[发明专利]成像装置和成像方法有效
申请号: | 201380050926.5 | 申请日: | 2013-09-27 |
公开(公告)号: | CN104718744B | 公开(公告)日: | 2018-01-02 |
发明(设计)人: | 千田满;渡边慎一;川添大辅;南祐一郎 | 申请(专利权)人: | 索尼半导体解决方案公司 |
主分类号: | H04N5/374 | 分类号: | H04N5/374;H04N5/32;H04N5/357;H04N5/378;A61B6/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 田喜庆,刘瑞贤 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 成像 装置 方法 | ||
技术领域
本公开涉及通过使用诸如X射线或γ射线的放射线主要对拍摄对象的透视图像等进行拍摄的成像装置和成像方法。
背景技术
近年来,在医学领域中已经广泛地使用不仅能够将拍摄图像存储为数字数据而且还能够拍摄移动图像的放射线成像装置来代替使用胶片的所谓的X射线成像装置。
例如,放射线成像装置使用称为X射线的放射线。因此,相对于待拍摄的必需尽可能多地降低人体对X射线的暴光量。因此,期望的是检测X射线的成像部对X射线具有高敏感度并且具有高S/N比。
顺便提及,专利文献1是公开了被视为类似于本公开的技术的现有技术文献。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本未审查专利申请公开第2010-263483号
发明内容
放射线成像装置中的成像部可以由非晶硅TFT(薄膜晶体管)、低温多晶硅TFT等形成。具体地,为了改善诸如敏感度的各种性能,已经进行了采用低温多晶硅TFT的研究,该低温多晶硅TFT具有低于非晶硅TFT的导通电阻值的导通电阻值。
然而,虽然电阻值低于非晶硅TFT的电阻值,但是热噪声会干扰在敏感度方面的改善。因此,难以实现具有高敏感度的成像部。
因此,期望提供一种成像装置,其包括热噪声影响减小并且具有高敏感度的成像部,并且该成像装置利用诸如低量X射线的低量放射线实现实际成像性能。也期望提供成像方法。
本技术的实施方式的第一成像装置包括:光接收器件,被配置为接收光并且将所接收的光转换为光检测信号;像素晶体管,连接到光接收器件并且被配置为控制光接收器件和信号线之间的连接;低通滤波器,被配置为对光检测信号进行作用;A-D转换器,被配置为将低通滤波器的输出信号转换为数字数据;以及序列发生器。
序列发生器被配置为在低通滤波器对光检测信号进行有效作用的状态下,在使A-D转换器操作以输出数字数据之前,控制像素晶体管处于接通状态并且从而维持光接收器件连接至信号线。
本技术的实施方式的第二成像装置包括:光接收器件,被配置为接收光并且将所接收的光转换为光检测信号;像素晶体管,连接到光接收器件并且被配置为控制光接收器件和信号线之间的连接;低通滤波器,包括电容器并且被配置为对光检测信号进行作用;A-D转换器,被配置为将低通滤波器的输出信号转换为数字数据;采样保持电路,被配置为与低通滤波器共享电容器并且连接在低通滤波器和A-D转换器之间;以及序列发生器。
序列发生器被配置为在低通滤波器对光检测信号进行有效作用的状态下控制像素晶体管处于接通状态,在预定时间逝去之后,使采样保持电路执行保持操作同时保持像素晶体管被控制为处于接通状态的状态,使A-D转换器操作以输出数字数据,并且此后,控制像素晶体管断开。
本技术的实施方式的成像方法包括:控制像素晶体管被接通,像素晶体管被连接到光接收器件并且被配置为控制光接收器件和信号线之间的连接,并且光接收器件被配置为接收光并且将所接收的光转换为光检测信号;使低通滤波器对光检测信号进行操作;以及在预定时间逝去之后,使采样保持电路执行保持操作同时维持像素晶体管被控制为处于接通状态的状态,采样保持电路被配置为连接至低通滤波器。
根据本技术的实施方式的第一和第二成像装置以及成像方法,提供了较受热噪声影响减小并且具有高敏感度的成像部,并且能够利用诸如低量X射线的低量放射线实现实际成像性能。
通过实施方式的以下描述公开了除上述那些之外的问题、构造和效果。
附图说明
[图1]图1是涉及本公开的实施方式的放射线成像装置的框图。
[图2A]图2A是示出了成像部的外观的分解透视图。
[图2B]图2B是示出了成像部的外观的透视图。
[图2C]图2C是示出了成像部的外观的透视图。
[图3]图3是包括传感器阵列的信号处理部的框图。
[图4]图4是电荷放大器与采样保持电路的电路图。
[图5A]图5A是示出了在一个帧期间内通过栅极选择器输出的控制信号和通过X射线管产生的X射线的时序图。
[图5B]图5B是示出了在一个水平期间内通过栅极选择器输出的控制信号的时序图和模拟电路部分的操作状态。
[图6]图6是示出了通过序列发生器输出的控制信号的时序图和示出了第三运算放大器的输出信号中的仅噪声成分的曲线图。
[图7A]图7A是示出了关闭栅极的时间被改变的时序图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于索尼半导体解决方案公司,未经索尼半导体解决方案公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201380050926.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:摄像元件和摄像装置
- 下一篇:应要求投递电子邮件的方法以及电子邮件服务器