[发明专利]电子实体结构的动态产生和改变的方法有效
| 申请号： | 201380036231.1 | 申请日： | 2013-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN104704437B | 公开（公告）日： | 2019-02-05 |
| 发明（设计）人： | 戴维·科曼;埃夫拉伊姆·沙逊 | 申请（专利权）人： | 塞若纳提克有限公司 |
| 主分类号： | G06F1/02 | 分类号： | G06F1/02;G06F9/455 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 刘宇峰 |
| 地址： | 以色列*** | 国省代码： | 以色列;IL |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电子 实体 结构 动态 产生 改变 方法 | ||
1.一种用于改变或产生集成电路的结构的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
在所述集成电路中，分析所述集成电路的一个方面；所述方面是包括以下至少一个方面：安全、性能、可用性、环境、功能性和维持性方面；
在所述集成电路中，确定所述分析的结果；以及
在所述集成电路中，根据所述分析结果，改变或产生所述集成电路的结构，包括以下之一：改变构件在电路上的位置、以第二构件置换一个构件、连接构件、断开构件的连接、激活构件、使构件失活、改变构件的内部环境、注入信号；
所述构件包括以下组之一：晶体管、门电路、触发器、门闩。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述分析、所述确定和所述改变或产生是在所述集成电路中由动态功能执行的。
3.一种集成电路系统方法；所述集成电路系统方法包括实施者系统方法(201)和分析系统方法(203)；所述分析系统方法(203)是可操作地用于在所述集成电路内自动地分析所述集成电路的一个方面，确定所述分析的结果；所述实施者系统方法(201)是适用于在所述集成电路内自动地根据所述结果而改变或产生所述集成电路的结构，包括以下之一：改变构件在电路上的位置、以第二构件置换一个构件、连接构件、断开构件的连接、激活构件、使构件失活、改变构件的内部环境、注入信号；所述方面是包括以下至少一个方面：安全、性能、可用性、环境、功能性和维持性方面；其中，所述构件包括以下组之一：晶体管、门电路、触发器、门闩。
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