[发明专利]运用二维特征的侧向层析检测有效
申请号: | 201380046764.8 | 申请日: | 2013-07-17 |
公开(公告)号: | CN104619418B | 公开(公告)日: | 2017-09-05 |
发明(设计)人: | 布伦丹·奥法雷尔;托马斯·C·蒂森 | 申请(专利权)人: | SYMBOLICS有限责任公司 |
主分类号: | B01L3/00 | 分类号: | B01L3/00;G01N33/543;G01N33/558 |
代理公司: | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司11129 | 代理人: | 吴泳历 |
地址: | 美国加利福*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 运用 二维 特征 侧向 层析 检测 | ||
I.相关申请的交叉引用
本申请请求了2012年7月18日提交的名称为“运用二维特征的侧向层析检测”的美国临时申请61/673,156和2013年3月13日提交的名称为“运用二维特征的侧向层析检测”的美国发明专利申请13/802,036的优先权。通过引用将上述申请的内容全部并入本文。
II.技术领域
本发明涉及运用二维特征,优选均一的二维检测和对照特征的新型侧向层析装置,提供层析对照信息、充当内部对照和/或为所述检测装置提供内部校准信息。本发明还涉及利用所述侧向层析装置提供层析对照信息、充当内部对照和/或为所述检测装置提供内部校准信息的方法。
III.本发明的背景技术
侧向层析检测已经被开发并被用于各种用途。有必要使侧向层析检测具有改善的或更完整的对照和/或校准特征。本发明解决了这个必要以及现有技术中的相关需求。
IV.本发明的公开内容
一方面,本发明的公开内容提供了一种检测装置,所述装置包含基质上的多个试剂点,其中至少两个所述试剂点不重叠且彼此充分间隔,以便当液体沿着所述基质侧向层析时,朝向、经过和/或围绕所述两个试剂点中一个的所述液体的流动基本上不影响朝向、经过和/或围绕所述另一个试剂点的所述液体样品的流动,所述两个试剂点中的每一个既不是在垂直于所述液体层析方向的方向上横跨所述基质整个宽度的试剂线,也不是环绕所述检测装置的中心或样品/液体施加位点的试剂线组成的完整的圆,并且在液体沿所述检测装置侧向层析并通过所述至少两个试剂点后,在所述至少两个试剂点上形成检测信号从而提供层析对照信息,充当内部对照和/或为所述检测装置提供内部校准信息。
另一方面,本发明的公开内容提供了一种方法,所述方法包含:a)用上述检测装置接触液体,其中将所述液体施加到位于所述至少两个试剂点上游的所述检测装置的位点;b)向所述至少两个试剂点输送标记试剂;和c)在所述至少两个试剂点上估测由所述标记试剂产生的信号的出现、不出现、量和/或图案,从而提供层析对照信息,充当内部对照和/或为所述检测装置提供内部校准信息。
在一些实施例中,本检测装置可以进一步包含指示液体样品中分析物的存在、不存在和/或含量的检测位点,并且可将本方法用于进一步指示液体样品中分析物的存在、不存在和/或含量。任何适合的设计或装置,包括在2011年1月18日提交的美国临时申请61/461,499,2012年1月4日提交的美国专利申请13/343,681,和2012年1月17日提交的国际专利申请PCT/US2012/021586中公开和/或请求保护的设计或装置,可以与本设计或装置组合形成用于提供层析对照信息、充当内部对照和/或为所述检测装置提供内部校准信息的装置,并用来指示液体样品中分析物的存在、不存在和/或含量。同样,本方法也可以与在2011年1月18日提交的美国临时申请61/461,499,2012年1月4日提交的美国专利申请13/343,681和2012年1月17日提交的国际专利申请PCT/US2012/021586中公开和/或请求保护的方法结合,来提供层析对照信息,内部对照和/或为所述检测装置提供内部校准信息,用于指示液体样品中分析物的存在、不存在和/或含量。
本检测装置和方法的原理可被应用或适用于现有技术中公知的侧向层析检测装置和分析。例如,本检测装置和方法的原理可被应用或适用于美国专利3,641,235,3,959,078,3,966,897,4,094,647,4,168,146,4,299,916,4,347,312,4,366,241,4,391,904,4,425,438,4,517,288,4,960,691,5,141,875,4,857,453,5,073,484,4,695,554,4,703,017,4,743,560,5,075,078,5,591,645,5,656,448,RE 38,430E,5,602,040,6,017,767,6,319,676,6,352,862,6,485,982,5,120,643,4,956,302,RE 39,664E,5,252,496,5,514,602,7,238,538B2,7,175,992B2,6,770,487B2,5,712,170,5,275,785,5,504,013,6,156,271,6,187,269,6,399,398,7,317,532,EP 0,149,168A1,EP 0,323,605A1,EP 0,250,137A2,GB 1,526,708和WO99/40438中公开和/或请求保护的侧向层析检测装置和分析。
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