;A61N5/10
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 治疗 密封 射线 放射线 强度 测定 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及癌治疗用密封小射线源的放射线强度测定装置。更详细而言,涉及测定前列腺癌的密封小射线源治疗中使用的密封小射线源的放射线强度的癌治疗用密封小射线源的放射线强度测定装置。

背景技术

对前列腺癌的密封小射线源治疗主要通过将在钛制的囊(capsule)中密封有作为放射性物质的[碘125]的射线源(以下,简称为射线源)插入到前列腺中而进行。该射线源通常以在放射源盒(cartridge)中装填5个或15个的状态被供给,该放射源盒C在以灭菌状态密封于容器中的状态下被提供。此外,射线源S以使其轴方向一致(使其轴方向相互平行)的方式填充于放射源盒C内(参照第9图)。

但是,在密封小射线源治疗中,以密封于各射线源的放射性物质的放射能量相同为前提,根据各人的前列腺癌的状况来决定插入前列腺的射线源的数量和其插入位置。对于一次的密封小射线源治疗而言,插入的射线源的数量为50~150个左右。

但是,多个射线源中,存在放射能量与放射源盒的供应商的标称值不同的次品,一般数百个中存在1个左右、品质差的射线源则一百个中存在2个左右。例如,有可能包含几乎没有放射能的射线源或放射能量比标称值大的射线源等。在使用上述不良的射线源的情况下,产生照射线量不足而无法得到期待的治疗效果、相反照射线量过剩而对其它组织造成影响等问题,所以美国医学物理师学会(AAPM)推荐在各机关中测定预定使用射线源的至少10%,如果可能就测定全部。

本来应该在使用射线源的各设施中测定所有射线源的放射线强度,但在当前一般采用的使用电离箱(放射线测定器)的放射线强度测定方法中,必须逐个测定囊的放射能量。于是,存在如下(1)~(7)那样的缺点,所以实际上在各设施中测定所有射线源的放射线强度是非常困难的。

(1)需要从袋中取出以灭菌状态包装的放射源盒。

(2)需要从放射源盒中取出射线源。

(3)由于逐个测定射线源,所以需要非常大量的时间。

(4)需要将从放射源盒取出的射线源再次装填到放射源盒中。

(5)需要对再装填有射线源的放射源盒进行再次灭菌。

(6)(1)~(5)的作业中,难以避免操作者的手和手指的辐射曝露。

(7)需要专用的已校正电离箱。

因此,开发有一种在将射线源装填在放射源盒中的状态下测定各射线源的放射线强度的测定器(专利文献1)。

专利文献1的技术是关于测定射线源的放射线强度的测定器的技术,该测定器在内部具有收纳部,该收纳部收纳装填有密封小射线源的放射源盒,而且,设有从外部将放射源盒插入到收纳部的插入口和将收纳部与外部贯通的多个开口。

由于是上述结构,所以将放射源盒从插入口插入到测定器的收纳部,且以使多个开口与X射线胶片上抵接的方式将测定器配置在X射线胶片上。从各射线源放射的放射线分别经由对应的开口而漏出到测定器外,所以与测定器X接触的射线胶片会因漏出的放射线而感光,将各射线源的放射线强度的信息记录在X射线胶片上。因此,只要分析该X射线胶片上的记录,就能够得到期望的信息。

但是,专利文献1的测定器直接测定装填于放射源盒中的射线源,所以虽然有可能能够解决上述(2)~(4)的问题,但如果不从袋中取出以灭菌状态包装的放射源盒就不能测定,所以不能解决上述(1)、(5)的问题。

另外,专利文献1的测定器中,即使能够解决上述(2)~(4)的问题,也会因以下原因而产生放射线强度的测定精度降低的问题。

在专利文献1的测定器的情况下,测定器利用从多个开口h分别漏出的放射线使X射线胶片感光。因此,为了得到各射线源S的放射线强度的信息,必须以一个射线源与各开口h对应的方式,使多个射线源S的中心轴与多个开口h的中心轴的位置全部准确地对准。

但是,装填于放射源盒C的射线源S不是全部以相同的间隙装填,而在各个放射源盒C中射线源S的配置上会产生一些误差。例如,射线源S中,有时具有偏离平均线径的射线源S,还有时装填这样的射线源S。该情况下,在如图9(C)所示配合射线源S的平均线径(0.8mm)而等间隔地形成多个开口h的位置的情况下,根据射线源S不同,其中心轴和开口h的中心轴的位置产生偏差。于是,产生不能测定准确的放射线强度的射线源S,所以放射线强度的测定精度降低。

另一方面,开发有一种专利文献2的技术,作为解决现有方法的上述(1)~(7)问题的技术。

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